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Hitachi High-Tech Corporation Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

3.840
Patente
2001–2025
Anmeldejahre
25
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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3.840 gesamt
Patent
30.06.2011
Pattern measuring apparatus and computer program
WO2011077644
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
30.06.2011
Double-side imprint device
WO2011077882
Akustik, Musik & Datenspeicherung Halbleiter & Elektrische Bauelemente
23.06.2011
Defect observation method and defect observation device
WO2011074183
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
23.06.2011
Automatic analysis device
WO2011074173
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
23.06.2011
Charged particle beam device and sample observation method
WO2011074178
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
23.06.2011
Defect inspection apparatus and defect inspection method
WO2011074171
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
23.06.2011
Image processing device, measuring/testing system, and program
WO2011074671
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
16.06.2011
Focused ion beam device and focused ion beam processing method
WO2011070727
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.06.2011
Apparatur für die Oligosaccharidsynthese
EP1422290
Pharma & Biotechnologie
15.06.2011
Elektronenkanone
EP1471561
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.06.2011
Chemisches Analysegerät und Analysevorrichtung
EP1684078
Verfahrens- & Trenntechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
15.06.2011
Analysegerät, das eine Vorrichtung zur Bereitstellung von Reagenzien umfasst
EP2333563
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
09.06.2011
Method for defect inspection and apparatus for defect inspection
WO2011068056
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
09.06.2011
Charged particle beam device and image quality improvement method therefor
WO2011068011
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
08.06.2011
Automatisches Analysegerät mit Pipettenreinigung
EP2025418
Verfahrens- & Trenntechnik
03.06.2011
Charged-particle microscope and method for controlling the charged-particle microscope
WO2011064960
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.06.2011
Scanning Electron Microscope
WO2011065240
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
01.06.2011
Vorrichtung und Verfahren zum Elektronenstrahlschreiben
EP1523028
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
26.05.2011
Defect detection method and defect detection device and defect observation device provided with same
WO2011061911
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
26.05.2011
Sample treatment device, sample treatment system, and method for treating a sample
WO2011062162
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.05.2011
Liquid chromatography/mass spectrometry device and analysis method using liquid chromatography/mass spectrometry device
WO2011058883
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
19.05.2011
Sample observation method using electron beams and electron microscope
WO2011058950
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
18.05.2011
Transmissionselektronenmikroskop mit Elektronenspektroskop
EP1965407
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
18.05.2011
Automatisches Analysegerät
EP2322941
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
18.05.2011
Trennanalysator
EP2246697
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
18.05.2011
Automatisches Analysegerät
EP2322937
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
12.05.2011
Electron Microscope
WO2011055520
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
12.05.2011
Charged Particle Microscope
WO2011055521
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
12.05.2011
Sample Rack
WO2011055694
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.05.2011
Scanning charged particle beam device and method for correcting chromatic spherical combination aberration
WO2011052333
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.05.2011
Pattern dimension measurement method and charged particle beam microscope used in same
WO2011052339
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.05.2011
Liquid sample analysis device and liquid sample introduction device
WO2011052445
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
28.04.2011
Pattern matching method and pattern matching apparatus
WO2011048758
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
28.04.2011
Charged particle beam device, position specification method used for charged particle beam device, and program
WO2011048946
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
21.04.2011
Charged particle beam apparatus and film thickness measurement method
WO2011046093
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
21.04.2011
Gas field ionization ion source and ion beam device
WO2011046116
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
14.04.2011
Pattern matching method, pattern matching program, electronic computer, and electronic device testing apparatus
WO2011043293
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
14.04.2011
Charged particle radiation device
WO2011043391
Maschinenelemente & Fluidtechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.04.2011
Charged-particle microscope device and method for inspecting sample using same
WO2011039908
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
07.04.2011
Flow cell, detector, and liquid chromatograph
WO2011039909
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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