Hitachi High-Tech Corporation Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
4.287
Patente
2001–2026
Anmeldejahre
26
Aktive Jahre
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
Patente durchsuchen
4.287 gesamt| Patent | |||
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15.09.2016
Charged particle beam device and image forming method using same
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 16.02.2016
Anhängig
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14.09.2016
Automatisches Analysegerät
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 28.07.2010
Erteilt am 14.09.2016
Vertretung
Tiesmeyer, Johannes · München
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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09.09.2016
Terahertz wave generating device and spectroscopic device using same
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 03.03.2015
Anhängig
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01.09.2016
Control operation method and automatic analysis device
Pharma & Biotechnologie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 23.02.2015
Anhängig
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01.09.2016
Ion guide and mass spectrometer using same
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 23.02.2015
Anhängig
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01.09.2016
Nucleic Acid Analyzer
Pharma & Biotechnologie
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Status
Angemeldet am 23.02.2015
Anhängig
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01.09.2016
Automated analysis device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 29.01.2016
Anhängig
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01.09.2016
Analysis device and analysis method using same
Pharma & Biotechnologie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 10.02.2016
Anhängig
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01.09.2016
Method for constructing nucleic acid molecule
Pharma & Biotechnologie
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Status
Angemeldet am 26.02.2016
Anhängig
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31.08.2016
Automatisches Analysegerät für chemische Blutuntersuchung mit einer Messung von Probenvolumen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 13.12.2005
Erteilt am 31.08.2016
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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31.08.2016
Transmissions-Elektronenmikroskop und Verfahren zur Beobachtung einer Probe
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 27.04.2009
Erteilt am 31.08.2016
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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25.08.2016
Automated analysis device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 20.01.2016
Anhängig
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11.08.2016
Multicolor fluorescence analysis device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 02.02.2015
Anhängig
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11.08.2016
Multicolor detection device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 03.02.2015
Anhängig
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11.08.2016
Composite charged particle beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 04.02.2016
Anhängig
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04.08.2016
Solar light collecting device, controlling device for same, and solar light reflector control method
Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik
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Status
Angemeldet am 28.01.2015
Anhängig
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04.08.2016
Method and device for separating nucleic acid
Pharma & Biotechnologie
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Status
Angemeldet am 26.01.2015
Anhängig
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04.08.2016
Charged particle beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.01.2015
Anhängig
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04.08.2016
Optical analyzing device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 26.01.2015
Anhängig
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04.08.2016
Vacuum processing device
Verfahrens- & Trenntechnik
Metallurgie & Oberflächentechnik
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Status
Angemeldet am 30.01.2015
Anhängig
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04.08.2016
Pattern matching device and computer program for pattern matching
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 30.01.2015
Anhängig
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04.08.2016
Semiconductor inspection device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 30.01.2015
Anhängig
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04.08.2016
Ion milling mask position adjustment method, electron microscope capable of adjusting mask position, mask adjustment device carried by sample stage, and sample mask part for ion milling device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 30.01.2015
Anhängig
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04.08.2016
Electron microscope equipped with ion milling device, and three-dimensional reconstruction method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 30.01.2015
Anhängig
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04.08.2016
Multicolor fluorescence analysis device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 11.11.2015
Anhängig
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04.08.2016
Sample observation method and sample observation device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 21.12.2015
Anhängig
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04.08.2016
Charged particle beam apparatus for artificially creating analysis image from secondary-particle image
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 12.01.2016
Anhängig
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04.08.2016
Examination device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 26.01.2016
Anhängig
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28.07.2016
Charged particle beam device, charged particle beam device optical element, and charged particle beam device member production method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 23.01.2015
Anhängig
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28.07.2016
Analysis device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 21.01.2015
Anhängig
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28.07.2016
Pattern measurement apparatus and flaw inspection apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 23.01.2015
Anhängig
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28.07.2016
Recipe creation device for use in semiconductor measurement device or semiconductor inspection device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 23.01.2015
Anhängig
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28.07.2016
Charged particle beam device, and method of manufacturing component for charged particle beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 21.01.2016
Anhängig
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27.07.2016
Automatisches Analysengerät
Verfahrens- & Trenntechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 12.01.2004
Erteilt am 27.07.2016
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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27.07.2016
Verfahren zur Probenbeobachtung mit Flüssigem Medium zur Vermeidung von Aufladung in einem Elektronen-Mikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 19.01.2007
Erteilt am 27.07.2016
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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21.07.2016
Curved-surface optical element and method for manufacturing same
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 14.01.2015
Anhängig
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21.07.2016
Charged particle beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 07.12.2015
Anhängig
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21.07.2016
Mass spectrometry device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 04.01.2016
Anhängig
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13.07.2016
Automatisierter Analysator
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 29.07.2014
Anhängig
Vertretung
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07.07.2016
Analysis method and analysis device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 04.12.2015
Anhängig
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Wer vertritt Hitachi High-Tech Corporation?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Hitachi High-Tech Corporation vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
Zum Anmelder-ProfilTechnologiefelder
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
2.536
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
1.718
Software & Datenverarbeitung
295
Pharma & Biotechnologie
266
Verfahrens- & Trenntechnik
183
Medizintechnik & Gesundheit
114
Optik & Fototechnik
107
Elektronik & Schaltungstechnik
97
Verpackungs- & Fördertechnik
78
Elektrische Energietechnik
78
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
49
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
33