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Hitachi High-Tech Corporation Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

4.287
Patente
2001–2026
Anmeldejahre
26
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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4.287 gesamt
Patent
30.03.2016
Zellkulturverfahren, Träger für Kulturen in Partikelform sowie Partikelumfassendes Zellaggregat
EP3000869
Pharma & Biotechnologie
23.03.2016
Stopfen-Öffnungs- und Schliessmechanismus sowie damit Ausgestattetes Automatisches Analysesystem
EP2728361
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.03.2016
Overlay measurement method, device and display device
WO2016039041
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
17.03.2016
Defect quantification method, defect quantification device, and defect evaluation value display device
WO2016038982
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.03.2016
Biopolymer analysis device and analysis system
WO2016038998
Pharma & Biotechnologie Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
10.03.2016
Electron beam device and gas supply device for electron beam device
WO2016035493
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.03.2016
Charged particle beam device equipped with stage device capable of measuring weight
WO2016031508
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.03.2016
Automatisches Analysesystem
EP2728362
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
11.02.2016
Solar power generation system
WO2016020962
Elektrische Energietechnik
11.02.2016
Ion-beam device and ion-beam irradiation method
WO2016021484
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.02.2016
Pattern height measurement device and charged particle beam device
WO2016016957
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
04.02.2016
Ion-milling device and ion-milling method
WO2016017660
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.02.2016
Automatic analysis device
WO2016017291
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
04.02.2016
Ion milling device, ion source, and ion milling method
WO2016017661
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.02.2016
Charged particle beam device
WO2016017561
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
28.01.2016
Cell dispersion device, and automatic subculture system using same
WO2016013392
Pharma & Biotechnologie
28.01.2016
Cell-number-concentration adjustment device, and automatic subculture system using same
WO2016013394
Pharma & Biotechnologie
28.01.2016
Cell dispersion measurement mechanism, and cell subculture system utilizing same
WO2016013395
Pharma & Biotechnologie
21.01.2016
Multichannel analysis device
WO2016009467
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
21.01.2016
Multichannel analysis device
WO2016009796
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
21.01.2016
Semiconductor inspection device and method of controlling semiconductor inspection device
WO2016009763
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
21.01.2016
Temperature Regulating Container
WO2016009777
Pharma & Biotechnologie Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
21.01.2016
Cell culture device and image analysis device
WO2016009789
Pharma & Biotechnologie
14.01.2016
Automatic analysis device
WO2016006363
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
14.01.2016
Mass spectrometry device
WO2016006390
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
14.01.2016
Automatic analysis device
WO2016006362
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
14.01.2016
Electron microscope and sample observation method
WO2016006375
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
14.01.2016
Analysis device and analysis method
WO2016006398
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
14.01.2016
Charged particle beam device and aberration corrector
WO2016006539
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.01.2016
Substrate inspection apparatus and substrate inspection method
WO2016002003
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
07.01.2016
Mass spectrometer and mass-spectrometry method
WO2016002502
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.01.2016
Pattern measurement method and pattern measurement device
WO2016002341
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.01.2016
Electron microscope device and imaging method using same
WO2016002397
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.01.2016
Device for testing blood coagulation
WO2016002394
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
30.12.2015
Pattern measurement condition setting device and pattern measurement device
WO2015198926
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
30.12.2015
Specimen inspection automation system and specimen check module
WO2015198707
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
30.12.2015
Mass Spectrometer
WO2015198721
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
30.12.2015
Flaw observation method and device and flaw detection device
WO2015198781
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.12.2015
Nucleic acid amplification device
WO2015189695
Pharma & Biotechnologie Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.12.2015
Chromatograph mass spectrometer and control method therefor
WO2015189696
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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78
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