Advantest Logo

Advantest Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

1.227
Patente
2000–2026
Anmeldejahre
27
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

Patente durchsuchen

1.227 gesamt
Patent
23.02.2006
Differential comparator circuit, test head, and test device
WO2006019007
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
23.02.2006
Terminating circuit, testing apparatus, test head, and communication device
WO2006019006
Elektronik & Schaltungstechnik
16.02.2006
Power supply apparatus
WO2006016615
Steuerungs- & Regelungstechnik
26.01.2006
Jitter application circuit, and test device
WO2006008908
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
26.01.2006
Electronic component testing apparatus and method for configuring electronic component testing apparatus
WO2006009253
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
26.01.2006
Electronic component testing apparatus
WO2006009282
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
26.01.2006
Oscillation circuit, and test device
WO2006009111
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
19.01.2006
Pusher and electronic component handling apparatus
WO2006006220
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
19.01.2006
Delay amount measuring method
WO2006006354
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
18.01.2006
Einlage für eine Handhabungseinrichtung für Elektronische Komponenten, Tablett und Handhabungseinrichtung für Elektronische Komponenten
EP1617230
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
12.01.2006
Data transmitting method and data transmitting device
WO2006004163
Software & Datenverarbeitung
05.01.2006
Test instrument and test method
WO2006001164
Akustik, Musik & Datenspeicherung
05.01.2006
Fixture characteristic measurement device, method, program, recording medium, network analyzer, and semiconductor test device
WO2006001234
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.01.2006
Light source device
WO2006001405
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.01.2006
Verfahren und Apparat zur Mehrfach-Elektronenstrahlbelichtung
EP1387389
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.01.2006
Verbindungseinheit, Testkopf und Testeinrichtung
EP1612571
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
29.12.2005
Signal readout system and test equipment
WO2005125187
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
29.12.2005
Mosfet drive circuit, programmable power supply and semiconductor test apparatus
WO2005124377
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
22.12.2005
Image Sensor Test Equipment
WO2005121739
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
22.12.2005
High-Precision Foamed Coaxial Cable
WO2005122188
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.12.2005
Apparatus for analyzing wideband signals, wideband period jitter, and wideband skew
WO2005121815
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
22.12.2005
Burn-in apparatus
WO2005121822
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
22.12.2005
Method for diagnosing status of burn-in apparatus
WO2005121823
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
22.12.2005
Heater power control circuit and burn-in apparatus using the same
WO2005122641
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
22.12.2005
Timing generator and semiconductor testing apparatus
WO2005121827
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
15.12.2005
Analog/digital converting method and analog/digital converting apparatus
WO2005119918
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
08.12.2005
Power supply current measuring apparatus and testing apparatus
WO2005116672
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
24.11.2005
Oscillation detecting apparatus and testing apparatus
WO2005111639
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.11.2005
Tcp Handler
WO2005109016
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.11.2005
Method and apparatus for improving the frequency resolution of a direct digital synthesizer
WO2005109147
Software & Datenverarbeitung
10.11.2005
Manual test device
WO2005106512
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
10.11.2005
Direct current test apparatus
WO2005106513
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
09.11.2005
Belichtungsgerät, Verfahren zur Steuerung dieses Geräts und Verfahren zur Herstellung von Vorrichtungen
EP1333466
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.11.2005
Tcp handling device
WO2005103743
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
03.11.2005
Tcp handling device
WO2005103741
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
03.11.2005
Tcp handling device
WO2005103742
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
03.11.2005
Jitter Generating Circuit
WO2005104368
Elektronik & Schaltungstechnik
27.10.2005
Test equipment for image sensor
WO2005100944
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
27.10.2005
Micro thermal chamber having proximity control temperature management for devices under test
WO2005101040
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
20.10.2005
Test apparatus, phase adjusting method and memory controller
WO2005098868
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung

Wer vertritt Advantest?

Die Kanzleien und Patentanwälte, die Advantest vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.

Zum Anmelder-Profil

Technologiefelder

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
870
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
259
Elektronik & Schaltungstechnik
151
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
105
Software & Datenverarbeitung
71
Akustik, Musik & Datenspeicherung
58
Optik & Fototechnik
52
Medizintechnik & Gesundheit
23
Elektrische Energietechnik
22
Steuerungs- & Regelungstechnik
14
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
8
Verpackungs- & Fördertechnik
8

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen