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Advantest Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

1.227
Patente
2000–2026
Anmeldejahre
27
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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1.227 gesamt
Patent
07.06.2006
Stromquelleneinrichtung, Testeinrichtung und Stromquellen-Spannungs-Stabilisierungseinrichtung
EP1666897
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
07.06.2006
Testvorrichtung und Testmodul
EP1666904
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
07.06.2006
Testverfahren, Kommunikationseinrichtung und Testsystem
EP1667389
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
07.06.2006
Halbleiter-Prüfeinrichtung
EP1666899
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
07.06.2006
Halbleiterprüfsystem
EP1666900
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
07.06.2006
Testvorrichtung
EP1666903
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
07.06.2006
Testvorrichtung und Schreibsteuerschaltung
EP1666902
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
07.06.2006
Testvorrichtung und Testverfahren
EP1666901
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
31.05.2006
Mustererzeugungs-Einrichtung und Test-Einrichtung
EP1662265
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
26.05.2006
Insert and pusher for electronic component handling apparatus, socket guide for test head and electronic component handling apparatus
WO2006054361
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
26.05.2006
Testing apparatus
WO2006054435
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
26.05.2006
Insert for electronic-parts-handling device, pusher, socket guide for test head, and electronic-parts-handling device
WO2006054765
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
18.05.2006
Test equipment and test method of semiconductor memory having a plurality of banks
WO2006051666
Akustik, Musik & Datenspeicherung
18.05.2006
Actual-ray and image-ray distinction in frequency converters for spectrum analysers
WO2006051499
Elektronik & Schaltungstechnik
18.05.2006
Annulation D'image Dans des Convertisseurs De Fréquence Pour des Analyseurs De Spectre
WO2006051498
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
27.04.2006
Waveform converting apparatus, waveform converting method, and testing apparatus
WO2006043465
Elektronik & Schaltungstechnik
26.04.2006
Sockel und Testeinrichtung
EP1650837
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
20.04.2006
Electronic component handling apparatus and method for correcting electronic component position shift
WO2006040797
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
20.04.2006
Testing device and testing method for testing object memory storing data raw with error correcting codes added
WO2006040900
Akustik, Musik & Datenspeicherung
20.04.2006
Timing generator and testing apparatus
WO2006041063
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
20.04.2006
Test device, test method, and electronic device
WO2006041059
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
12.04.2006
Gassammeleinheit, Prüfkopf und Ic-Bauelementprüfvorrichtung
EP1645318
Elektronik & Schaltungstechnik
06.04.2006
Current consumption balance circuit, compensation current amount adjusting method, timing generator, and semiconductor testing apparatus
WO2006035604
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.04.2006
Waveform shaping circuit and semiconductor testing apparatus having that waveform shaping circuit
WO2006035647
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.04.2006
Power supply apparatus and testing apparatus
WO2006035654
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.04.2006
Program, test apparatus and testing method
WO2006036035
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
30.03.2006
Delay lock loop circuit, phase lock loop circuit, timing generator, semiconductor tester and semiconductor integrated circuit
WO2006033203
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
30.03.2006
High frequency circuit device
WO2006033271
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
23.03.2006
Method, jig and jig unit for cleaning optical connector, and optical connector
WO2006030796
Optik & Fototechnik
23.03.2006
Inverse characteristic measuring instrument, distortion compensator, method, program, and recording medium
WO2006030919
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
22.03.2006
Teilchenstrahlgerät
EP1288996
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.03.2006
Übertragungssystem, Empfänger, Testgerät und Testkopf
EP1638244
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
09.03.2006
Pressing mechanism, electronic component handling equipment and electronic component contact method
WO2006025109
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
09.03.2006
Variable delay circuit, macro cell data, logic verifying method, testing method, and electronic device
WO2006025285
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
09.03.2006
Socket for optical module
WO2006025434
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
09.03.2006
Logic verification method, logic module data, device data, and logic verification device
WO2006025412
Software & Datenverarbeitung Halbleiter & Elektrische Bauelemente
09.03.2006
Flow control method, communication equipment and tcp communication system
WO2006025469
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
09.03.2006
Bimorph element, bimorph switch, mirror element, and process for producing them
WO2006025456
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.03.2006
Test device and test method
WO2006022108
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
23.02.2006
Test device and test method
WO2006018947
Akustik, Musik & Datenspeicherung

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