Hitachi High-Tech Corporation Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

3.840

Patente

2001–2025

Anmeldejahre

Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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Anmeldejahr

Veröffentlicht	Patent	Land
30.05.2014	30.05.2014 Wiring forming apparatus WO2014080819 Verfahrens- & Trenntechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.11.2013 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.05.2014	30.05.2014 Pipe Connection Joint WO2014080925 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 20.11.2013 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
22.05.2014	22.05.2014 Image processor, method for generating pattern using self-organizing lithographic techniques and computer program WO2014077303 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 14.11.2013 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
15.05.2014	15.05.2014 Method and device for detecting defects and method and device for observing defects WO2014073532 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 05.11.2013 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
14.05.2014	14.05.2014 Verfahren und System zur Waferinspektion EP2317388 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.10.2010 Anhängig Vertretung Wauters, Davy Erik Angelo · Boortmeerbeek Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
08.05.2014	08.05.2014 Sample storage container, charged particle beam apparatus, and image acquiring method WO2014069470 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 29.10.2013 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
08.05.2014	08.05.2014 Charged particle beam apparatus WO2014069271 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 21.10.2013 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
08.05.2014	08.05.2014 Charged particle beam apparatus and observation method using same WO2014069364 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 25.10.2013 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
08.05.2014	08.05.2014 Electron beam microscope apparatus WO2014069325 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 24.10.2013 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
08.05.2014	08.05.2014 Inspection device and inspection method WO2014069293 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 23.10.2013 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
07.05.2014	07.05.2014 Flüssigkeitsabgabevorrichtung und automatisches Analysegerät mit solcher Vorrichtung EP1562027 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 21.01.2005 Erteilt am 07.05.2014 Vertretung Strehl & Partner mbB · München Strehl Schübel-Hopf & Partner · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
07.05.2014	07.05.2014 Etikett zur Ausrichtungserkennung, Trägerstruktur für einen Reagenzbehälter und Analysegerät EP2020263 Verfahrens- & Trenntechnik Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.07.2007 Erteilt am 07.05.2014 Vertretung Hössle Patentanwälte Partnerschaft · Stuttgart Hössle Kudlek & Partner · Stuttgart Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
01.05.2014	01.05.2014 Charged particle beam device and overlay misalignment measurement method WO2014065311 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 23.10.2013 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.04.2014	30.04.2014 Flüssigchromatographie-Massenspektrometervorrichtung EP2725351 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 09.04.2012 Anhängig Vertretung Moore, Graeme Patrick · London Moore, Graeme Patrick · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
24.04.2014	24.04.2014 Charged-particle radiation apparatus WO2014061577 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 11.10.2013 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
24.04.2014	24.04.2014 Electron Microscope WO2014061690 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 16.10.2013 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
24.04.2014	24.04.2014 Method for removing foreign substances in charged particle beam device, and charged particle beam device WO2014061738 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 17.10.2013 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
24.04.2014	24.04.2014 Pattern inspecting and measuring device and program WO2014061575 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 11.10.2013 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
24.04.2014	24.04.2014 Charged particle beam device and sample preparation method WO2014061524 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 09.10.2013 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
24.04.2014	24.04.2014 Charged particle beam device equipped with cooling mechanism for charged particle beam source, and charged particle beam source WO2014061625 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 15.10.2013 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
17.04.2014	17.04.2014 Method for manufacturing electron source WO2014057570 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 12.10.2012 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
17.04.2014	17.04.2014 Near field light detection method and heat assisted magnetic head element examination device WO2014057849 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 02.10.2013 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
17.04.2014	17.04.2014 Ion-beam device WO2014057918 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 08.10.2013 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.04.2014	16.04.2014 Magnetische Partikel Verwendender Analysator EP2290365 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 09.06.2009 Erteilt am 16.04.2014 Vertretung Strehl, Peter · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
10.04.2014	10.04.2014 Mass spectrometer, mass spectrometry method, and ion source WO2014054679 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 02.10.2013 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
10.04.2014	10.04.2014 Charged particle beam device, position adjusting method for diaphragm, and diaphragm position adjusting jig WO2014054477 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 25.09.2013 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
09.04.2014	09.04.2014 Verfahren und Vorrichtung zur Optischen Analyse von Biopolymeren EP2717038 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 29.05.2012 Anhängig Vertretung Moore, Graeme Patrick · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
03.04.2014	03.04.2014 Defect inspection device and defect inspection method WO2014050292 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 29.07.2013 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
03.04.2014	03.04.2014 Charged particle radiation device WO2014050242 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 01.07.2013 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
03.04.2014	03.04.2014 Pattern measurement device, evaluation method of polymer compounds used in self-assembly lithography, and computer program WO2014050305 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 02.08.2013 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
03.04.2014	03.04.2014 Electron microscope and electron beam detector WO2014050326 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 09.08.2013 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
03.04.2014	03.04.2014 Film-forming apparatus and film-forming method WO2014050319 Metallurgie & Oberflächentechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.08.2013 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.04.2014	02.04.2014 Strahlungsvorrichtung für geladene Teilchen und Strahlungsverfahren EP2023373 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 10.09.2003 Erteilt am 02.04.2014 Vertretung Strehl & Partner mbB · München Strehl Schübel-Hopf & Partner · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
27.03.2014	27.03.2014 Charged particle microscope system and measurement method using same WO2014045746 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.08.2013 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.03.2014	26.03.2014 Ein Analysegerät mit einer rotierenden Pipettiersonde befestigt an einem rotierenden Arm EP1637886 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 06.09.2005 Erteilt am 26.03.2014 Vertretung Strehl & Partner mbB · München Strehl Schübel-Hopf & Partner · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.03.2014	26.03.2014 Herstellungsverfahren für ein Beugungsgitter, Spektrophotometer und Herstellungsverfahren für eine Halbleitervorrichtung EP2711746 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 17.05.2012 Anhängig Vertretung Calderbank, Thomas Roger · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
20.03.2014	20.03.2014 Vacuum processing device WO2014041656 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.09.2012 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
20.03.2014	20.03.2014 Mass spectrometer and method WO2014041862 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 14.06.2013 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
20.03.2014	20.03.2014 Mass spectroscope and mass spectrometry WO2014042037 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 03.09.2013 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
20.03.2014	20.03.2014 Charged particle beam device and sample observation method WO2014041876 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 03.07.2013 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen