Hitachi High-Tech Corporation Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
3.840
Patente
2001–2025
Anmeldejahre
25
Aktive Jahre
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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3.840 gesamt| Patent | |||
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09.09.2011
Method for displaying superimposed electron microscope image and optical image
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 08.11.2010
Anhängig
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09.09.2011
Hard disk media inspection device and inspection method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Akustik, Musik & Datenspeicherung
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Status
Angemeldet am 12.01.2011
Anhängig
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09.09.2011
High-speed liquid chromatography device and method for supplying liquid to high-speed liquid chromatography device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 22.02.2011
Anhängig
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09.09.2011
Charged Particle Beam Microscope
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 22.02.2011
Anhängig
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09.09.2011
Scanning electron microscope and inspection method using same
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.02.2011
Anhängig
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01.09.2011
Etching device, control simulator, and semiconductor device manufacturing method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 03.12.2010
Anhängig
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01.09.2011
Defect inspection device and method of inspecting defect
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 09.02.2011
Anhängig
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01.09.2011
Scanning electron microscope optical condition setting method and scanning electron microscope
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 09.02.2011
Anhängig
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25.08.2011
Field-emission electron gun and method for controlling same
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 19.01.2011
Anhängig
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25.08.2011
Spectrophotometer and method for measuring performance thereof
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 16.02.2011
Anhängig
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25.08.2011
Circuit-pattern inspection device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 21.02.2011
Anhängig
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18.08.2011
Charged particle beam apparatus
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 08.11.2010
Anhängig
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18.08.2011
Defect inspection method and device thereof
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 09.02.2011
Anhängig
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18.08.2011
Pattern inspection method, pattern inspection program, and electronic device inspection system
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 09.02.2011
Anhängig
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17.08.2011
Automatisches Analysegerät
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 28.08.2008
Erteilt am 17.08.2011
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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11.08.2011
Charged particle microscope and ion microscope
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 04.02.2011
Anhängig
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11.08.2011
Pattern inspection method and device for same
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Akustik, Musik & Datenspeicherung
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Status
Angemeldet am 27.01.2011
Anhängig
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11.08.2011
Spin coater and spin coat method
Verfahrens- & Trenntechnik
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Status
Angemeldet am 27.01.2011
Anhängig
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11.08.2011
Defect inspection method and device thereof
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 04.02.2011
Anhängig
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04.08.2011
Observation method and observation device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 08.11.2010
Anhängig
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04.08.2011
Nucleic acid analyzer, reaction device for nucleic acid analysis and substrate of reaction device for nucleic acid analysis
Pharma & Biotechnologie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 01.12.2010
Anhängig
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04.08.2011
Spectrophotofluorometer and fluorescence detector for liquid chromatograph
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 04.11.2010
Anhängig
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04.08.2011
Charged particle radiation device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 08.11.2010
Anhängig
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04.08.2011
Charged particle radiation device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 11.08.2010
Anhängig
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04.08.2011
Defect inspection device and defect inspection method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 17.01.2011
Anhängig
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04.08.2011
Ion milling device, sample processing method, processing device, and sample drive mechanism
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 26.01.2011
Anhängig
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04.08.2011
Apparatus for forming image for pattern matching
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 28.01.2011
Anhängig
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28.07.2011
Defect inspecting device and defect inspecting method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 27.12.2010
Anhängig
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28.07.2011
Charged particle beam apparatus
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 12.01.2011
Anhängig
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28.07.2011
Scanning Electron Microscope
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 21.01.2011
Anhängig
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28.07.2011
Electrical characteristic measuring device and method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 19.01.2011
Anhängig
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28.07.2011
Method of extracting contour lines of image data obtained by means of charged particle beam device, and contour line extraction device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 20.01.2011
Anhängig
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28.07.2011
Liquid chromatograph and liquid feeder for liquid chromatograph
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 24.01.2011
Anhängig
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14.07.2011
Method and device for testing defect using sem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 22.12.2010
Anhängig
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14.07.2011
Inspecting apparatus and inspecting method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 08.12.2010
Anhängig
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13.07.2011
Verfahren zur Probenbeobachtung und Elektronisches Mikroskop dafür
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 19.10.2009
Anhängig
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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07.07.2011
Pattern measuring condition setting device
Optik & Fototechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 01.12.2010
Anhängig
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07.07.2011
Mass spectrometer and mass spectrometry method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 22.12.2010
Anhängig
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07.07.2011
Fine structure, method for producing fine structure, and polymerizable resin composition for production of fine structure
Kunststoff- & Polymertechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 22.12.2010
Anhängig
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07.07.2011
Scanning Electron Microscope
Elektrische Energietechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 24.12.2010
Anhängig
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Wer vertritt Hitachi High-Tech Corporation?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Hitachi High-Tech Corporation vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
Zum Anmelder-ProfilTechnologiefelder
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
2.200
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
1.630
Software & Datenverarbeitung
257
Pharma & Biotechnologie
247
Verfahrens- & Trenntechnik
148
Optik & Fototechnik
92
Elektronik & Schaltungstechnik
83
Medizintechnik & Gesundheit
71
Elektrische Energietechnik
64
Verpackungs- & Fördertechnik
58
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
41
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
29