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Hitachi High-Tech Corporation Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

3.840
Patente
2001–2025
Anmeldejahre
25
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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3.840 gesamt
Patent
19.01.2022
Automatisches Analysegerät
EP2648000
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
19.01.2022
Verfahren zur Analyse des Zustands von Zellen in Sphäroiden
EP3473727
Pharma & Biotechnologie Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
13.01.2022
Optical inspection device
WO2022009325
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
13.01.2022
Analysis device and authentication method
WO2022009423
Software & Datenverarbeitung
13.01.2022
Defect inspection device and defect inspection method
WO2022009392
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
13.01.2022
Specimen carrying device
WO2022009476
Verpackungs- & Fördertechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
13.01.2022
Pattern Matching Device, Pattern Measuring System, Pattern Matching Program
WO2022009357
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
13.01.2022
Charged particle beam device
WO2022009297
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
13.01.2022
Cover member for plasma processing device, plasma processing, and membrane production method
WO2022009340
Metallurgie & Oberflächentechnik
12.01.2022
Automatische Analysevorrichtung
EP3425407
Verfahrens- & Trenntechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.01.2022
Etching method and etching device
WO2022003803
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.01.2022
Electron source, electron gun, and charged particle beam device
WO2022003770
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.01.2022
Micro droplet formation device and analysis device
WO2022004094
Verfahrens- & Trenntechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.01.2022
Charged particle beam device, and method for adjusting image capturing conditions in said charged particle beam device
WO2022003927
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.01.2022
Automatischer Analysator
EP3264098
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.01.2022
Ultraschallreiniger und Automatischer Analysator mit Verwendung davon
EP3561518
Verfahrens- & Trenntechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
30.12.2021
Electrophoresis device
WO2021260951
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
30.12.2021
Vacuum process method
WO2021260869
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
30.12.2021
Far-infrared spectroscopy device
WO2021260752
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
30.12.2021
Dimension measuring device, semiconductor manufacturing device, and semiconductor device manufacturing system
WO2021260765
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
29.12.2021
Automatisierter Analysator
EP3588100
Verpackungs- & Fördertechnik Verfahrens- & Trenntechnik
23.12.2021
Image processing method, shape inspection method, image processing system, and shape inspection system
WO2021255819
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
23.12.2021
Device for detecting charged particles or radiation
WO2021255853
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
23.12.2021
Electrolyte measurement device
WO2021255992
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
23.12.2021
Device diagnostic device, device diagnostic method, plasma processing device, and semiconductor device manufacturing system
WO2021255784
Software & Datenverarbeitung
23.12.2021
Plasma processing device and plasma processing method
WO2021255812
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
23.12.2021
Charged particle beam device
WO2021255886
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.12.2021
Automatische Analysevorrichtung
EP3173795
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
16.12.2021
Charged particle beam apparatus and focus adjusting method therefor
WO2021250733
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
16.12.2021
Distributed control system and semiconductor inspection device provided with same
WO2021250851
Software & Datenverarbeitung
16.12.2021
Method for defect inspection, system, and computer-readable medium
WO2021250884
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
16.12.2021
Scintillator and charged particle beam device
WO2021250799
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
16.12.2021
Defect inspection device
WO2021250771
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
16.12.2021
Charged particle beam device and sample observation method
WO2021250879
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.12.2021
Probenreinigungseinheit
EP2947463
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
15.12.2021
Automatische Analysevorrichtung
EP3415920
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
09.12.2021
Defect inspection device and defect inspection method
WO2021245810
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
09.12.2021
Stage device, and charged particle beam device
WO2021245998
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
09.12.2021
Defect inspection device
WO2021245937
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
09.12.2021
Diagnostic imaging method, diagnostic imaging assisting device, and computer system
WO2021246013
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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