Hitachi High-Tech Corporation Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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3.840 gesamt| Patent | |||
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25.10.2017
Automatische Analysevorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 12.02.2013
Erteilt am 25.10.2017
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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19.10.2017
Charged particle beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 13.04.2016
Anhängig
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19.10.2017
Pattern measurement device and pattern measurement method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 13.04.2016
Anhängig
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19.10.2017
Charged particle beam device and sample holder
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 13.04.2016
Anhängig
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05.10.2017
Charged particle beam device and method for adjusting charged particle beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.03.2016
Anhängig
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05.10.2017
Vacuum device and vacuum pump
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 29.03.2016
Anhängig
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05.10.2017
Electron Microscope
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 29.03.2016
Anhängig
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05.10.2017
Flaw inspection device and flaw inspection method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 30.03.2016
Anhängig
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05.10.2017
Light guide, detector provided with light guide, and charged particle beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 03.02.2017
Anhängig
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04.10.2017
Messsystem, Kopfmontierte Vorrichtung, Programm und Dienstbereitstellungsverfahren
Medizintechnik & Gesundheit
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 25.11.2015
Anhängig
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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04.10.2017
Automatische Analysevorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 18.09.2015
Anhängig
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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04.10.2017
Vorrichtung zum Entnehmen eines Stopfens
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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28.09.2017
Inspection device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 23.03.2016
Anhängig
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27.09.2017
Verfahren zur Übertragung von Betriebsparametern von Flüssigkeitschromatographen und Flüssigkeitschromatographiesystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 22.05.2009
Erteilt am 27.09.2017
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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21.09.2017
Resin powder material and method for producing resin shaped article
Kunststoff- & Polymertechnik
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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Status
Angemeldet am 14.03.2016
Anhängig
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21.09.2017
Defect inspection method and defect inspection device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 16.03.2016
Anhängig
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21.09.2017
Specimen observation method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.03.2016
Anhängig
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21.09.2017
Defect inspection device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 16.03.2016
Anhängig
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21.09.2017
Capillary electrophoresis apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 18.03.2016
Anhängig
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21.09.2017
Evaluation method for charged particle beam, computer program for evaluating charged particle beam, and evaluation device for charged particle beam
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 01.03.2017
Anhängig
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14.09.2017
Plasma treatment method and plasma treatment device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 31.01.2017
Anhängig
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13.09.2017
Nanoporenanalysevorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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08.09.2017
Defect inspection device, pattern chip, and defect inspection method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 02.03.2016
Anhängig
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08.09.2017
Field emission electron source, method for manufacturing same, and electron beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 24.11.2016
Anhängig
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08.09.2017
Analysis device provided with ion mobility separation part
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 28.02.2017
Anhängig
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06.09.2017
Verfahren zur Detektion einer Nukleinsäureamplifikation in einer Probe und Vorrichtung dafür
Verfahrens- & Trenntechnik
Pharma & Biotechnologie
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Status
Angemeldet am 04.07.2011
Erteilt am 06.09.2017
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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31.08.2017
Light-emitting detection device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 22.02.2016
Anhängig
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31.08.2017
Ion milling device and ion milling method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 26.02.2016
Anhängig
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31.08.2017
Power supply and mass spectrometer
Elektrische Energietechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 25.02.2016
Anhängig
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30.08.2017
Verfahren zur Messung von Zellen und Reagenz zur Messung von Zellen
Pharma & Biotechnologie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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30.08.2017
Automatische Analysevorrichtung und Verfahren zum Waschen von Probenpipettiersonden
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 14.12.2012
Erteilt am 30.08.2017
Vertretung
Addiss, John William · London
Calderbank, Thomas Roger · London
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24.08.2017
Analysis apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 17.02.2016
Anhängig
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24.08.2017
Automatic analyzing device and method for cleaning dispensing probe
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 23.01.2017
Anhängig
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23.08.2017
Automatische Analysevorrichtung und Verfahren dafür
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 15.05.2012
Erteilt am 23.08.2017
Vertretung
Addiss, John William · London
Calderbank, Thomas Roger · London
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16.08.2017
Qualitätskontrollsystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 23.02.2007
Erteilt am 16.08.2017
Vertretung
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
Strehl & Partner mbB · München
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16.08.2017
Vorrichtung zur Klassifizierung von Verschiedenen Bakterien
Pharma & Biotechnologie
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Status
Angemeldet am 21.05.2010
Erteilt am 16.08.2017
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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16.08.2017
Vorrichtung zur Gewinnung einer Bakterienkolonie und Verfahren dafür
Pharma & Biotechnologie
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Status
Angemeldet am 05.11.2010
Erteilt am 16.08.2017
Vertretung
Addiss, John William · London
Calderbank, Thomas Roger · London
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16.08.2017
Automatische Analysevorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 17.05.2012
Erteilt am 16.08.2017
Vertretung
Addiss, John William · London
Calderbank, Thomas Roger · London
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10.08.2017
Gas field ionization source, ion beam device, and beam irradiation method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 05.02.2016
Anhängig
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10.08.2017
Sample holder, ion milling apparatus, sample processing method, sample observation method, and sample processing/observation method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 03.02.2016
Anhängig
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Wer vertritt Hitachi High-Tech Corporation?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Hitachi High-Tech Corporation vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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