Hitachi High-Tech Corporation Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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3.840 gesamt| Patent | |||
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09.08.2017
Belichtungsvorrichtung und Herstellungsverfahren für eine Struktur
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 05.12.2012
Erteilt am 09.08.2017
Vertretung
Addiss, John William · London
Calderbank, Thomas Roger · London
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03.08.2017
Base sequencer, capillary array electrophoresis device, and method
Pharma & Biotechnologie
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Status
Angemeldet am 28.01.2016
Anhängig
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03.08.2017
Measurement device, method and display device
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 27.01.2016
Anhängig
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03.08.2017
Charged particle beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 29.01.2016
Anhängig
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03.08.2017
Overlay error measurement device and computer program
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 29.01.2016
Anhängig
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03.08.2017
Pattern measurement device and computer program
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 29.01.2016
Anhängig
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03.08.2017
Charged particle beam device and optical axis adjustment method therefor
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 29.01.2016
Anhängig
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03.08.2017
Observation device
Pharma & Biotechnologie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 22.12.2016
Anhängig
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03.08.2017
Charged particle detector, charged particle beam device, and mass spectrometer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 25.01.2017
Anhängig
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02.08.2017
Automatische Analysevorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 13.06.2013
Erteilt am 02.08.2017
Vertretung
Addiss, John William · London
Calderbank, Thomas Roger · London
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27.07.2017
Mass spectrometry device and ion detection method therefor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 21.01.2016
Anhängig
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27.07.2017
Plasma processing method and plasma processing device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 02.11.2016
Anhängig
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20.07.2017
Inspection device and detector
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 14.01.2016
Anhängig
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19.07.2017
Automatisches Analysegerät
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 15.01.2009
Erteilt am 19.07.2017
Vertretung
Borchert, Uwe Rudolf · München
patcare Patentanwälte Partnerschaft mbB · Oberhaching
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19.07.2017
Rasterelektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 11.05.2011
Erteilt am 19.07.2017
Vertretung
Beetz & Partner mbB · München
Beetz & Partner · München
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19.07.2017
Probenverarbeitungssystem
Verpackungs- & Fördertechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 01.10.2012
Erteilt am 19.07.2017
Vertretung
Addiss, John William · London
Calderbank, Thomas Roger · London
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05.07.2017
Partikelsaugfangmechanismus und mit dem Partikelsaugfangmechanismus Ausgestattete Öffnungsvorrichtung
Verpackungs- & Fördertechnik
Verfahrens- & Trenntechnik
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Status
Angemeldet am 29.06.2015
Anhängig
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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05.07.2017
Reaktionszelle für Automatische Analysevorrichtung, mit Besagter Reaktionszelle Ausgestattete, Automatische Analysevorrichtung und Analyseverfahren mit Verwendung der Besagten Automatischen Analysevorrichtung
Verfahrens- & Trenntechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 15.06.2015
Anhängig
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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29.06.2017
Charged particle beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 22.12.2015
Anhängig
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29.06.2017
Charged particle beam apparatus and phase plate
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 25.12.2015
Anhängig
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29.06.2017
Measuring reagent and analysis device for analyzing biopolymer
Pharma & Biotechnologie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 20.10.2016
Anhängig
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22.06.2017
Mass Spectrometer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 09.11.2016
Anhängig
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22.06.2017
Biomolecule measurement apparatus
Pharma & Biotechnologie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 29.11.2016
Anhängig
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21.06.2017
Ladungsträgerstrahl-Mikroskop und Messverfahren damit
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 21.01.2011
Erteilt am 21.06.2017
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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21.06.2017
Optische Vorrichtung mit Geladenen Teilchen und Verfahren zur Messung der Aberration von Linsen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 04.11.2011
Erteilt am 21.06.2017
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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15.06.2017
Anti-contamination trap, control method therefor, and charged particle beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 08.12.2015
Anhängig
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15.06.2017
High voltage power supply device and charged particle beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 08.12.2015
Anhängig
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15.06.2017
Charged particle beam device and control method therefor
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 29.11.2016
Anhängig
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14.06.2017
Automatische Analysevorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 26.06.2003
Erteilt am 14.06.2017
Vertretung
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
Strehl & Partner mbB · München
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14.06.2017
Automatisches Analysegerät
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 26.01.2012
Erteilt am 14.06.2017
Vertretung
Beetz & Partner · München
Beetz & Partner mbB · München
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08.06.2017
Cell analysis device, apparatus, and cell analysis method using same
Pharma & Biotechnologie
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Status
Angemeldet am 01.12.2015
Anhängig
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08.06.2017
Spectrophotometer, method for confirming performance of spectrophotometer, and inspection device for concave diffraction grating
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 30.11.2015
Anhängig
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01.06.2017
Charged particle beam device, observation method using charged particle beam device, and, program
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 25.11.2015
Anhängig
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01.06.2017
Biological sample analyzer and biological sample analysis method
Pharma & Biotechnologie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 24.11.2015
Anhängig
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01.06.2017
Charged particle beam device and image processing method in charged particle beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 27.11.2015
Anhängig
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03.05.2017
Analysevorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 25.07.2013
Erteilt am 03.05.2017
Vertretung
Addiss, John William · London
Calderbank, Thomas Roger · London
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03.05.2017
Vorrichtung zur Fehlerursachenklassifizierung
Fahrzeugtechnik (Automobil, Bahn & Schiff)
Steuerungs- & Regelungstechnik
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Status
Angemeldet am 11.02.2015
Erteilt am 03.05.2017
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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19.04.2017
Vorrichtung und Verfahren zur Detektion einer Zielsubstanz
Verfahrens- & Trenntechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 19.09.2008
Erteilt am 19.04.2017
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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13.04.2017
Ion analysis device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 09.10.2015
Anhängig
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06.04.2017
Scanning transmission electron microscope equipped with electron energy loss spectroscope and observation method therefor
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 29.09.2015
Anhängig
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Wer vertritt Hitachi High-Tech Corporation?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Hitachi High-Tech Corporation vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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