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Hitachi High-Tech Corporation Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

3.840
Patente
2001–2025
Anmeldejahre
25
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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3.840 gesamt
Patent
27.12.2013
Method of atomic absorption analysis and atomic absorption photometer
WO2013190980
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
19.12.2013
Optical signal detecting circuit, light volume detecting device, and charged particle beam device
WO2013187511
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.12.2013
Charged particle beam device
WO2013187115
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.12.2013
Overlay error measuring device and computer program
WO2013187343
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.12.2013
Charged particle beam generating apparatus, charged particle beam apparatus, high voltage generating apparatus, and high potential apparatus
WO2013187155
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.12.2013
Sample isolation particle, sample isolation device and sample isolation method
WO2013187382
Verfahrens- & Trenntechnik Pharma & Biotechnologie
18.12.2013
Vorrichtung zum Flüssigkeitstransport und Analysesystem
EP1722234
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
18.12.2013
Verfahren zum Nachweis von Analyten in einer Probenflüssigkeit sowie Vorrichtung zu dessen Durchführung
EP2493600
Verfahrens- & Trenntechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
12.12.2013
Sample holder and method for fixing observation sample
WO2013183543
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
12.12.2013
Charged-particle radiation device
WO2013183573
Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
11.12.2013
Automatikanalysevorrichtung
EP2642299
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.12.2013
Measurement method, image processing device, and charged particle beam device
WO2013180043
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.12.2013
Pattern inspection device and pattern inspection method
WO2013179956
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
05.12.2013
Pattern evaluation device and pattern evaluation method
WO2013179825
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.12.2013
Charged particle device
WO2013179808
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.12.2013
Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung von Strukturen
EP2669738
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Optik & Fototechnik
28.11.2013
Electron microscope and electron detector
WO2013175972
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
27.11.2013
Automatikanalysevorrichtung
EP2667180
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
21.11.2013
Inspection device
WO2013172103
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
21.11.2013
Electron beam application device and electron beam adjustment method
WO2013172365
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
14.11.2013
Charged Particle Beam Microscope
WO2013168488
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
14.11.2013
Defect inspection method and defect inspection device
WO2013168557
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
14.11.2013
Defect analysis assistance device, program executed by defect analysis assistance device, and defect analysis system
WO2013168487
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.11.2013
Ladungsträgerstrahlvorrichtung und Verfahren zur Herstellung einer Probe
EP2660846
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.11.2013
Mikroskop mit Geladenen Teilchenstrahlen und einem Darauf Angebrachten Diffraktionsaberrationskorrektor
EP2660844
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
31.10.2013
Light shielding tool for head blood flow measurement, and checking method and checking device for mounting thereof
WO2013161070
Medizintechnik & Gesundheit
31.10.2013
Charged Particle Microscope
WO2013161837
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
31.10.2013
Mass analyzer and mass analysis method
WO2013161737
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
31.10.2013
Defect inspection device and defect inspection method
WO2013161912
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
31.10.2013
Semiconductor defect categorization device and program for semiconductor defect categorization device
WO2013161577
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
31.10.2013
Charged particle beam adjustment assistance device and method
WO2013161539
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
31.10.2013
Charged particle beam device
WO2013161684
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
31.10.2013
Scanning Electron Microscope
WO2013161473
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
24.10.2013
Charged particle beam device
WO2013157474
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
23.10.2013
Einzelmolekül-Echtzeit-Sequenziergerät, Nukleinsäure-Analysegerät und Einzelmolekül-Echtzeit-Sequenzierverfahren
EP2292727
Pharma & Biotechnologie Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.10.2013
Inspection device and image capture element
WO2013154067
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.10.2013
Charged particle beam apparatus
WO2013153891
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
16.10.2013
Elektrode für Elektrochemische Messungen, Elektrolysezelle für Elektrochemische Messungen und Analysevorrichtung für Elektrochemische Messungen
EP2650676
Metallurgie & Oberflächentechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
16.10.2013
Vorrichtung für Geladene Partikelstrahlen und Verfahren zur Ausstrahlung Geladener Partikelstrahlen
EP2650901
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.10.2013
Charged particle beam device
WO2013150847
Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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148
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92
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58
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
41
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