Hitachi High-Tech Corporation Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
3.840
Patente
2001–2025
Anmeldejahre
25
Aktive Jahre
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
Patente durchsuchen
3.840 gesamt| Patent | |||
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10.10.2013
Flow cell, analysis equipment and analysis method using same
Pharma & Biotechnologie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 13.03.2013
Anhängig
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10.10.2013
Electron microscope, method for setting observation conditions for electron microscope, and method for observation using electron microscope
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 03.04.2013
Anhängig
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10.10.2013
Gas field ion source and ion beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 11.03.2013
Anhängig
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10.10.2013
Switch circuit, mass spectrometer, and control method for switch circuit
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 01.04.2013
Anhängig
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03.10.2013
Scanning Electron Microscope
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.02.2013
Anhängig
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03.10.2013
Ion milling apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.02.2013
Anhängig
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26.09.2013
Data processing device, semiconductor external view inspection device, and data volume increase alleviation method
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 01.11.2012
Anhängig
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26.09.2013
Liquid chromatographic analysis device and temperature control method for same
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 19.02.2013
Anhängig
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26.09.2013
Pattern sensing device and semiconductor sensing system
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 18.02.2013
Anhängig
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25.09.2013
Automatikanalysevorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 17.10.2011
Anhängig
Vertretung
Beetz & Partner mbB · München
Beetz & Partner · München
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19.09.2013
Defect inspection method and device therefor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 22.10.2012
Anhängig
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19.09.2013
Charged-particle-beam device, specimen-observation system, and operation program
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 15.03.2013
Anhängig
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19.09.2013
Charged-particle-beam device, specimen-observation system, and operation program
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 15.03.2013
Anhängig
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19.09.2013
Soundproof cover for charged-particle beam device, and charged-particle beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.02.2013
Anhängig
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12.09.2013
Ionization method, ionization apparatus, and mass analysis system
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 27.08.2012
Anhängig
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12.09.2013
Plasma Spectrometer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 20.11.2012
Anhängig
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12.09.2013
Spectrophotometer and absorption photometry method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 19.02.2013
Anhängig
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12.09.2013
Scanning-electron-microscope image processing device and scanning method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 20.02.2013
Anhängig
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12.09.2013
Specimen observation method and specimen pretreatment method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 20.02.2013
Anhängig
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06.09.2013
Semiconductor evaluation device and computer program
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 08.02.2013
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06.09.2013
Scanning Electron Microscope
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.02.2013
Anhängig
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06.09.2013
Scanning Electron Microscope
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 15.02.2013
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06.09.2013
Charged particle beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 15.02.2013
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06.09.2013
Charged particle beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 20.02.2013
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06.09.2013
Charged particle beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Angemeldet am 15.02.2013
Anhängig
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06.09.2013
Charged particle beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 20.02.2013
Anhängig
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06.09.2013
Charged particle beam device and charged particle beam irradiation method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 20.02.2013
Anhängig
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06.09.2013
Pattern dimension measurement device, charged particle beam device, and computer program
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.02.2013
Anhängig
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29.08.2013
Cooling source for circulation cooling system and ion microscope using same
Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.02.2013
Anhängig
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22.08.2013
Semiconductor measurement device and computer program
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 12.02.2013
Anhängig
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22.08.2013
Image-forming device, and dimension measurement device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 12.02.2013
Anhängig
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22.08.2013
Charged particle beam device, sample mask unit, and conversion member
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 06.02.2013
Anhängig
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22.08.2013
Image evaluation apparatus and pattern shape evaluation apparatus
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 12.02.2013
Anhängig
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22.08.2013
Charged particle beam device and operation condition setting device of charged particle beam device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 12.02.2013
Anhängig
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22.08.2013
Method for measuring overlay, measuring device, scanning electron microscope, and gui
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 06.02.2013
Anhängig
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15.08.2013
Defect observation method and device therefor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 22.10.2012
Anhängig
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15.08.2013
Charged particle beam device and wiring method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 01.02.2013
Anhängig
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15.08.2013
Surface measurement device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 16.01.2013
Anhängig
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15.08.2013
Charged particle beam apparatus
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.01.2013
Anhängig
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15.08.2013
Pattern evaluation method and pattern evaluation device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 30.01.2013
Anhängig
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Wer vertritt Hitachi High-Tech Corporation?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Hitachi High-Tech Corporation vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
Zum Anmelder-ProfilTechnologiefelder
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
2.200
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
1.630
Software & Datenverarbeitung
257
Pharma & Biotechnologie
247
Verfahrens- & Trenntechnik
148
Optik & Fototechnik
92
Elektronik & Schaltungstechnik
83
Medizintechnik & Gesundheit
71
Elektrische Energietechnik
64
Verpackungs- & Fördertechnik
58
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
41
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
29