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Hitachi High-Tech Corporation Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

3.840
Patente
2001–2025
Anmeldejahre
25
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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3.840 gesamt
Patent
30.07.2020
Electron beam observation device, electron beam observation system, and image correcting method and method for calculating correction factor for image correction in electron beam observation device
WO2020152795
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
29.07.2020
Automatisches Analysegerät
EP2045607
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
29.07.2020
Automatisches Analysegerät
EP2282211
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
23.07.2020
Electromagnetic field shielding plate, method for manufacturing same, electromagnetic field shielding structure, and semiconductor manufacturing environment
WO2020148796
Elektronik & Schaltungstechnik
22.07.2020
Automatische Analysevorrichtung
EP2881742
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
16.07.2020
Substrate for nucleic acid analysis, flow cell for nucleic acid analysis, and image analysis method
WO2020145124
Pharma & Biotechnologie Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
16.07.2020
Charged particle beam apparatus, and method for controlling same
WO2020144838
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.07.2020
Probenvorverarbeitungs- und Fördersystem
EP2485057
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
15.07.2020
Elektrochemische Messvorrichtung
EP2950088
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
15.07.2020
Automatischer Analysator
EP3153865
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
02.07.2020
Defect inspection device
WO2020136697
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
02.07.2020
Defect inspection device, inspection method, and optical module
WO2020136785
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
02.07.2020
Charged particle beam device
WO2020136710
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
25.06.2020
Image recognition device and method
WO2020129235
Software & Datenverarbeitung
25.06.2020
Imaging device
WO2020129164
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
25.06.2020
Measurement device and signal processing method
WO2020129150
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
24.06.2020
Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Ausrichtung eines Werkstücks und Werkstück mit Ausrichtungsbestimmungsfunktion
EP2413267
Verfahrens- & Trenntechnik Software & Datenverarbeitung
24.06.2020
Probenvorverarbeitungssystem
EP2485055
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
24.06.2020
Automatisiertes Analysegerät
EP2573572
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
24.06.2020
Probentransportsystem und Steuerungsverfahren dafür
EP2669684
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
24.06.2020
Automatische Analysevorrichtung
EP3101427
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
18.06.2020
Dimension measurement device, dimension measurement program, and semiconductor manufacturing system
WO2020121564
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
18.06.2020
Plasma processing method and plasma processing device
WO2020122259
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
18.06.2020
Plasma processing method and plasma processing device
WO2020121540
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
18.06.2020
Plasma treatment device
WO2020121588
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
18.06.2020
Plasma treatment device
WO2020121581
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
18.06.2020
Three-dimensional shape detection device, method, and plasma processing device
WO2020121565
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.06.2020
Automatische Analysevorrichtung
EP3264102
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
11.06.2020
Charged particle source and charged particle beam device
WO2020115825
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
11.06.2020
Charged particle beam device
WO2020115876
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
11.06.2020
Data processing device, method, and semiconductor manufacturing method
WO2020115943
Software & Datenverarbeitung
04.06.2020
Charged particle beam apparatus
WO2020110276
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.06.2020
Automatische Analysevorrichtung, Analyseverfahren und Informationsverarbeitungsvorrichtung
EP2594944
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
03.06.2020
Automatische Analysevorrichtung
EP3660513
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
28.05.2020
Defect inspection device and defect inspection method
WO2020105319
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
22.05.2020
Imaging method and imaging system
WO2020100179
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.05.2020
Radiation analysis device
WO2020100281
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
22.05.2020
System for estimating the occurrence of defects, and computer-readable medium
WO2020100180
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
22.05.2020
Charged particle beam device and sample observation method
WO2020100205
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.05.2020
Plasma processing device
WO2020100357
Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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92
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58
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41
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29

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