Carl Zeiss Microscopy GmbH Patente
🇩🇪 Deutschland
Deutscher Hersteller von Mikroskopen und Bildgebungssystemen für Forschung und Industrie, Teil der Zeiss-Gruppe.
609
Patente
2000–2025
Anmeldejahre
26
Aktive Jahre
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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609 gesamt| Patent | |||
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09.05.2019
Reduktion von Bildstörungen in Bildern
Optik & Fototechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 06.11.2018
Anhängig
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24.04.2019
Verfahren zum Betrieb eines Teilchenstrahlgerätes
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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04.04.2019
Verfahren und Vorrichtung zur Optischen Untersuchung einer Vielzahl Mikroskopischer Proben
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 25.09.2018
Anhängig
Vertretung
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03.04.2019
Verfahren zum Anbringen von Schutzstrukturen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 05.02.2010
Erteilt am 03.04.2019
Vertretung
Diehl & Partner · München
Diehl & Partner GbR · München
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03.04.2019
Verfahren zum Betreiben eines konfokales Laser-Scanning-Mikroskops mit einstellbarem Pinhole in Form einer matrixartigen Verteilung einzeln auslesbarer Empfängerelemente
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 16.12.2011
Erteilt am 03.04.2019
Vertretung
Meyer, Jork · Jena
Hampe, Holger · Jena
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03.04.2019
Verfahren und Anordnung zur Lichtblattmikroskopie
Optik & Fototechnik
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 19.02.2015
Erteilt am 03.04.2019
Vertretung
Loritz, Rainer · Jena
Meyer, Jork · Jena
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27.03.2019
Verfahren zur Bearbeitung einer Masse mittels Laserbestrahlung und Steuersystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 30.03.2005
Erteilt am 27.03.2019
Vertretung
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21.03.2019
Bestimmung von Aberrationen mittels Winkel-Variabler Beleuchtung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 13.09.2018
Anhängig
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20.03.2019
Lichtmikroskop und Mikroskopieverfahren
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 06.11.2013
Erteilt am 20.03.2019
Vertretung
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13.03.2019
Digitales Mikroskop mit einem Objektiv und mit einem Bildsensor
Optik & Fototechnik
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13.03.2019
Ionquellen, Systeme und Verfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 15.11.2006
Erteilt am 13.03.2019
Vertretung
Carl Zeiss AG - Patentabteilung · Oberkochen
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06.03.2019
Verfahren zur Bearbeitung und/oder Analyse einer Probe mit einem Teilchenstrahlgerät
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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28.02.2019
Scannende Immersionsmikroskopie
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 08.08.2018
Anhängig
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28.02.2019
Optische Anordnung zum Scannen von Anregungsstrahlung Und/oder Manipulationsstrahlung in einem Laser-Scanning-Mikroskop und Laser-Scanning-Mikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 23.08.2018
Anhängig
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28.02.2019
Optische Anordnung zum Scannen von Anregungsstrahlung Und/oder Manipulationsstrahlung in einem Laser-Scanning-Mikroskop und Laser-Scanning-Mikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 23.08.2018
Anhängig
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28.02.2019
Optische Anordnung zum Scannen von Anregungsstrahlung Und/oder Manipulationsstrahlung in einem Laser-Scanning-Mikroskop und Laser-Scanning-Mikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 23.08.2018
Anhängig
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27.02.2019
Autofokusverfahren für Mikroskop und Mikroskop mit Autofokuseinrichtung
Optik & Fototechnik
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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20.02.2019
Verfahren und Anordnung zur Detektierung von Lichtsignalen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 26.06.2007
Erteilt am 20.02.2019
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13.02.2019
SACP-Verfahren und teilchenoptisches System zur Durchführung des Verfahrens
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 09.11.2010
Erteilt am 13.02.2019
Vertretung
Diehl & Partner · München
Diehl & Partner GbR · München
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06.02.2019
Vorrichtung und Verfahren zur Multispot-Scanning-Mikroskopie
Optik & Fototechnik
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17.01.2019
Adapter zur Verwendung mit einem Probenhalter sowie Verfahren zum Anordnen einer Probe in einem Detektionsstrahlengang eines Mikroskops
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 28.06.2018
Anhängig
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17.01.2019
Flackern bei Winkel-Variabler Beleuchtung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 15.06.2018
Anhängig
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10.01.2019
Digitale Bestimmung der Fokusposition
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 21.06.2018
Anhängig
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03.01.2019
Mikroskop und Verfahren zum Mikroskopieren einer Probe unter einem Veränderbaren Mechanischen Parameter
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 11.05.2018
Anhängig
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02.01.2019
Ionenquellen, Systeme und Verfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 15.11.2006
Erteilt am 02.01.2019
Vertretung
Carl Zeiss AG - Patentabteilung · Oberkochen
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02.01.2019
Fluoreszenzmikroskop mit Phasenmaske
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 22.09.2009
Erteilt am 02.01.2019
Vertretung
Loritz, Rainer · Jena
Hampe, Holger · Jena
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02.01.2019
Mikroskop und Mikroskopierverfahren
Optik & Fototechnik
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02.01.2019
Konfokales Lasermikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 09.02.2008
Erteilt am 02.01.2019
Vertretung
Meyer, Jork · Jena
Hampe, Holger · Jena
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27.12.2018
Hochauflösende Scanning-Mikroskopie mit der Unterscheidung mindestens Zweier Wellenlängenbereiche
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 21.06.2018
Anhängig
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26.12.2018
Verfahren und Anordnung zur Lichtblattmikroskopischen Untersuchung einer Probe
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 11.03.2016
Erteilt am 26.12.2018
Vertretung
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26.12.2018
Ionenstrahlstabilisierung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 27.08.2009
Erteilt am 26.12.2018
Vertretung
Carl Zeiss AG - Patentabteilung · Oberkochen
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06.12.2018
Verfahren zur Erzeugung und Analyse eines Üebersichtskontrastbildes
Optik & Fototechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 15.05.2018
Anhängig
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29.11.2018
Verfahren und Adapter zur Adaption eines Mikroskopobjektivs an ein Digitalmikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 18.05.2018
Anhängig
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21.11.2018
Optische Ladungsteilchenvorrichtung mit einem selektiv positionierbaren Differenzdruckmodul
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.05.2014
Erteilt am 21.11.2018
Vertretung
Diehl & Partner · München
Diehl & Partner GbR · München
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21.11.2018
Tubuslinseneinheit
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 29.07.2014
Erteilt am 21.11.2018
Vertretung
Müller, Silke · Jena
Scholze, Humbert · Jena
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08.11.2018
Mikroskopsystem und Verfahren zur Zeitsteuerung von Abläufen in einem Mikroskopsystem
Optik & Fototechnik
Software & Datenverarbeitung
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08.11.2018
Bestimmen von Kontextinformation für Wechselkomponenten eines Optischen Systems
Optik & Fototechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 23.04.2018
Anhängig
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08.11.2018
Mikroskopsystem und Verfahren zum Betreiben eines Mikroskopsystems
Optik & Fototechnik
Software & Datenverarbeitung
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08.11.2018
Light microscope and method for providing structured illumination light
Optik & Fototechnik
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07.11.2018
Geladenes Teilchenstrahlsystem und Verfahren zum Betrieb davon
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 30.09.2014
Erteilt am 07.11.2018
Vertretung
Diehl & Partner · München
Diehl & Partner GbR · München
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Wer vertritt Carl Zeiss Microscopy GmbH?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Carl Zeiss Microscopy GmbH vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
Zum Anmelder-ProfilTechnologiefelder
Optik & Fototechnik
408
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
182
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
123
Software & Datenverarbeitung
69
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
25
Elektrische Energietechnik
10
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
6
Verfahrens- & Trenntechnik
5
Metallurgie & Oberflächentechnik
3
Steuerungs- & Regelungstechnik
3
Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik
3
Elektronik & Schaltungstechnik
3