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Hitachi High-Tech Corporation Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

3.840
Patente
2001–2025
Anmeldejahre
25
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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3.840 gesamt
Patent
20.03.2014
Charged particle beam device and sample observation method
WO2014041882
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
20.03.2014
Charged-particle-beam device and method for correcting aberration
WO2014041927
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
20.03.2014
Mass analysis system and method
WO2014041886
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
13.03.2014
Analysis apparatus and sample introduction device therefor
WO2014038275
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
13.03.2014
Member for charged particle beam devices, charged particle beam device, and diaphragm member
WO2014038287
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.03.2014
Liquid mixers and liquid chromatographs
WO2014034259
Verfahrens- & Trenntechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.03.2014
Liquid chromatographic device
WO2014034336
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.03.2014
Defect observation system and defect observation method
WO2014034252
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.03.2014
Defect inspection method, and apparatus using same
WO2014034271
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
27.02.2014
Spectrophotometer
WO2014030446
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
27.02.2014
Liquid chromatography device and liquid delivery device
WO2014030498
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
27.02.2014
Observation device and light axis adjustment method
WO2014030435
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
27.02.2014
Liquid Chromatograph
WO2014030537
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
27.02.2014
Charged particle beam device and objective lens
WO2014030429
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
27.02.2014
Charged particle beam device and sample observation method
WO2014030430
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
27.02.2014
Composite charged particle beam device
WO2014030433
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
27.02.2014
Analysis device employing tablet terminal
WO2014030434
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
27.02.2014
Spectrophotometer
WO2014030475
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
27.02.2014
Electron microscope and sample movement device
WO2014030425
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.02.2014
Lichtsteuerbares Zellanhaftungssubstrat
EP2698426
Pharma & Biotechnologie
12.02.2014
Ionenstrahlvorrichtung und Bearbeitungsverfahren dafür
EP2696364
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
12.02.2014
Elektronenmikroskop
EP2696363
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.02.2014
Charged particle beam device
WO2014021019
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.02.2014
Liquid Chromatographic Analyzer
WO2014021099
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.02.2014
Analysis system and analysis method
WO2014021060
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.02.2014
Lichtsteuerbares Zellhaftmaterial
EP2692849
Pharma & Biotechnologie
30.01.2014
Pre-processing/electrophoresis integrated cartridge, pre-processing integrated capillary electrophoresis device, and pre-processing integrated capillary electrophresis method
WO2014017193
Pharma & Biotechnologie Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
30.01.2014
Cartridge for biochemical use and biochemical processing device
WO2014017219
Pharma & Biotechnologie Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
30.01.2014
Electron microscope and electron microscope sample retaining device
WO2014017225
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
30.01.2014
Matching process device, matching process method, and inspection device employing same
WO2014017337
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
30.01.2014
Inspection device
WO2014017264
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
30.01.2014
Mass analysis method and mass analysis system
WO2014017278
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
23.01.2014
Wafer appearance inspection device and method for setting sensitivity threshold value for wafer appearance inspection device
WO2014013865
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.01.2014
Elektronenstrahlgerät
EP2096662
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
16.01.2014
Electron microscope and image-formation method using electron microscope
WO2014010430
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
16.01.2014
Flow cell for biomaterial analysis and biomaterial analysis device
WO2014010706
Pharma & Biotechnologie Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
09.01.2014
Overlay error measuring device and computer program for causing computer to measure pattern
WO2014007017
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.01.2014
Cryogenic specimen holder and cooling source container
WO2014002700
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.01.2014
Charged particle beam device
WO2014002734
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.01.2014
Stage device, and specimen observation device
WO2014002579
Optik & Fototechnik Steuerungs- & Regelungstechnik

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