Carl Zeiss Microscopy GmbH Patente
🇩🇪 Deutschland
Deutscher Hersteller von Mikroskopen und Bildgebungssystemen für Forschung und Industrie, Teil der Zeiss-Gruppe.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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609 gesamt| Patent | |||
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05.12.2019
Verfahren zum Scannen von Teilbereichen einer Probe mittels eines Rastermikroskops, Computerprogrammprodukt, Computerlesbares Medium und System zum Scannen von Teilbereichen einer Probe mittels eines Rastermikroskops
Optik & Fototechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 29.05.2019
Anhängig
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05.12.2019
Verfahren zur Beleuchtung von Proben in Mikroskopischen Abbildungsverfahren
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 24.05.2019
Anhängig
Vertretung
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04.12.2019
Lichtmikroskop und Verfahren zum Bestimmen einer Wellenlängenabhängigen Brechzahl eines Probenmediums
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 11.10.2016
Erteilt am 04.12.2019
Vertretung
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27.11.2019
Vorrichtung zum Ausbilden eines Immersionfilmes
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 11.06.2014
Erteilt am 27.11.2019
Vertretung
Müller, Silke · Jena
Scholze, Humbert · Jena
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06.11.2019
Verfahren zum Erzeugen von Bildern mit Erweitertem Dynamikumfang und Optisches Gerät zur Durchführung eines Solchen Verfahrens, insbesondere Laser-Scanning-Mikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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31.10.2019
Optikanordnung und Verfahren zur Lichtstrahlformung für ein Lichtmikroskop
Optik & Fototechnik
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31.10.2019
Optikanordnung zur Flexiblen Mehrfarbbeleuchtung für ein Lichtmikroskop und Verfahren Hierzu
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 11.04.2019
Anhängig
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31.10.2019
Optikanordnung und Verfahren zur Lichtstrahlformung für ein Lichtmikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 11.04.2019
Anhängig
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30.10.2019
Verfahren zur Scanning-Mikroskopie und Scanning-Mikroskop
Optik & Fototechnik
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24.10.2019
Adapter für ein Objektiv, Vorrichtung zum Halten des Adapters und Stellvorrichtung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 25.03.2019
Anhängig
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23.10.2019
Verfahren zur Massenspektrometrischen Prüfung von Gasgemischen und Massenspektrometer dafür
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 27.01.2014
Erteilt am 23.10.2019
Vertretung
Kohler Schmid Möbus Patentanwälte · Reutlingen
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23.10.2019
Verfahren zur Vorbereitung und Durchführung der Aufnahme von Bildstapeln einer Probe aus Verschiedenen Orientierungswinkeln
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 24.06.2013
Erteilt am 23.10.2019
Vertretung
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23.10.2019
Verfahren zum Auswerten von Fluoreszenzereignissen in einem Mikroskopbild
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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16.10.2019
Verfahren zur Detektion Geladener Partikel und Partikelstrahlvorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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02.10.2019
Verfahren und System zur Durchführung einer EDS-Analyse
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 29.08.2014
Erteilt am 02.10.2019
Vertretung
Diehl & Partner GbR · München
Diehl & Partner · München
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02.10.2019
Bildaufnahmevorrichtung und Verfahren zur Bildaufnahme
Optik & Fototechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 27.08.2015
Erteilt am 02.10.2019
Vertretung
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12.09.2019
Mikroskop und Verfahren zum Mikroskopieren einer Probe für die Darstellung von Bildern mit Erweiterter Schärfentiefe oder Dreidimensionalen Bildern
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 26.02.2019
Anhängig
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12.09.2019
Kameramodul für ein Mikroskop und Verfahren zu dessen Betrieb
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 06.03.2019
Anhängig
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11.09.2019
Verfahren zur Bestimmung der Dicke einer Probenhalterung im Strahlengang eines Mikroskops
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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06.09.2019
Verfahren zum Aufteilen eines oder mehrerer Bilder einer Probe in nach Farbstoffen Aufgeteilte Bilddaten, Computerprogrammprodukt, Computerlesbares Medium, auf dem das Computerprogrammprodukt Gespeichert Ist, und System zum Aufteilen eines oder mehrerer Bilder einer Probe in nach Farbstoffen Aufgeteilte Bilddaten
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 25.02.2019
Anhängig
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06.09.2019
Digitales Mikroskop und Verfahren zum Verändern einer Vergrößerung eines Digitalen Mikroskops
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 19.02.2019
Anhängig
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21.08.2019
Probenmanipulator, Ionenquellen sowie Systeme und Verfahren zu deren Verwendung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 15.11.2006
Erteilt am 21.08.2019
Vertretung
Carl Zeiss AG - Patentabteilung · Oberkochen
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21.08.2019
Ionenquellen sowie Systeme und Verfahren zu deren Anwendung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 15.11.2006
Erteilt am 21.08.2019
Vertretung
Carl Zeiss AG - Patentabteilung · Oberkochen
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14.08.2019
Fluoreszenzmikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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01.08.2019
Durchlichtmikroskop mit Zusatzbeleuchtungsmodul
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 16.01.2019
Anhängig
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31.07.2019
Verfahren zur hochauflösenden 3D-Lokalisierungsmikroskopie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 13.12.2013
Erteilt am 31.07.2019
Vertretung
Loritz, Rainer · Jena
Hampe, Holger · Jena
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10.07.2019
Mikroskop und Verfahren zur Spim-Mikroskopie
Optik & Fototechnik
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10.07.2019
Mikrodissektionsverfahren und Mikrodissektionssystem
Verfahrens- & Trenntechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 20.12.2006
Erteilt am 10.07.2019
Vertretung
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10.07.2019
Verstelleinrichtung einer Probenhalterung und Mikroskop mit Verstelleinrichtung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 13.02.2017
Erteilt am 10.07.2019
Vertretung
Meyer, Jork · Jena
Loritz, Rainer · Jena
Zusammenfassung
Die Erfindung betrifft eine Verstelleinrichtung (1) einer Probenhalterung (6) umfassend: eine Basis (2) mit darauf angeordneten Antrieben (5.1 bis 5.3), einen Träger (3), der mittels der Antriebe (5.1 bis 5.3), verstellbar ist und der zur Aufnahme der Probenhalterung (6) ausgebildet ist; je Antrieb (5.1 bis 5.3) ein Koppelelement (4.1 bis 4.3), das zur Verbindung von Basis (2) und Träger (3) ausgebildet ist, wobei jedes Koppelelement (4.1 bis 4.3) sowohl mindestens einen linearen Freiheitsgrad als auch einen rotatorischen Freiheitsgrad aufweist. Gekennzeichnet ist die Verstelleinrichtung (1) dadurch, dass der Träger (3) mittels der Koppelemente (4.1 bis 4.3) entlang jeweils einer von dem Koppelement (4.1, 4.2, 4.3) auf den Träger (3) gerichteten Bewegungsachse (A1, A2, A3) linear bewegbar ist. Die Erfindung betrifft weiterhin ein Mikroskop (10) umfassend eine Verstelleinrichtung (1) sowie ein Verfahren zur Einstellung der Ausrichtung einer Probenhalterung (6). |
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27.06.2019
Sekundärelektronenvervielfacher und dessen Verwendung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 03.12.2018
Anhängig
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26.06.2019
Verfahren und Anordnung zur Optischen Erfassung einer Beleuchteten Probe
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 26.09.2008
Erteilt am 26.06.2019
Vertretung
Hampe, Holger · Jena
Loritz, Rainer · Jena
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19.06.2019
Verfahren und Vorrichtung zur Rekonstruktion von Bildern
Optik & Fototechnik
Software & Datenverarbeitung
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12.06.2019
Verfahren zur Bestimmung einer Höhenlage eines Objekts
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 13.12.2016
Erteilt am 12.06.2019
Vertretung
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05.06.2019
Mikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 10.12.2008
Erteilt am 05.06.2019
Vertretung
Loritz, Rainer · Jena
Hampe, Holger · Jena
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22.05.2019
Optische Partikelsysteme und Anordnungen und optische Partikelkomponenten für solche Systeme und Anordnungen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 07.09.2004
Erteilt am 22.05.2019
Vertretung
Diehl & Partner GbR · München
Diehl & Partner · München
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22.05.2019
Optisches Übertragungssystem und Mikroskop mit einem Solchen Übertragungssystem
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 13.11.2014
Erteilt am 22.05.2019
Vertretung
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22.05.2019
Optische Partikelsysteme und Anordnungen und optische Partikelkomponenten für solche Systeme und Anordnungen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 07.09.2004
Erteilt am 22.05.2019
Vertretung
Diehl & Partner · München
Diehl & Partner GbR · München
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22.05.2019
Optische Partikelsysteme und Anordnungen und optische Partikelkomponenten für solche Systeme und Anordnungen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 07.09.2004
Erteilt am 22.05.2019
Vertretung
Diehl & Partner · München
Diehl & Partner GbR · München
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22.05.2019
Optische Partikelsysteme und Anordnungen und optische Partikelkomponenten für solche Systeme und Anordnungen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 07.09.2004
Erteilt am 22.05.2019
Vertretung
Diehl & Partner · München
Diehl & Partner GbR · München
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22.05.2019
Optische Partikelsysteme und Anordnungen und optische Partikelkomponenten für solche Systeme und Anordnungen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 07.09.2004
Erteilt am 22.05.2019
Vertretung
Diehl & Partner · München
Diehl & Partner GbR · München
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Wer vertritt Carl Zeiss Microscopy GmbH?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Carl Zeiss Microscopy GmbH vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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