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Advantest Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

1.227
Patente
2000–2026
Anmeldejahre
27
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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1.227 gesamt
Patent
25.07.2007
Amplitudenvariable Treiberschaltung und Testvorrichtung
EP1811659
Elektronik & Schaltungstechnik
19.07.2007
Connector housing block, interface member, and electronic part tester
WO2007080644
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
12.07.2007
Tcp handling apparatus
WO2007077621
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
12.07.2007
Measuring device, measuring method and testing device
WO2007077686
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
12.07.2007
Detachably attaching device, test head, and electronic part test device
WO2007077807
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
12.07.2007
Test device, test method, and program
WO2007077839
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
11.07.2007
Testemulationseinrichtung
EP1610136
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
05.07.2007
Tcp handler and method of aligning connector in tcp handler
WO2007074509
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
28.06.2007
Measuring device, measuring method, measuring program and recording medium
WO2007072653
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
28.06.2007
Oscillation circuit, testing apparatus and electronic device
WO2007072731
Elektronik & Schaltungstechnik
28.06.2007
Testing apparatus, adjusting apparatus, adjusting method and adjusting program
WO2007072738
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
27.06.2007
Impulsgenerator, Timing-Generator und Impulsbreiten-Einstellverfahren
EP1801970
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
21.06.2007
Testing apparatus and pin electronics card
WO2007069648
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
21.06.2007
Measuring instrument, measuring method, and transmission circuit
WO2007069631
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
21.06.2007
Testing apparatus and pin electronics card
WO2007069646
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
21.06.2007
Testing apparatus and pin electronics card
WO2007069647
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
14.06.2007
Test device and adjusting method
WO2007066656
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
07.06.2007
Semiconductor memory test apparatus with error classification means and related test method
WO2007063784
Akustik, Musik & Datenspeicherung
06.06.2007
Presselement und Vorrichtung für ein Elektronisches Bauelement
EP1574865
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
30.05.2007
Testeinrichtung, Konfigurationsverfahren und Einrichtungsschnittstelle
EP1790990
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
24.05.2007
Device-mounted apparatus, test head, and electronic component testing apparatus
WO2007057959
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
24.05.2007
Electronic component test equipment and method for loading performance board on the electronic component test equipment
WO2007057944
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
24.05.2007
Electronic component test equipment and method for loading performance board on the electronic component test equipment
WO2007057990
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
18.05.2007
Electronic parts tester and method of setting best press condition of electronic parts tester contact arm
WO2007055004
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
09.05.2007
Tester und Testverfahren
EP1783503
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
03.05.2007
Testing apparatus, clock generating apparatus and electronic device
WO2007049365
Elektronik & Schaltungstechnik
03.05.2007
Testing apparatus and testing method
WO2007049476
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
03.05.2007
Testing apparatus, fixture board and pin electronics card
WO2007049475
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
03.05.2007
Delay lock loop circuit, timing generator, semiconductor test device, semiconductor integrated circuit, and delay amount calibration method
WO2007049490
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
03.05.2007
Driver circuit, test device, and adjusting method
WO2007049674
Elektronik & Schaltungstechnik
02.05.2007
Verdünnungsfilter und Testeinrichtung
EP1780739
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
26.04.2007
Connecting device, connecting system, optical waveguide and connecting method
WO2007046184
Optik & Fototechnik
26.04.2007
Hermetically sealing member with optical transmission means, optoelectronic device and optical transmission method
WO2007046221
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.04.2007
Insert, test tray and semiconductor testing apparatus
WO2007043177
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
19.04.2007
Scattering Light Measuring Instrument
WO2007043402
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
19.04.2007
Testing apparatus, pin electronic card, electric device and switch
WO2007043482
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.04.2007
Testing apparatus, program, and recording medium
WO2007043480
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.04.2007
Electronic device, load variation compensating circuit, power supply apparatus, and testing apparatus
WO2007037110
Elektronik & Schaltungstechnik
29.03.2007
Electron beam exposure system, and method for cleaning electron beam exposure system
WO2007034659
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.03.2007
Tcp Handler
WO2007032077
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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