Carl Zeiss Microscopy GmbH Patente
🇩🇪 Deutschland
Deutscher Hersteller von Mikroskopen und Bildgebungssystemen für Forschung und Industrie, Teil der Zeiss-Gruppe.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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609 gesamt| Patent | |||
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26.05.2021
Teilchenstrahlsystem
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 11.02.2011
Erteilt am 26.05.2021
Vertretung
Diehl & Partner · München
Diehl & Partner GbR · München
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26.05.2021
Anordnung zur Lichtblattmikroskopie
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 13.11.2014
Erteilt am 26.05.2021
Vertretung
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26.05.2021
Filterhalter zur Partikelanalyse
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 10.10.2012
Erteilt am 26.05.2021
Vertretung
Scholze, Humbert · Jena
Müller, Silke · Jena
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20.05.2021
Mikroskop und Verfahren mit Ausführen eines Faltenden Neuronalen Netzes
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 13.11.2020
Anhängig
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19.05.2021
Mikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 17.09.2010
Erteilt am 19.05.2021
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14.05.2021
Variabler Probenhalter für die Korrelative Mikroskopie
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 27.10.2020
Anhängig
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05.05.2021
3D-Mikroskopie
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 01.03.2018
Erteilt am 05.05.2021
Vertretung
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05.05.2021
Bildumwandlungsmodul mit einem Mikroelektromechanischen Optischen System und Verfahren zur Anwendung davon
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 30.10.2019
Anhängig
Vertretung
Engel, Christoph Klaus · Suhl
BCKIP Part mbB · München
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22.04.2021
Lichtmikroskop und Verfahren zur Bildaufnahme mit einem Lichtmikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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14.04.2021
Anordnung und Verfahren zur Lichtblattmikroskopie
Optik & Fototechnik
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01.04.2021
Assembly of a laser ablation apparatus and laser ablation apparatus of such an assembly
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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Status
Angemeldet am 23.09.2020
Anhängig
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31.03.2021
Verfahren zur Kalibrierung eines digitalen optischen Gerätes und optisches Gerät
Optik & Fototechnik
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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31.03.2021
Verfahren und System zur Erhitzung des Spitzenapex einer Quelle für Geladene Partikel
Steuerungs- & Regelungstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.05.2010
Erteilt am 31.03.2021
Vertretung
Gnatzig, Klaus · Oberkochen
Carl Zeiss SMT GmbH · Oberkochen
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31.03.2021
Funktionsintegriertes Laser-Scanning-Mikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 22.05.2015
Anhängig
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31.03.2021
Mikroskop mit Geringem Verzeichnungsfehler
Optik & Fototechnik
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31.03.2021
Verfahren und Vorrichtungen zur Präparation mikroskopischer Proben mit Hilfe von gepulstem Licht
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 15.02.2013
Erteilt am 31.03.2021
Vertretung
Carl Zeiss AG - Patentabteilung · Oberkochen
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31.03.2021
Digitalmikroskop und Verfahren zur Optimierung des Arbeitsablaufes in einem Digitalmikroskop
Optik & Fototechnik
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Zusammenfassung
Die Erfindung betrifft ein Digitalmikroskop und ein Verfahren zur Optimierung eines Arbeitsablaufes in einem solchen Digitalmikroskop. Das Digitalmikroskop umfasst erfindungsgemäß mindestens einen ersten Überwachungssensor zur Beobachtung einer Probe (08), eines Probentisches (04), einer Optikeinheit (02) oder eines Benutzers und eine Überwachungseinheit. In dem erfindungsgemäßen Verfahren werden erste Beobachtungsdaten des ersten Überwachungssensors erfasst und in der Überwachungseinheit automatisch analysiert und ausgewertet, um Steuerdaten zu erzeugen und diese zur Steuerung des Arbeitsablaufs des Digitalmikroskops zu verwenden. |
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10.03.2021
Verfahren zur Kalibrierung eines digitalen optischen Abbildungssystems, Verfahren zur Korrektur von Abbildungsfehlern in einem digitalen optischen Abbildungssystem, sowie digitales optisches Abbildungssystem
Optik & Fototechnik
Software & Datenverarbeitung
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24.02.2021
Automatisches Fokussierverfahren für ein Optisches Instrument zum Vergrösserten Betrachten eines Objektes
Optik & Fototechnik
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03.02.2021
Automatisierte Abbildung Vorbestimmter Bereiche in Schnittserien
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 14.12.2011
Erteilt am 03.02.2021
Vertretung
Carl Zeiss AG - Patentabteilung · Oberkochen
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27.01.2021
Vorrichtung und Verfahren zum Räumlichen Hochauflösenden Abbilden einer Struktur einer Probe
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 03.02.2009
Erteilt am 27.01.2021
Vertretung
Hampe, Holger · Jena
Loritz, Rainer · Jena
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20.01.2021
Anordnung zur Lichtblattmikroskopie
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 27.03.2015
Erteilt am 20.01.2021
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06.01.2021
Schieber zum Einschieben in den Beobachtungsstrahlengang eines Mikroskops
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 27.02.2012
Erteilt am 06.01.2021
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30.12.2020
System zum Zuführen von mehreren Reaktiven Prozessgasen zu einer Verarbeitungsstelle eines Teilchenstrahlgeräts
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 23.01.2013
Erteilt am 30.12.2020
Vertretung
Diehl & Partner · München
Diehl & Partner GbR · München
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24.12.2020
Beleuchtungseinheit für Mikroskope
Optik & Fototechnik
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 14.05.2020
Anhängig
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23.12.2020
Mikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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16.12.2020
Multifokales Fluoreszenzrastermikroskop
Optik & Fototechnik
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02.12.2020
Planapochromatisch korrigiertes Mikroskopobjektiv
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 10.10.2012
Erteilt am 02.12.2020
Vertretung
Scholze, Humbert · Jena
Müller, Silke · Jena
Zusammenfassung
Die Erfindung betrifft ein planapochromatisch korrigiertes Immersions- Mikroskopobjektiv für hochauflösende Mikroskopieanwendungen mit wechselnden dispersiven Immersionsverhältnissen, welches aus mehreren Linsen und/oder Linsengruppen umfassenden Teilsystemen (T1,T2,T3) zusammengesetzt ist und eine Korrekturfunktion (LA2) zur Beseitigung sphärischer Aberrationen besitzt. Erfindungsgemäß weist das Mikroskopobjektiv eine weitere Korrekturfunktion (LA1) zur Beseitigung von Farblängsfehlern infolge dispersiver Änderungen in der Immersion durch Veränderung von Luftabständen zwischen den Linsen oder Abstandskombinationen auf, wobei die Einflussnahme auf den Farblängsfehler einer Drehung der Kurve s(»), welche die Abhängigkeit des Farbortes (s) von der Wellenlänge (») beschreibt, entspricht. |
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28.10.2020
Funktionsintegriertes Laser-Scanning-Mikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 22.05.2015
Erteilt am 28.10.2020
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07.10.2020
Vorrichtung und Verfahren zur Erfassung von Oberflächentopographien
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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16.09.2020
Verfahren zur Erzeugung einer Zoomfolge und Mikroskopsystem, das zur Durchführung des Verfahrens Ausgestaltet Ist
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 27.03.2015
Erteilt am 16.09.2020
Vertretung
Diehl & Partner · München
Diehl & Partner GbR · München
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02.09.2020
Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen eines Kritischen Winkels eines Anregungslichtstrahls
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 04.04.2013
Erteilt am 02.09.2020
Vertretung
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02.09.2020
Hochauflösende Scanning-Mikroskopie
Optik & Fototechnik
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12.08.2020
Geladenes Teilchenstrahlsystem und Verfahren zum Betrieb davon
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 30.09.2014
Erteilt am 12.08.2020
Vertretung
Diehl & Partner · München
Diehl & Partner GbR · München
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05.08.2020
Vorrichtung und Verfahren zur Lichtmodulation
Optik & Fototechnik
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 24.06.2016
Erteilt am 05.08.2020
Vertretung
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05.08.2020
Verfahren und Vorrichtung zur Weiterleitung von Daten
Software & Datenverarbeitung
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 24.11.2015
Erteilt am 05.08.2020
Vertretung
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29.07.2020
Laser-Scanning-Mikroskop mit Umschaltbarer Betriebsweise
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 29.09.2011
Erteilt am 29.07.2020
Vertretung
Loritz, Rainer · Jena
Hampe, Holger · Jena
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16.07.2020
Winkelvariable Beleuchtung zur Phasenkontrast-Bildgebung mit Absorptionsfilter
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 08.01.2020
Anhängig
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15.07.2020
Optikanordnung und Lichtmikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 02.08.2013
Erteilt am 15.07.2020
Vertretung
Loritz, Rainer · Jena
Loritz, Rainer · Jena
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01.07.2020
Mikroskopobjektiv und Mikroskop mit einem Solchen Objektiv
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 06.08.2018
Anhängig
Vertretung
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