Carl Zeiss Microscopy GmbH Patente

🇩🇪 Deutschland

Deutscher Hersteller von Mikroskopen und Bildgebungssystemen für Forschung und Industrie, Teil der Zeiss-Gruppe.

609

Patente

2000–2025

Anmeldejahre

Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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609 gesamt

Anmeldejahr

Veröffentlicht	Patent	Land
07.11.2018	07.11.2018 Geladenes Teilchenstrahlsystem und Verfahren zum Betrieb davon EP3053183 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 30.09.2014 Erteilt am 07.11.2018 Vertretung Diehl & Partner · München Diehl & Partner GbR · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
01.11.2018	01.11.2018 Phasenkontrast-Bildgebung mit Übertragungsfunktion WO2018197230 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 12.04.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
01.11.2018	01.11.2018 Verfahren und Vorrichtung zur Regelung von in eine Lochblende Eingestrahlten Intensitäten Und/oder Spektralen Anteilen einer Strahlung WO2018197556 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 25.04.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
31.10.2018	31.10.2018 Verfahren zum Bearbeiten und/oder zum Beobachten eines Objekts sowie Teilchenstrahlgerät zur Durchführung des Verfahrens EP2840588 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 18.08.2014 Erteilt am 31.10.2018 Vertretung Tongbhoyai, Martin · Köln Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
31.10.2018	31.10.2018 Vorrichtung und Verfahren zur Bildaufnahme EP3394656 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.12.2016 Anhängig Vertretung Sticht, Andreas · München Kraus & Weisert Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
24.10.2018	24.10.2018 Mikroskopobjektiv mit Grossem Arbeitsabstand EP2616867 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 08.08.2011 Erteilt am 24.10.2018 Vertretung Patentanwälte Geyer, Fehners & Partner mbB · München Geyer, Fehners & Partner · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
18.10.2018	18.10.2018 Mikroskopsystem und Verfahren zum Betreiben eines Mikroskopsystems WO2018188978 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 29.03.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
11.10.2018	11.10.2018 Mikroskopanordnung zur Aufnahme und Darstellung Dreidimensionaler Bilder einer Probe WO2018185201 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 05.04.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.10.2018	04.10.2018 Übertragung von Daten in einem Optischen System WO2018177950 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 23.03.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
27.09.2018	27.09.2018 Mikroskop und Verfahren zum Abbilden eines Objekts WO2018172161 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 14.03.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
27.09.2018	27.09.2018 Wellenfront-Korrektur mit Adaptivem Optischen Element WO2018172271 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 19.03.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.09.2018	26.09.2018 Verfahren zur Lichtblattmikroskopischen Untersuchung einer Probe EP3234679 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 18.11.2015 Erteilt am 26.09.2018 Vertretung Patentanwälte Geyer, Fehners & Partner mbB · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
20.09.2018	20.09.2018 Anordnung, Mikroskop und Verfahren zur Tirf-Mikroskopie WO2018166744 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 15.02.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
12.09.2018	12.09.2018 Lumineszenzmikroskopie EP3373063 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.05.2014 Anhängig Vertretung Loritz, Rainer · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
07.09.2018	07.09.2018 Detektorbaugruppe und Mikroskop mit einer Solchen Detektorbaugruppe WO2018158094 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 19.02.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
07.09.2018	07.09.2018 Microscope WO2018158364 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 01.03.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
23.08.2018	23.08.2018 Charged particle beam system ad method WO2018149732 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 08.02.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
22.08.2018	22.08.2018 Verfahren und Vorrichtung für die Fluoreszenz-Lebensdauer-Abbildung EP1746410 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 21.07.2005 Erteilt am 22.08.2018 Vertretung P&TS SA (AG, Ltd.) · Neuchâtel Schneider Feldmann AG Patent- und Markenanwälte · Zürich Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
22.08.2018	22.08.2018 Direkte Volumendarstellung in einer Virtuellen Und/oder Erweiterten Realität EP3362991 Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 17.10.2016 Anhängig Vertretung Ridderbusch, Oliver · München Prisma IP PATERIS Patentanwälte PartmbB · Berlin Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
15.08.2018	15.08.2018 Mikroskop und Verfahren zur Spim Mikroskopie EP2766765 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 06.10.2012 Erteilt am 15.08.2018 Vertretung Loritz, Rainer · Jena Hampe, Holger · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
09.08.2018	09.08.2018 Anordnung zur Auflösungssteigerung eines Laser-Scanning-Mikroskops WO2018141333 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 25.01.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
09.08.2018	09.08.2018 Verfahren zum Bestimmen einer Abweichung auf einem Verschiebeweg einer Zoom-Optik und Verfahren zur Korrektur sowie Bildaufnahmevorrichtung WO2018141560 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 19.01.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
08.08.2018	08.08.2018 Mikroskopsteuerungsverfahren und Mikroskop EP3356876 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 30.09.2016 Anhängig Vertretung Loritz, Rainer · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.08.2018	02.08.2018 Vorrichtung zum Aufbringen eines Immersionsmediums WO2018138053 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.01.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
01.08.2018	01.08.2018 Vorrichtung zur massenselektiven Bestimmung eines Ions EP2804200 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.05.2014 Erteilt am 01.08.2018 Vertretung Tongbhoyai, Martin · Köln Zusammenfassung The invention relates to a device for mass selective determination of at least one ion or of a plurality of ions. The device according to the invention is used for example in a measuring apparatus having an ion trap (1404). The ion trap (1404) has a ring electrode (1401) having a first opening. A first electrode (1402) is arranged at the first opening. Furthermore, an amplifier (1408) for providing a radio-frequency storage signal for the ion trap (1404) and a first transformer (1411) are provided, said first transformer being connected to the amplifier (1408) and the first electrode (1402) in such a way that the radio-frequency storage signal is coupled into the first electrode (1402) via the first transformer (1411). Alle Patent-Informationen
01.08.2018	01.08.2018 Digitales Mikroskopsystem EP2746831 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 11.11.2013 Erteilt am 01.08.2018 Vertretung Patentanwälte Geyer, Fehners & Partner mbB · München Geyer, Fehners & Partner · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
01.08.2018	01.08.2018 Verfahren zur Erzeugung einer Darstellung eines Objekts mittels eines Teilchenstrahls sowie Teilchenstrahlgerät zur Durchführung des Verfahrens EP2750161 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.12.2010 Erteilt am 01.08.2018 Vertretung Tongbhoyai, Martin · Köln Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
01.08.2018	01.08.2018 Einrichtung für Mikroskopische Anwendungen EP2930548 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 02.04.2015 Erteilt am 01.08.2018 Vertretung Breit, Ulrich · München Scholze, Humbert · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.07.2018	26.07.2018 Bildwandlungsmodul für ein Mikroskop und Mikroskop WO2018134141 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 15.01.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.07.2018	26.07.2018 Mikroskop und Verfahren zum Mikroskopieren einer Probe WO2018134129 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 12.01.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
25.07.2018	25.07.2018 Ionenquellen, Systeme und Methoden unter Verwendung Dieser Ionenquelle EP1955350 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 15.11.2006 Erteilt am 25.07.2018 Vertretung Carl Zeiss AG - Patentabteilung · Oberkochen Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
12.07.2018	12.07.2018 Verfahren zur Erzeugung eines Dreidimensionalen Modells einer Probe in einem Digitalen Mikroskop und Digitales Mikroskop WO2018127509 Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 03.01.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.07.2018	04.07.2018 Vorrichtung und Verfahren zur spektroskopischen Analyse EP2818853 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 15.05.2014 Erteilt am 04.07.2018 Vertretung Carl Zeiss AG - Patentabteilung · Oberkochen Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.07.2018	04.07.2018 Aktives Maschinelles Lernen zum Trainieren eines Ereignisklassifikators EP3341891 Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 23.08.2016 Anhängig Vertretung Neusser, Sebastian · München Kraus & Weisert Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
21.06.2018	21.06.2018 Segmentierte Optik für ein Beleuchtungsmodul zur Winkelaufgelösten Beleuchtung WO2018109226 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 18.12.2017 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
31.05.2018	31.05.2018 Verfahren zum Steuern oder Regeln einer Mikroskopbeleuchtung WO2018096004 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.11.2017 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
31.05.2018	31.05.2018 Mikroskop zur Abbildung eines Objekts WO2018096003 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.11.2017 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.05.2018	30.05.2018 Verfahren zum Betrieb eines Ionenstrahlsystems EP2437279 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 30.09.2011 Erteilt am 30.05.2018 Vertretung Diehl & Partner · München Diehl & Partner GbR · München Zusammenfassung An ion beam system comprises a voltage supply system (7) and at least one beam deflector (39) having at least one first deflection electrode (51a,51b,51c) and plural second deflection electrodes (52a,52b,52c), wherein the voltage supply system is configured to supply different adjustable deflection voltages to the plural second deflection electrodes such that electric deflection fields between the plural second deflection electrodes and the opposite at least one first deflection electrode have a common orientation. The system has a high kinetic energy mode in which a distribution of the electric deflection field has a greater width, a low kinetic energy mode in which a distribution of the electric deflection field has a smaller width. Alle Patent-Informationen
30.05.2018	30.05.2018 Hochauflösende Scanning-Mikroskopie EP2825908 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.02.2013 Erteilt am 30.05.2018 Vertretung Meyer, Jork · Jena Hampe, Holger · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
24.05.2018	24.05.2018 Verfahren und Mikroskop zum Ermitteln einer Fluoreszenzintensität WO2018091704 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 20.11.2017 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen