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Hitachi High-Tech Corporation Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

3.840
Patente
2001–2025
Anmeldejahre
25
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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3.840 gesamt
Patent
15.08.2013
Tomographic image measurement device
WO2013118541
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
14.08.2013
Probenabbildungsverfahren und System mit einem Strahl Geladener Teilchen
EP1455378
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
14.08.2013
Mehrkappilar-Elektrophoresevorrichtung
EP2587256
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
08.08.2013
Image processing device, distortion correction map creation device, and semiconductor measurement device
WO2013114675
Software & Datenverarbeitung Nachrichtentechnik & Telekommunikation
01.08.2013
Sample holder for electron microscope
WO2013111453
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
31.07.2013
Ausgabedüse für ein Automatisches Analysegerät, mit der Düse Ausgestattetes Automatisches Analysegerät und Verfahren zur Herstellung der Ausgabedüse für ein Automatisches Analysegerät
EP2620777
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
25.07.2013
Charged particle beam device and arithmetic device
WO2013108529
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
25.07.2013
Charged particle beam microscope, sample holder for charged particle beam microscope, and charged particle beam microscopy
WO2013108711
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
18.07.2013
Vacuum processing device
WO2013105295
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
18.07.2013
Stamper, imprinting device and processed product, as well as processed product manufacturing device and processed product manufacturing method
WO2013105327
Kunststoff- & Polymertechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
17.07.2013
Blindage magnétique et appareil de mesure du champ magnétique utilisant celui-ci
EP1731091
Medizintechnik & Gesundheit Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
11.07.2013
Charged particle beam device and inclined observation image display method
WO2013103090
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
11.07.2013
Charged particle beam irradiation apparatus
WO2013103107
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.07.2013
Electron microscope and device for holding sample for electron microscope
WO2013099435
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.07.2013
Gui, classification device, classification method, program, and storage medium on which classification program is stored
WO2013099487
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
04.07.2013
Inspection device
WO2013099468
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
04.07.2013
Inspection correction device, inspection correction method and fiber laser
WO2013099448
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.07.2013
Teilchenstrahlgerät mit Dunkelfelddetektor
EP1450391
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.07.2013
Saccharidzusammensetzung-syntheseautomat
EP1582581
Pharma & Biotechnologie
03.07.2013
Automatisches Analysegerät
EP2023147
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
03.07.2013
Nucleinsäure-Analysevorrichtung
EP2423672
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
03.07.2013
Probenhalter für eine Vorrichtung für Geladene Teilchen
EP2610890
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
20.06.2013
Scanning electron beam device and dimension measurement method using same
WO2013088944
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
20.06.2013
Image processing device, outline generation method, and computer program
WO2013089096
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
13.06.2013
Flow cell and liquid analyzer
WO2013084626
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
13.06.2013
Scanning ion microscope and secondary particle control method
WO2013084651
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
12.06.2013
Magnetscheider und Analysegerät damit
EP1964613
Verfahrens- & Trenntechnik
05.06.2013
Probenabgabevorrichtung und damit versehener automatischer Analysator
EP1460432
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.06.2013
Stufenvorrichtung
EP2600383
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.06.2013
Autoanalysegerät
EP2600158
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.06.2013
Aberrationskorrekturvorrichtung und Ladungsträgerstrahlvorrichtung damit
EP2600382
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
30.05.2013
Defect inspection method and device for same
WO2013077125
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
30.05.2013
Charged-particle radiation apparatus
WO2013077217
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
16.05.2013
Charged particle beam apparatus and method of measuring and correcting landing angle of charged particle beam
WO2013069636
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
16.05.2013
Sample positioning apparatus, sample stage, and charged particle beam apparatus
WO2013069722
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
16.05.2013
Cooling device, ion microscope, and observation device or inspection device
WO2013069410
Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.05.2013
Transmissions-Rasterelektronenmikroskop
EP2592641
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.05.2013
Observation specimen for use in electron microscopy, electron microscopy, electron microscope, and device for producing observation specimen
WO2013065475
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.05.2013
Scanning Electron Microscope
WO2013065399
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.05.2013
Analysis device and analysis method
WO2013062084
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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