Applied Materials Patente

🇺🇸 USA

US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.

10.794

Patente

2000–2025

Anmeldejahre

Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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Anmeldejahr

Veröffentlicht	Patent	Land
09.03.2006	09.03.2006 Semiconductor processing using energized hydrogen gas and in combination with wet cleaning WO2006025967 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.07.2005 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.03.2006	02.03.2006 Low temperature process to produce low-k dielectrics with low stress by plasma-enhanced chemical vapor deposition (pecvd) WO2006024017 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 24.08.2005 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
23.02.2006	23.02.2006 Thin tungsten silicide layer deposition and gate metal integration WO2006019603 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.07.2005 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
23.02.2006	23.02.2006 Deposition of nano-crystal silicon using a single wafer chamber WO2006019861 Metallurgie & Oberflächentechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.07.2005 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
23.02.2006	23.02.2006 Shadow frame with mask panels WO2006020006 Metallurgie & Oberflächentechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 15.07.2005 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
23.02.2006	23.02.2006 Atomic layer deposition of tantalum-containing materials using the tantalum precursor taimata WO2006020265 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 19.07.2005 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
23.02.2006	23.02.2006 Elimination of flow and pressure gradients in low species utilisation processes WO2006020513 Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 04.08.2005 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
23.02.2006	23.02.2006 Methods and apparatus for adjusting belt tension of a scrubber WO2006020688	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 10.08.2005 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
22.02.2006	22.02.2006 Aufrechterhaltung der Abmessungen von auf einer Lithographischen Maske Geätzten Strukturelementen EP1627257 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 06.05.2004 Anhängig Vertretung Bayliss, Geoffrey Cyril · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
22.02.2006	22.02.2006 Serielles Routen von Optischen Signalen EP1627249 Optik & Fototechnik Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 28.05.2004 Anhängig Vertretung Hutchinson, Glenn Stanley · Sheffield McLeish, Nicholas Alistair Maxwell · London Bayliss, Geoffrey Cyril · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
22.02.2006	22.02.2006 Auf Verunreinigungen Basierende Wellenleiterdetektoren EP1627454 Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 28.05.2004 Anhängig Vertretung Cross, Rupert Edward Blount · London Bayliss, Geoffrey Cyril · London Hutchinson, Glenn Stanley · Sheffield Boult Wade Tennant LLP · London Boult Wade Tennant · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
22.02.2006	22.02.2006 Haltevorrichtung für eine Blende EP1628322 Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 17.08.2004 Anhängig Vertretung GROSSE BOCKHORNI SCHUMACHER · München Bockhorni & Brüntjen Partnerschaft Patentanwälte mbB · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.02.2006	16.02.2006 Method of determining thermal property of substrate and method of deciding heat treatment condition WO2006016579 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 09.08.2005 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.02.2006	16.02.2006 Semiconductor device manufacturing apparatus and a method of controlling a semiconductor device manufacturing process WO2006016165 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 11.08.2005 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
15.02.2006	15.02.2006 Magnetronsputtereinrichtung, Zylinderkathode und Verfahren zur Aufbringung von dünnen Schichten aus unterschiedlichen Materialien auf einem Substrat EP1626432 Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 10.08.2004 Anhängig Vertretung Grosse Schumacher Knauer von Hirschhausen · Essen GROSSE BOCKHORNI SCHUMACHER · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
09.02.2006	09.02.2006 Silicon nitride film with stress control WO2006014471 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 05.07.2005 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
09.02.2006	09.02.2006 Polishing Solution Retainer WO2006014728 Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 19.07.2005 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
09.02.2006	09.02.2006 Method of controlling the film properties of a cvd-deposited silicon nitride film WO2006014612 Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 18.07.2005 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
09.02.2006	09.02.2006 Large substrate test system WO2006014794 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 21.07.2005 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
09.02.2006	09.02.2006 Closed loop clean gas methods and systems WO2006015072 Metallurgie & Oberflächentechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.07.2005 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
09.02.2006	09.02.2006 Electron beam test system stage WO2006015157 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 29.07.2005 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.02.2006	02.02.2006 Electrochemical Plating Cell With an Auxiliary Electrode in an Isolated Anolyte Compartment WO2006012112 Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 20.06.2005 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
01.02.2006	01.02.2006 Verdampfung von Vorlaüfern an der Verwendungsstelle EP1202321 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.09.2001 Anhängig Vertretung Kirschner, Klaus Dieter · München Kirschner, Klaus Dieter · München Kirschner, Klaus Dieter · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.01.2006	26.01.2006 Method of determining dose uniformity of a scanning ion implanter WO2006008543 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.07.2005 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
25.01.2006	25.01.2006 Ladungsschleuse mit äusserer Ladungsgebiet EP1058291 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 08.05.2000 Anhängig Vertretung Kirschner, Klaus Dieter · München Kirschner, Klaus Dieter · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
25.01.2006	25.01.2006 Vorrichtung zum Transportieren eines Flachen Substrats in einer Vakuumkammer EP1618056 Verpackungs- & Fördertechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 08.03.2004 Anhängig Vertretung Schickedanz, Willi · Offenbach Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
19.01.2006	19.01.2006 Improving Water-Barrier Performance Of an Encapsulating Film WO2006007313 Metallurgie & Oberflächentechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 06.06.2005 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
18.01.2006	18.01.2006 Verfahren zur Erkennung von Scheibelage EP1047114 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 14.04.2000 Anhängig Vertretung Cross, Rupert Edward Blount · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
18.01.2006	18.01.2006 Verfahren und Vorrichtung zur "in-Situ" Überwachung der Dicke Während des Chemisch-Mechanischen Planiervorganges EP1294534 Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 18.05.2001 Erteilt am 18.01.2006 Vertretung Bayliss, Geoffrey Cyril · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
18.01.2006	18.01.2006 Verfahren zur Ionenimplantation EP1593753 Metallurgie & Oberflächentechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 03.05.2005 Anhängig Vertretung Zimmermann, Gerd Heinrich · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
11.01.2006	11.01.2006 Verfahren und Vorrichtung zur robotischen Ausrichtung von Substraten EP1126506 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 20.12.2000 Anhängig Vertretung Bayliss, Geoffrey Cyril · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
11.01.2006	11.01.2006 Algorithmus für die Echtzeit-Prozesssteuerung des Elektropolierens EP1613794 Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Metallurgie & Oberflächentechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 12.03.2004 Anhängig Vertretung Zimmermann, Gerd Heinrich · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
11.01.2006	11.01.2006 Verfahren zur Abscheidung von Hafniumnitrid EP1613790 Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 24.03.2004 Anhängig Vertretung Bayliss, Geoffrey Cyril · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
11.01.2006	11.01.2006 angeordnete Targetelemente zum Zerstäuben EP1614767 Metallurgie & Oberflächentechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 08.07.2005 Anhängig Vertretung Zimmermann, Gerd Heinrich · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.01.2006	04.01.2006 Apparat und Verfahren zur Reduzierung des Aufheizens des Werkstücks bei der Ionen-Implantation EP1083587 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 17.04.2000 Erteilt am 04.01.2006 Vertretung Cross, Rupert Edward Blount · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.01.2006	04.01.2006 Substrat-Reklamations-Verfahren und Apparat EP1482538 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 11.05.2004 Anhängig Vertretung Bayliss, Geoffrey Cyril · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.01.2006	04.01.2006 Ein Verfahren und eine Vorrichtung für den Vertikalen Transfer von Halbleitersubstraten zwischen Reinigungsmodulen EP1611600 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 31.03.2004 Anhängig Vertretung Bayliss, Geoffrey Cyril · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
29.12.2005	29.12.2005 Edge Bead Removal By an Electro Polishing Process WO2005123317 Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Metallurgie & Oberflächentechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 09.06.2005 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
28.12.2005	28.12.2005 Verfahren zur Nachbehandlung einer abgeschiedenen, kohlenstoffhaltigen Schicht auf einem Substrat EP1061156 Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 10.05.2000 Erteilt am 28.12.2005 Vertretung Kirschner, Klaus Dieter · München Kirschner, Klaus Dieter · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
28.12.2005	28.12.2005 Verfahren zur Reduzierung der Dielektrizitätskonstante in einer SiOC Schicht EP1195451 Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 29.08.2001 Erteilt am 28.12.2005 Vertretung Kirschner, Klaus Dieter · München Kirschner, Klaus Dieter · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen