Carl Zeiss Microscopy GmbH Patente

🇩🇪 Deutschland

Deutscher Hersteller von Mikroskopen und Bildgebungssystemen für Forschung und Industrie, Teil der Zeiss-Gruppe.

609

Patente

2000–2025

Anmeldejahre

Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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609 gesamt

Anmeldejahr

Veröffentlicht	Patent	Land
01.04.2015	01.04.2015 Detektor für Geladene Teilchen EP2446459 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 21.06.2010 Erteilt am 01.04.2015 Vertretung Carl Zeiss AG - Patentabteilung · Oberkochen Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
01.04.2015	01.04.2015 Systeme mit Geladenen Partikeln Variabler Energie EP2483905 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 15.09.2010 Erteilt am 01.04.2015 Vertretung Carl Zeiss AG - Patentabteilung · Oberkochen Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.03.2015	26.03.2015 Hochauflösende Scanning-Mikroskopie WO2015040127 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 18.09.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
12.03.2015	12.03.2015 Beleuchtungsvorrichtung und Digitaler Profilprojektor WO2015032668 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.08.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.03.2015	04.03.2015 Hochspannungsversorgungseinheit für ein Teilchenstrahlgerät EP2535920 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 15.06.2012 Anhängig Vertretung Tongbhoyai, Martin · Köln Zusammenfassung The invention relates to a high-voltage supply unit (100) for a particle beam device (11, 12) and to a particle beam device (11, 12) comprising a high-voltage supply unit (100) of this type. The high-voltage supply unit (100) has at least one high-voltage cable (101) for feeding a high voltage, and comprising at least one measuring device (105) for measuring the high voltage, wherein the measuring device (105) has at least one first capacitor (108), and wherein the first capacitor is formed by at least one first section (108) of the high-voltage cable (101). Alle Patent-Informationen
25.02.2015	25.02.2015 Mikroskop EP2840429 Optik & Fototechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 28.07.2014 Anhängig Vertretung Müller, Silke · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
29.01.2015	29.01.2015 Optoelektronischer Detektor, insbesondere für Hochauflösende Lichtrastermikroskope WO2015011046 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 18.07.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
14.01.2015	14.01.2015 Verfahren zur Detektion und Zufuhrsteuerung eines Immersionsmediums EP2824498 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 11.06.2014 Anhängig Vertretung Müller, Silke · Jena Scholze, Humbert · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
07.01.2015	07.01.2015 Tiefenauflösungsgesteigerte Mikroskopie EP2641078 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 11.11.2011 Erteilt am 07.01.2015 Vertretung Geyer, Fehners & Partner · München Patentanwälte Geyer, Fehners & Partner mbB · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
07.01.2015	07.01.2015 Transmissionselektronenmikroskop und -verfahren zum Betrieb eines Transmissionselektronenmikroskops EP2654067 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 18.04.2013 Anhängig Vertretung Diehl & Partner · München Diehl & Partner GbR · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
17.12.2014	17.12.2014 Teilchenstrahlgerät mit einer Blendeneinheit und Verfahren zur Einstellung eines Strahlstroms in einem Teilchenstrahlgerät EP2278607 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.07.2010 Erteilt am 17.12.2014 Vertretung Tongbhoyai, Martin · Köln Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.12.2014	04.12.2014 Vorrichtung zur Abbildung einer Probe WO2014191381 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.05.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.11.2014	26.11.2014 Optische Anordnung zur Unterdrückung von Falschlicht EP1353209 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 18.05.2000 Erteilt am 26.11.2014 Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
19.11.2014	19.11.2014 Verfahren zur Einstellung einer Position eines Trägerelements in einem Teilchenstrahlgerät EP2645401 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 29.03.2013 Anhängig Vertretung Tongbhoyai, Martin · Köln Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
19.11.2014	19.11.2014 Vorrichtung und Verfahren zur Oberflächenbearbeitung eines Substrats EP2802681 Metallurgie & Oberflächentechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.01.2013 Anhängig Vertretung Kohler Schmid Möbus Patentanwälte · Reutlingen Kohler Schmid Möbus · Stuttgart Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.11.2014	13.11.2014 Mikroskop und Verfahren für die 3D-Hochauflösende Lokalisierungsmikroskopie mit Vergrössertem Messbereich WO2014180680 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 25.04.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
12.11.2014	12.11.2014 Verfahren zur Präparation einer Probe für elektronenmikroskopische Untersuchungen, sowie dabei verwendete Probenträger und Transporthalter EP1818970 Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 16.09.2004 Erteilt am 12.11.2014 Vertretung Witte, Alexander · Stuttgart Witte, Weller & Partner Patentanwälte mbB · Stuttgart Witte, Weller & Partner · Stuttgart Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
22.10.2014	22.10.2014 Steuergerät und Verfahren zur Steuerung eines motorisierten Digitalmikroskops EP2793068 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 24.03.2014 Anhängig Vertretung Müller, Silke · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
15.10.2014	15.10.2014 Verfahren zum Betrieb eines Laser-Scanners und damit ausgestattetes Bearbeitungssystem EP2554323 Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 03.08.2012 Erteilt am 15.10.2014 Vertretung Diehl & Partner · München Diehl & Partner GbR · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
08.10.2014	08.10.2014 Verfahren und Vorrichtung zum Mikroskopischen Untersuchen einer Probe, Computerprogramm und Computerprogrammprodukt EP2130087 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 16.05.2008 Erteilt am 08.10.2014 Vertretung Schiffer, Axel Martin · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
01.10.2014	01.10.2014 Mikroskop mit Wechseleinrichtung für Optische Elemente EP2018585 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.04.2007 Erteilt am 01.10.2014 Vertretung Scholze, Humbert · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
01.10.2014	01.10.2014 Lichtmikroskop und Verfahren zum Untersuchen einer mikroskopischen Probe EP2784564 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 24.03.2014 Anhängig Vertretung Loritz, Rainer · Jena Hampe, Holger · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
17.09.2014	17.09.2014 Auflösungsgesteigerte Mikroskopie EP2356505 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 14.11.2009 Erteilt am 17.09.2014 Vertretung Patentanwälte Geyer, Fehners & Partner mbB · München Geyer, Fehners & Partner · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.09.2014	04.09.2014 Photoakustisches Mikroskop WO2014131631 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 14.02.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.09.2014	04.09.2014 Mikroskop mit einem Kombinierten Optischen und Akustischen Objektiv WO2014131853 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.02.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
28.08.2014	28.08.2014 Objektiv und Optisches Beobachtungsgerät WO2014128119 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 18.02.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
21.08.2014	21.08.2014 Verfahren zum Betreiben eines Lichtmikroskops und Optikanordnung WO2014124849 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 05.02.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
06.08.2014	06.08.2014 Kreuztisch für Mikroskope EP2588912 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 16.06.2011 Erteilt am 06.08.2014 Vertretung Patentanwälte Geyer, Fehners & Partner mbB · München Geyer, Fehners & Partner · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
23.07.2014	23.07.2014 Lichtmikroskop und Verfahren zur Bildaufnahme mit einem Lichtmikroskop EP2645146 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 25.03.2013 Erteilt am 23.07.2014 Vertretung Schiffer, Axel Martin · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
25.06.2014	25.06.2014 Verfahren zur Erfassung des Wellenlängenabhängigen Verhaltens einer Beleuchteten Probe EP1307726 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 04.08.2001 Erteilt am 25.06.2014 Vertretung Hampe, Holger · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
25.06.2014	25.06.2014 Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Abtastung und Verwendung EP1617253 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 01.10.2004 Erteilt am 25.06.2014 Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
25.06.2014	25.06.2014 Lichtrastermikroskop mit punktförmiger Lichtquellenverteilung und Verwendung EP1617252 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 01.10.2004 Erteilt am 25.06.2014 Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
11.06.2014	11.06.2014 Vorrichtung zur Ablenkung oder Einlenkung eines Teilchenstrahls EP2195821 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 26.09.2008 Erteilt am 11.06.2014 Vertretung Freischem & Partner Patentanwälte mbB · Köln Patentanwälte Freischem · Köln Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.06.2014	04.06.2014 Mikroskop mit erhöhter Auflösung EP1617259 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 01.10.2004 Erteilt am 04.06.2014 Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.06.2014	04.06.2014 Mikroskopkörper oder -Stativ mit einer Einrichtung zum Objektivwechsel, insbesondere für Mikroskopobjektive von Fixed Stage-Mikroskopen EP2181353 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 25.06.2008 Erteilt am 04.06.2014 Vertretung Scholze, Humbert · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.06.2014	04.06.2014 Verfahren und Anordnung zur Optischen Erfassung einer Beleuchteten Probe EP2212739 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 26.09.2008 Erteilt am 04.06.2014 Vertretung Hampe, Holger · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
07.05.2014	07.05.2014 Teilchenstrahlsystem mit hohlem Lichtleiter EP2573796 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.09.2011 Erteilt am 07.05.2014 Vertretung Diehl & Partner · München Diehl & Partner GbR · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
24.04.2014	24.04.2014 Optikanordnung und Lichtmikroskop WO2014060270 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 09.10.2013 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
24.04.2014	24.04.2014 Vorrichtung zur Beleuchtung einer Probe mit einem Lichtblatt WO2014060271 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 09.10.2013 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
23.04.2014	23.04.2014 Verfahren zur Mikroskopischen Dreidimensionalen Abbildung einer Probe EP2193398 Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 16.09.2008 Erteilt am 23.04.2014 Vertretung Hampe, Holger · Jena Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen