Carl Zeiss Microscopy GmbH Patente
🇩🇪 Deutschland
Deutscher Hersteller von Mikroskopen und Bildgebungssystemen für Forschung und Industrie, Teil der Zeiss-Gruppe.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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609 gesamt| Patent | |||
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04.03.2026
Computerimplementiertes Verfahren, Verfahren, Messgerät und Computerprogrammprodukt
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 29.03.2022
Erteilt am 04.03.2026
Vertretung
Witte, Weller & Partner Patentanwälte mbB · Stuttgart
Zusammenfassung
Die vorliegende Erfindung betrifft ein computerimplementiertes Verfahren (40) zum Erzeugen einer Tiefenkarte eines Bereichs einer Oberfläche eines Werkstücks (12), mit den folgenden Schritten: Empfangen (42) eines Fokalbildstapels, wobei der Fokalbildstapel eine Mehrzahl von Bildern des Werkstücks (12) aufweist, wobei die Bilder den Bereich der Oberfläche des Werkstücks (12) mit in einer Tiefenrichtung unterschiedlichen, definierten Fokalebenenpositionen (22) abbilden, wobei jedem Bild des Fokalbildstapels eine Fokalebenposition (22) zugeordnet ist, wobei Bildpunkte der Bilder jeweils einem entsprechendem Objektpunkt auf der Oberfläche des Werkstücks (12) zugeordnet sind; Bestimmen (44) eines Fokuswerts jedes Bildpunkts jedes Bildes des Fokalbildstapels; Einpassen (46) einer Funktion entlang der Tiefenrichtung (20) an die Fokuswerte derjenigen Bildpunkte der Bilder, die demselben Objektpunkt zugeordnet sind; Bestimmen (48) eines Tiefenwerts jedes Objektpunkts auf der Oberfläche des Werkstücks (12) in der Tiefenrichtung (20) basierend auf einem Extremum der eingepassten Funktion; und Erzeugen (50) der Tiefenkarte des Bereichs der Oberfläche des Werk-stücks (12) basierend auf den bestimmten Tiefenwerten. Des Weiteren betrifft die vorliegende Erfindung ein Verfahren (60) zum Vermessen einer Oberfläche eines Werkstücks (12), ein Messgerät zum Vermessen einer Oberfläche eines Werkstücks (12) und ein Computerprogrammprodukt. |
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25.02.2026
Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung von Helligkeitsinformationen einer Probe
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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18.02.2026
Mikroskop und Verfahren zur Formung eines Mikroskopischen Bildes mit Erweiterter Tiefenschärfe
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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18.02.2026
Mikroskop und Verfahren zur Mikroskopie
Optik & Fototechnik
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11.02.2026
Materialprüfung mit Winkelvariabler Beleuchtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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28.01.2026
Beleuchtungsmodul für Winkelselektive Beleuchtung
Optik & Fototechnik
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14.01.2026
Mikroskopisches Verfahren und Mikroskop mit Gesteigerter Auflösung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 22.10.2010
Erteilt am 14.01.2026
Vertretung
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02.01.2026
Elektronendetektor für ein Elektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.06.2025
Anhängig
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31.12.2025
Verfahren und System zur Ereignisbasierten Bildgebung
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 21.07.2021
Erteilt am 31.12.2025
Vertretung
RDL Patentanwälte PartG mbB · Stuttgart
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24.12.2025
Bildsensor und Verfahren zur Herstellung eines Bildsensors
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 17.07.2023
Erteilt am 24.12.2025
Vertretung
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17.12.2025
Verfahren zum Ausführen eines Computerprogrammes in einem Rechnerverbund zum Steuern eines Mikroskops
Software & Datenverarbeitung
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11.12.2025
Scanmikroskop und dessen Verwendung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 02.06.2025
Anhängig
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22.10.2025
Verfahren, Vorrichtung und Softwareprogramm zur Auflösungssteigerung in der Mikroskopie
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 08.11.2022
Erteilt am 22.10.2025
Vertretung
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15.10.2025
Mikroskopie-Verfahren und Mikroskop zur Abbildung von Proben mittels Manipulierter Anregungsstrahlung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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08.10.2025
Referenzprobe für ein Mikroskop sowie Verfahren zur Kalibrierung und Referenzierung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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08.10.2025
Optischer Faserstecker und Justierverfahren
Optik & Fototechnik
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25.09.2025
Superauflösendes Mikroskop mit Schneller Quasikonfokaler Detektion
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 20.03.2025
Anhängig
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10.09.2025
Wechseleinrichtung für Optische Komponenten in einem Mikroskop
Optik & Fototechnik
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Zusammenfassung
Wechseleinrichtung für optische Komponenten bei einem Mikroskop, mit- einer optischen Komponente (12), die eine plane Fläche (13) aufweist,- einem Träger (1) zum Einlegen und/oder Haltern der optischen Komponente (12), und- einer Aufnahme (26) zum Haltern des Trägers (1) in einem- Strahlengang des Mikroskops,dadurch gekennzeichnet, dass- der Träger (1) Auflageflächen (8) für die plane Fläche (13) der optischen Komponente (1) und in derselben Ebene liegende Positionierflächen (10) aufweist, die bei eingelegter optischer Komponente (12) von diesem nicht überdeckt werden, und- die Aufnahme (26) Anlageflächen (28) zur Anlage der Positionierflächen (10) und erste Fixiermittel (11) zur Fixierung des an der Aufnahme (26) positionierten Trägers (1) und zur Beaufschlagung der Positionierflächen (10) auf die Anlageflächen (28) aufweist. |
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10.09.2025
Kornbasiertes Minerologie-Segmentierungssystem und -Verfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 23.10.2020
Erteilt am 10.09.2025
Vertretung
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04.09.2025
Method for determining the image sharpness of a particle-optical image, method for the automated adjustment of a particle beam system with regard to its image sharpness, computer program product and particle beam system
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 24.02.2025
Anhängig
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06.08.2025
Verfahren zum Kalibrieren einer Phasenmaske und Mikroskop
Optik & Fototechnik
Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik
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06.08.2025
Störungskompensation für Ladungsteilchenstrahlvorrichtungen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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07.05.2025
Photonen Zählender Bildsensor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektronik & Schaltungstechnik
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16.04.2025
Lichtblattmikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 20.10.2017
Erteilt am 16.04.2025
Vertretung
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09.04.2025
Verfahren und Vorrichtung zur Ansteuerung eines Akustooptischen Bauteils
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 19.06.2015
Erteilt am 09.04.2025
Vertretung
Meyer, Jork · Jena
Loritz, Rainer · Jena
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27.03.2025
Multimodales Scanmikroskop und Verfahren zu dessen Betrieb
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 03.09.2024
Anhängig
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12.03.2025
Verfahren zur Abbildung einer Probe mit einer Abbildungsvorrichtung
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 02.10.2023
Anhängig
Vertretung
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19.02.2025
Hochauflösendes Mikroskop und Verfahren zur Zwei- oder Dreidimensionalen Positionsbestimmung von Objekten
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 14.12.2010
Erteilt am 19.02.2025
Vertretung
Hampe, Holger · Jena
Meyer, Jork · Jena
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15.01.2025
Verfahren und Vorrichtung zum Erzeugen eines Übersichtskontrastbildes eines Probenträgers in einem Mikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 20.08.2020
Erteilt am 15.01.2025
Vertretung
Müller, Silke · Jena
Wagner, Steffi · Jena
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15.01.2025
Hybrider Differentieller Defokussierungsphasenkontrast
Optik & Fototechnik
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15.01.2025
Hybrider Differentieller Defokussierungsphasenkontrast
Optik & Fototechnik
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27.11.2024
Autofokus mit Winkelvariabler Beleuchtung
Optik & Fototechnik
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13.11.2024
Verfahren zum Auswerten von Messdaten eines Lichtfeldmikro-Skops und Vorrichtung zur Lichtfeldmikroskopie
Optik & Fototechnik
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06.11.2024
Lichtrastermikroskop mit Vereinfachter Optik, insbesondere mit Veränderlicher Pupillenlage
Optik & Fototechnik
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06.11.2024
Mikroskop und Verfahren zur SPIM Mikroskopie
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 17.12.2014
Erteilt am 06.11.2024
Vertretung
Loritz, Rainer · Jena
Hampe, Holger · Jena
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30.10.2024
Mikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 17.09.2010
Erteilt am 30.10.2024
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30.10.2024
Verfahren zur Hochauflösenden Scanning-Mikroskopie
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 11.03.2020
Erteilt am 30.10.2024
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16.10.2024
Bildbasierte Wartungsvorhersage und Detektion von Fehlbedienungen
Software & Datenverarbeitung
Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik
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Status
Angemeldet am 12.12.2019
Erteilt am 16.10.2024
Vertretung
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16.10.2024
Intelligentes Fotografisches Mikroskopsystem
Optik & Fototechnik
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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25.09.2024
Hochauflösende Scanning-Mikroskopie
Optik & Fototechnik
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