Carl Zeiss Microscopy GmbH Patente
🇩🇪 Deutschland
Deutscher Hersteller von Mikroskopen und Bildgebungssystemen für Forschung und Industrie, Teil der Zeiss-Gruppe.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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609 gesamt| Patent | |||
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23.05.2018
Verfahren zum Zuführen von mehreren Reaktiven Prozessgasen zu einer Verarbeitungsstelle eines Teilchenstrahlgeräts
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 23.01.2013
Erteilt am 23.05.2018
Vertretung
Diehl & Partner GbR · München
Diehl & Partner · München
Zusammenfassung
A system for supplying a process gas to a processing location 7 of a particle beam system 1 comprises a gas reservoir 63; a gas conduit 65; a pipe 69 located close to the processing location; a valve 67 provided between the gas conduit and the pipe; and a controller 71 configured to open and to close the valve to switch the system from a first mode of operation in which process gas is not supplied to the processing location to a second mode of operation in which process gas is supplied to the processing location. The controller can alternately open and close the valve in cycles, wherein each cycle includes a first duration in which the valve is open and a second duration in which the valve is closed, wherein a ratio between the first duration and the second duration can be changed. |
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23.05.2018
Kombinationsmikroskopie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 28.10.2009
Erteilt am 23.05.2018
Vertretung
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03.05.2018
Resonant Anregbares Bauteil, Resonanzscanner und Verfahren zum Betrieb des Resonant Anregbaren Bauteils
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 23.10.2017
Anhängig
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02.05.2018
Teilchenstrahlgerät mit Ablenksystem
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 01.12.2011
Erteilt am 02.05.2018
Vertretung
Carl Zeiss AG - Patentabteilung · Oberkochen
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26.04.2018
Vorrichtung zur Strahlmanipulation für ein Scanning-Mikroskop und Mikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 16.10.2017
Anhängig
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25.04.2018
Vorrichtung und Verfahren zur Durchlichtbeleuchtung für Lichtmikroskope und Mikroskopsystem
Optik & Fototechnik
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05.04.2018
Stellantrieb zur Justage eines zu Bewegenden Elements, Verwendungen und Verfahren zur Justage
Energie- & Antriebstechnik (Kraftmaschinen)
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 27.09.2017
Anhängig
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05.04.2018
Stellantrieb mit Formgedächtnis-Element
Energie- & Antriebstechnik (Kraftmaschinen)
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 27.09.2017
Anhängig
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04.04.2018
Lumineszenzmikroskopie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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28.03.2018
Zoomsystem Hoher Spreizung
Optik & Fototechnik
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21.03.2018
Mikroskop
Optik & Fototechnik
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21.03.2018
Verfahren und Anordnung zur Optischen Erfassung einer Beleuchteten Probe
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 26.09.2008
Erteilt am 21.03.2018
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07.03.2018
Mikroskopie eines Objektes mit einer Abfolge von Optischer Mikroskopie und Teilchenstrahlmikroskopie
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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01.03.2018
Spiegelturm, Anordnung mit Spiegelturm und Mikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 21.08.2017
Anhängig
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22.02.2018
Verfahren und Anordnung zur Erfassung von Bilddaten
Optik & Fototechnik
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 14.08.2017
Anhängig
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31.01.2018
Verfahren zur Herstellung von Querschnitten durch Ionenstrahlfräsen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 06.07.2016
Erteilt am 31.01.2018
Vertretung
Carl Zeiss AG - Patentabteilung · Oberkochen
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17.01.2018
Ionenquellen, Systeme und Verfahren
Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 20.06.2008
Erteilt am 17.01.2018
Vertretung
Carl Zeiss AG - Patentabteilung · Oberkochen
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11.01.2018
Verfahren zur Quantitativen Auswertung von Mikroskopbilddaten, Mikroskop und Softwareprodukt
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 04.07.2017
Anhängig
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28.12.2017
Mikroskopieverfahren unter Nutzung Zeitlicher Fokusmodulation und Mikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 21.06.2017
Anhängig
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20.12.2017
Verfahren zur Halbautomatischen Partikelanalyse mit einem Geladenen Teilchenstrahl
Software & Datenverarbeitung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 09.08.2013
Erteilt am 20.12.2017
Vertretung
Diehl & Partner GbR · München
Diehl & Partner · München
Zusammenfassung
A data analysis system for generating analysis data depending on microscopic data of an object generated by a charged particle microscope. The microscopic data comprises an image showing a structure. The method comprises displaying a graphical representation of the structure on the display by the graphical user interface. The method further comprises generating separation data representing at least one path of a separation cut, which separates pixels of the structure from each other. The method further comprises visually marking the separation cut by the graphical user interface, depending on the separation data, by differently marking different area portions of the representation, which represent different pixels of the structure which are separated from each other by the separation cut. The method further comprises generating separate analysis data for each of at least two portions of the object, depending on the microscopic data and depending on the separation data. |
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14.12.2017
Mikroskop und Mikroskopieverfahren
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 02.06.2017
Anhängig
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07.12.2017
Verlaufsfilteranordnung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 23.05.2017
Anhängig
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06.12.2017
Teilchenstrahlsystem und Verfahren zur Verarbeitung einer TEM-Probe
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.10.2013
Erteilt am 06.12.2017
Vertretung
Diehl & Partner · München
Diehl & Partner GbR · München
Zusammenfassung
A method of processing a TEM-sample, wherein the method comprises: mounting an object in a particle beam system such that the object is disposed in an object region of the particle beam system; directing of a first particle beam onto the object region from a first direction, wherein the first particle beam is an ion beam; and then rotating the object about an axis by 180°, wherein the following relation is fulfilled: 35 ¢ ° ¤ ± ¤ 55 ¢ ° , wherein ± denotes a first angle between the first direction and the axis; and then directing of the first particle beam onto the object region from the first direction; wherein material is removed from the object during the directing of the first particle beam onto the object region. Furthermore, a second particle beam may be directed onto the object region, and particles emanating from the object region can be detected. |
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06.12.2017
Auflösungsgesteigerte Lumineszenzmikroskopie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 25.04.2009
Erteilt am 06.12.2017
Vertretung
Hampe, Holger · Jena
Loritz, Rainer · Jena
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06.12.2017
Detektor und Teilchenstrahlvorrichtung mit einem solchen Detektor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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22.11.2017
Mikroskop und Mikroskopierverfahren
Optik & Fototechnik
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09.11.2017
Winkelselektive Beleuchtung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 26.04.2017
Anhängig
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08.11.2017
Anordnung zur Lichtblattmikroskopie
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 13.11.2014
Erteilt am 08.11.2017
Vertretung
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25.10.2017
Verfahren zur Erzeugung eines Zusammengesetzen Bildes eines Objekts und Teilchenstrahlvorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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19.10.2017
Mikroskop mit Gruppen von Lichtemittern zur Beleuchtung sowie Mikroskopieverfahren
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 12.04.2017
Anhängig
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19.10.2017
Steuer- und Konfiguriereinheit sowie Verfahren zum Steuern und Konfigurieren eines Mikroskops
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 06.04.2017
Anhängig
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11.10.2017
Anordnung zur Fokussierung von Beleuchtungseinrichtungen für Mikroskope
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 17.11.2006
Erteilt am 11.10.2017
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20.09.2017
Hochauflösende Lumineszenzmikroskopie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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13.09.2017
Verfahren, Analysesystem und Computerprogrammprodukt zur Halbautomatischen Röntgenstrahlen-Elementaranalyse unter Verwendung eines Teilchenmikroskops
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 09.03.2016
Anhängig
Vertretung
Diehl & Partner · München
Diehl & Partner GbR · München
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13.09.2017
Verfahren zum Kalibrieren einer Ablenkeinheit in einem Tirf-Mikroskop, Tirf-Mikroskop und Verfahren zu dessen Betrieb
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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30.08.2017
Mikroskop und Verfahren zum Betreiben eines Mikroskops
Optik & Fototechnik
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30.08.2017
Optisches System mit mehreren Teilchenstrahlen zur Probenbeobachtung in Transmission
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 09.09.2014
Erteilt am 30.08.2017
Vertretung
Diehl & Partner · München
Diehl & Partner GbR · München
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10.08.2017
Verfahren und Vorrichtungen zur Stereobilddarstellung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 24.01.2017
Anhängig
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19.07.2017
Mikroskop
Optik & Fototechnik
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12.07.2017
Ionenquellen sowie Systeme und Verfahren zu deren Verwendung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Wer vertritt Carl Zeiss Microscopy GmbH?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Carl Zeiss Microscopy GmbH vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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