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Advantest Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

1.227
Patente
2000–2026
Anmeldejahre
27
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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1.227 gesamt
Patent
22.11.2006
Halbleiterbauelement-Testgerät und Bauelemente-Schnittstellenleiterplatte
EP1724598
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
16.11.2006
Test apparatus, test method and semiconductor device
WO2006120853
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
16.11.2006
Test device
WO2006120951
Akustik, Musik & Datenspeicherung
09.11.2006
Testing apparatus
WO2006118012
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
08.11.2006
Testgerät und Kabelführungseinheit
EP1720025
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
02.11.2006
Kontakt-Pin, Sondenkarten damit und Testvorrichtung für Elektronische Einrichtungen
EP1717590
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.11.2006
Socket and electronic component testing apparatus using such socket
WO2006114828
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
02.11.2006
Pick-and-place mechanism for electronic part, elctronic part handling device, and method of sucking electronic part
WO2006114836
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
19.10.2006
Electronic component handling apparatus
WO2006109358
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
11.10.2006
Vorrichtung, Verfahren und Programm zur Anzeige der Signalformqualität eines Cdma-Signals und Aufzeichnungsmedium, auf dem das Programm Aufgezeichnet Ist
EP1304822
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
05.10.2006
Clock changing apparatus and testing apparatus
WO2006104042
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
28.09.2006
Measuring device, graphics generating method, program and recording medium
WO2006100784
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
28.09.2006
Oscillator apparatus for generating signals on the basis of reference signal
WO2006101090
Elektronik & Schaltungstechnik
13.09.2006
Darstellung der Qualität eines Multiplex-Signales, Verfahren, Programm und Speichermedium, auf dem das Programm Gespeichert Ist
EP1300974
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
08.09.2006
Testing device, and testing method
WO2006092953
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
08.09.2006
Potential Comparator
WO2006093230
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.09.2006
Verzögerungsschaltung und Testvorrichtung
EP1699134
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
30.08.2006
Schaltung mit Variabler Verzögerung
EP1696564
Elektronik & Schaltungstechnik
24.08.2006
Burn-in apparatus
WO2006087772
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.08.2006
Electronic Component Test Equipment
WO2006085364
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.08.2006
Power amplifying circuit and test apparatus
WO2006085566
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
09.08.2006
Synchronisation von Modulen für Analog- und Mischsignalprüfung
EP1687648
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
09.08.2006
Testvorrichtung
EP1687649
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
02.08.2006
Timing-Komparator, Daten-Sampling-Einrichtung und Testeinrichtung
EP1686388
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
27.07.2006
Test instrument and test method
WO2006077685
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
27.07.2006
Signal processing apparatus
WO2006077992
Elektronik & Schaltungstechnik
27.07.2006
Film-forming apparatus, film-forming method, manufacturing method, and titanium film
WO2006077891
Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
20.07.2006
Electronic component testing apparatus
WO2006075391
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
20.07.2006
Apparatus for manufacturing taped insulated conductor and method of controlling tape winding tension
WO2006075762
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.07.2006
Gemultiplexte Signalqualitätsanzeige, Verfahren und Programm und Aufzeichnungsmedium, auf dem das Programm Aufgezeichnet Ist
EP1304823
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
29.06.2006
Peltier element drive method and circuit, peltier module attaching structure, and electronic component handling device
WO2006067838
Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
29.06.2006
Optical switch and optical test device
WO2006067941
Optik & Fototechnik
29.06.2006
Convolutional Calculation Circuit
WO2006068196
Elektronik & Schaltungstechnik
21.06.2006
Testprogramm-Debug-Einrichtung, Halbleiter-Testeinrichtung, Testprogramm-Debug-Verfahren und Testverfahren
EP1672508
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
15.06.2006
Testing apparatus
WO2006062067
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
14.06.2006
Vorrichtung zur Messung Elektromagnetischer Wellen
EP1412766
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
08.06.2006
Electronic component handling apparatus
WO2006059360
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
08.06.2006
Electronic component handling device and defective component determination method
WO2006059553
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
08.06.2006
Test Equipment
WO2006059548
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
08.06.2006
Da converter test method, da converter test device, and da converter
WO2006059614
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik

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