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Advantest Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

1.227
Patente
2000–2026
Anmeldejahre
27
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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1.227 gesamt
Patent
22.03.2007
Filter unit for conductive fluid detector and conductive fluid detector using it
WO2007032186
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
22.03.2007
Testing device, testing method, program, and recording medium
WO2007032192
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
22.03.2007
Testing device, testing method, analyzing device, and program
WO2007032194
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
15.03.2007
Test equipment and test method
WO2007029463
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
15.03.2007
Timing generator, test device, and timing generation method
WO2007029513
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
15.03.2007
Sampling device and test apparatus
WO2007029566
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
01.03.2007
Electronic component test apparatus and temperature control method in electronic component test apparatus
WO2007023557
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
01.03.2007
Tcp handling apparatus
WO2007023556
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
01.03.2007
Testing apparatus and program
WO2007023730
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
28.02.2007
Testeinrichtung und Testverfahren
EP1757947
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
22.02.2007
Tester
WO2007020756
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
21.02.2007
Fehleranalysesystem und Fehlerbereichsanzeigeverfahren
EP1755158
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.02.2007
Electronic component testing apparatus
WO2007017953
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
15.02.2007
Semiconductor testing apparatus
WO2007018020
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
15.02.2007
Semiconductor testing device, performance board and interface plate
WO2007018081
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
08.02.2007
Providing Precise Timing Control Between Multiple Standardized Test Instrumentation Chassis
WO2007015582
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
08.02.2007
Circuit Card Synchronization Within A Standardized Test Instrumentation Chassis
WO2007015580
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
08.02.2007
Providing Precise Timing Control Within A Standardized Test Instrumentation Chassis
WO2007015581
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
01.02.2007
Frequency component measuring device
WO2007013302
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
01.02.2007
Light receiving apparatus, testing apparatus, light receiving method, testing method, test module and semiconductor chip
WO2007013339
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
01.02.2007
Signal transmission device, signal reception device, test device, test module, and semiconductor chip
WO2007013356
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
01.02.2007
Timing generator and semiconductor test device
WO2007013577
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
01.02.2007
Timing generator and semiconductor test instrument
WO2007013578
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
01.02.2007
Symbol modulation accuracy measuring device, method, program, and recording medium
WO2007013573
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
25.01.2007
Pusher, pusher unit and semiconductor testing apparatus
WO2007010610
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
18.01.2007
Test equipment of electronic component
WO2007007406
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
18.01.2007
Electronic component test device
WO2007007835
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
04.01.2007
Contactor, contact structure with the contactor, probe card, testing device, contact structure producing method, and contact structure producing apparatus
WO2007000799
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
21.12.2006
Coaxial cable unit, device interface apparatus and electronic component testing apparatus
WO2006134644
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
21.12.2006
Delay circuit, testing apparatus, timing generator, test module and electronic device
WO2006134837
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
21.12.2006
Coaxial cable unit, device interface apparatus and electronic component testing apparatus
WO2006134901
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
14.12.2006
Adapter, interface device with the adapter, and electronic component test apparatus
WO2006132064
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
07.12.2006
Semiconductor testing apparatus
WO2006129372
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
07.12.2006
Transmission Path Driving Circuit
WO2006129490
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
07.12.2006
Jitter Generating Circuit
WO2006129491
Elektronik & Schaltungstechnik
30.11.2006
Analog/digital converting apparatus, program, and recording medium
WO2006126656
Elektronik & Schaltungstechnik
30.11.2006
Analog/digital converting apparatus, program, and recording medium
WO2006126672
Elektronik & Schaltungstechnik
23.11.2006
Electronic part test device and method for controlling temperature in electronic part test device
WO2006123404
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
23.11.2006
Charged particle beam apparatus, contamination removing method and sample observing method
WO2006123437
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
23.11.2006
Semiconductor test program debug device
WO2006123560
Software & Datenverarbeitung

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