Carl Zeiss Microscopy GmbH Patente
🇩🇪 Deutschland
Deutscher Hersteller von Mikroskopen und Bildgebungssystemen für Forschung und Industrie, Teil der Zeiss-Gruppe.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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609 gesamt| Patent | |||
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01.07.2020
Mikroskopobjektiv und Mikroskop mit einem Solchen Objektiv
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 06.08.2018
Anhängig
Vertretung
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25.06.2020
Verfahren zum Betrieb einer Probenkammer für eine Mikroskopische Bildgebung sowie Vorrichtung und Probenkammer
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 02.12.2019
Anhängig
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17.06.2020
Partikelstrahlsysteme und -verfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 06.08.2010
Erteilt am 17.06.2020
Vertretung
Diehl & Partner · München
Diehl & Partner GbR · München
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11.06.2020
Verfahren und Vorrichtung zum Nachweis von Fluoreszenzsignalen in einer Dreidimensionalen Region einer Probe
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 02.12.2019
Anhängig
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03.06.2020
Verfahren und Anordnung zur Optischen Erfassung einer Beleuchteten Probe
Optik & Fototechnik
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03.06.2020
Mikroskop und Verfahren zur Spim Mikroskopie
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 26.06.2013
Erteilt am 03.06.2020
Vertretung
Loritz, Rainer · Jena
Hampe, Holger · Jena
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27.05.2020
Vorrichtung und Verfahren zur Dreidimensionalen Abbildung eines Objekts
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 08.09.2015
Erteilt am 27.05.2020
Vertretung
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27.05.2020
Verfahren zur Bestimmung und Kompensation Geometrischer Abbildungsfehler
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 03.06.2016
Erteilt am 27.05.2020
Vertretung
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07.05.2020
Mikroskop und Verfahren zur Mikroskopie
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 23.10.2019
Anhängig
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06.05.2020
Laser-Mikrodissektionsverfahren und Laser-Mikrodissektionsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 21.03.2012
Erteilt am 06.05.2020
Vertretung
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30.04.2020
Vorrichtung und Verfahren zum Aufbringen eines Flüssigen Immersionsmittels in einen Spalt zwischen einem Mikroskopobjektiv und einer zu Mikroskopierenden Probe
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 17.10.2019
Anhängig
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30.04.2020
Immersionsmittelaufbringung mittels einer Strahldüse
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 17.10.2019
Anhängig
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29.04.2020
Verfahren und Systeme für Isotopenionenmikroskopie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 26.05.2009
Erteilt am 29.04.2020
Vertretung
Gnatzig, Klaus · Oberkochen
Carl Zeiss SMT GmbH · Oberkochen
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22.04.2020
Verfahren zum Generieren eines Reflexionsreduzierten Kontrastbildes und Diesbezügliche Vorrichtungen
Optik & Fototechnik
Software & Datenverarbeitung
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22.04.2020
Vorrichtung und Verfahren zur Durchlichtbeleuchtung für Lichtmikroskope und Mikroskopsystem
Optik & Fototechnik
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08.04.2020
Hochauflösende 2D-Mikroskopie mit Verbesserter Schnittdicke
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 16.08.2018
Erteilt am 08.04.2020
Vertretung
Zusammenfassung
Es wird beschrieben ein Verfahren zur hochauflösenden 2D-Scanning-Mikroskopie einer Probe (P), wobei die Probe (P) mit Beleuchtungsstrahlung derart beleuchtet wird, dass die Beleuchtungsstrahlung (B) an einem Punkt in oder auf der Probe (P) zu einem beugungsbegrenzten Beleuchtungsfleck (14) gebündelt wird, wobei der Punkt beugungsbegrenzt in ein Beugungsbild (18) auf einen ortsauflösenden Flächendetektor (17) abgebildet wird und der Flächendetektor (17) eine Ortsauflösung aufweist, die eine Beugungsstruktur (18a) des Beugungsbildes (18) auflöst, wobei weder eine Abbildungs-Punktbildverwaschungsfunktion noch eine Beleuchtungs-Punktbildverwaschungsfunktion zum Erzeugen einer Asymmetrie manipuliert wird, der Punkt relativ zur Probe (P) in verschiedene Scanpositionen mit einer Schrittweite verschoben wird, die kleiner ist als der halbe Durchmesser des Beleuchtungsflecks (14), wobei mehrere Scanpositionen bei einer festen z-Lage einer Fokalebene der Abbildung abgefahren werden, der Flächendetektor (17) ausgelesen und aus den Daten des Flächendetektors (17) und aus den diesen Daten zugeordneten Scanpositionen ein 2D-Bild der Probe (P) erzeugt wird, das eine Auflösung aufweist, die über eine Auflösungsgrenze der Abbildung gesteigert ist, wobei mit den Daten des Flächendetektors (17) zu den mehreren Scanpositionen bei der festen z-Lage der Fokalebene eine dreidimensionale Rekonstruktion durchgeführt wird, die ein vorläufiges tiefenaufgelöstes 3D-Bild liefert, eine reduzierte Schnittdicke festgelegt wird oder vorbestimmt ist, die geringer ist als eine Schnittdicke, die sich durch das Abbilden ergibt, im vorläufigen tiefenaufgelösten 3D-Bild nur Anteile selektiert werden, die innerhalb der reduzierten Schnittdicke um die feste z-Lage der Fokalebene liegen, und Anteile, die außerhalb der reduzierten Schnittdicke um die feste z-Lage der Fokalebene liegen, verworfen werden, um das 2D-Bild zu erzeugen. |
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01.04.2020
Verfahren zur Reflexionskorrektur von Abbildungen und Diesbezügliche Vorrichtungen
Software & Datenverarbeitung
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01.04.2020
Teilchenstrahlmikroskop zur Erzeugung von Materialdaten und Verfahren zum Betrieb eines solchen Mikroskops
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 11.09.2013
Erteilt am 01.04.2020
Vertretung
Diehl & Partner GbR · München
Diehl & Partner · München
Zusammenfassung
In a method of operating a particle beam microscopy, a particle beam is scanned across a scanning region of a surface of the object. Particles are detected by a detector system for a plurality of impingement locations of the primary beam within the scanning region. A detector system generates detector signals which represent for each of the impingement locations an intensity of the detected particles. Material data of the interaction regions are calculated depending on the detector signals and depending on topography data, which represent a topography of the object surface in the scanning region. For this purpose, the particle beam microscope comprises a computing system which is configured to calculate the matrial data. |
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26.03.2020
Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung eines Bildes eines Objekts mit einem Scanmikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 04.09.2019
Anhängig
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18.03.2020
Verfahren zum Positionieren von Biologischen Proben in einer Mikroskopischen Anordnung und Vorrichtungen zum Ausführen Dieser Verfahren
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 18.09.2008
Erteilt am 18.03.2020
Vertretung
Hampe, Holger · Jena
Meyer, Jork · Jena
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18.03.2020
Laserscanningmikroskop und Verfahren zur Korrektur von Abbildungsfehlern bei einer Laser-Scanning-Mikroskopie
Optik & Fototechnik
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11.03.2020
Multispektrale Beleuchtungsvorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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04.03.2020
Bildaufnahmevorrichtung und Verfahren zur Bildaufnahme
Software & Datenverarbeitung
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 27.08.2015
Erteilt am 04.03.2020
Vertretung
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04.03.2020
Scanmikroskop und Verfahren zum Bestimmung der Punkt-Spreiz-Funktion (psf) eines Scanmikroskops
Optik & Fototechnik
Software & Datenverarbeitung
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27.02.2020
Verfahren zur Anpassung Optischer Eigenschaften einer Immersionsmischung sowie Immersionsmischungen und deren Komponenten
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 13.08.2019
Anhängig
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26.02.2020
Mikroskop mit erhöhter Auflösung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 25.05.2007
Erteilt am 26.02.2020
Vertretung
Hampe, Holger · Jena
Geyer, Fehners & Partner · München
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26.02.2020
Verfahren, Vorrichtung und Computerlesbares Speichermedium zum Visuellen Lehren
Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik
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Status
Angemeldet am 21.08.2019
Anhängig
Vertretung
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12.02.2020
Optikanordnung und Lichtmikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 02.08.2013
Erteilt am 12.02.2020
Vertretung
Loritz, Rainer · Jena
Loritz, Rainer · Jena
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12.02.2020
FIB-SEM Array Tomographie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 30.07.2014
Erteilt am 12.02.2020
Vertretung
Carl Zeiss AG - Patentabteilung · Oberkochen
Zusammenfassung
Die vorliegende Erfindung betrifft Verfahren und Vorrichtungen zur vergrößerten Abbildung von dreidimensionalen Proben, wobei das Verfahren folgende Schritte umfasst: - Abbilden von Probenschnitten einer Probenschnittserie mittels einer ersten teilchenoptischen Vorrichtung, wobei Koordinaten der abgebildeten Probenstelle erfasst und derart gespeichert werden, dass die Koordinaten der abgebildeten Probenstelle der jeweiligen Abbildung dieser Probenstelle zuordenbar sind - Auswählen eines interessierenden Volumens (VOI) - Übertragen der Koordinaten des ausgewählten VOI in eine zweite teilchenoptische Vorrichtung - Abbilden des ausgewählten VOI mittels der zweiten teilchenoptischen Vorrichtung, wobei mehrere Ebenen eines Probenschnitts abgebildet werden, um eine 3D-Abbildung des ausgewählten VOI zu erhalten. |
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05.02.2020
Bildaufnahmevorrichtung mit einer Verschiebeeinrichtung für ein Digitalmikroskop und Digitalmikroskop
Optik & Fototechnik
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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05.02.2020
Geladenes Teilchenstrahlsystem und Verfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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29.01.2020
Verfahren und Vorrichtung zum Abbilden eines Objekts
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 20.07.2015
Erteilt am 29.01.2020
Vertretung
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23.01.2020
Verfahren zur Bestimmung von Dicke und Brechzahl einer Schicht
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 17.07.2019
Anhängig
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22.01.2020
Vorrichtung und Verfahren zur Durchlichtbeleuchtung für Lichtmikroskope und Mikroskopsystem
Optik & Fototechnik
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15.01.2020
Mikroskopisches Verfahren und Mikroskop mit gesteigerter Auflösung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 22.10.2010
Erteilt am 15.01.2020
Vertretung
Hampe, Holger · Jena
Geyer, Fehners & Partner · München
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15.01.2020
Anordnung zur Lichtblattmikroskopie
Optik & Fototechnik
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02.01.2020
Inspektionssystem und Inspektionsverfahren zur Qualifizierung von Halbleiterstrukturen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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02.01.2020
Verfahren zum Erzeugen eines Übersichtsbilds unter Verwendung eines Hochaperturigen Objektivs
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 04.06.2019
Anhängig
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01.01.2020
Lichtmikroskop und Mikroskopieverfahren
Optik & Fototechnik
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01.01.2020
Auswertung von Signalen der Fluoreszenzrastermikroskopie unter Verwendung eines Konfokalen Laserscanning-Mikroskops
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Wer vertritt Carl Zeiss Microscopy GmbH?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Carl Zeiss Microscopy GmbH vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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