Hitachi High-Tech Corporation Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
4.287
Patente
2001–2026
Anmeldejahre
26
Aktive Jahre
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
Patente durchsuchen
4.287 gesamt| Patent | |||
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22.01.2014
Elektronenstrahlgerät
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 24.02.2009
Erteilt am 22.01.2014
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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16.01.2014
Electron microscope and image-formation method using electron microscope
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 27.06.2013
Anhängig
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16.01.2014
Flow cell for biomaterial analysis and biomaterial analysis device
Pharma & Biotechnologie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 11.07.2013
Anhängig
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09.01.2014
Overlay error measuring device and computer program for causing computer to measure pattern
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 05.06.2013
Anhängig
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03.01.2014
Cryogenic specimen holder and cooling source container
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 04.06.2013
Anhängig
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03.01.2014
Charged particle beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 10.06.2013
Anhängig
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03.01.2014
Stage device, and specimen observation device
Optik & Fototechnik
Steuerungs- & Regelungstechnik
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Status
Angemeldet am 12.04.2013
Anhängig
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27.12.2013
Method of atomic absorption analysis and atomic absorption photometer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 03.06.2013
Anhängig
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19.12.2013
Optical signal detecting circuit, light volume detecting device, and charged particle beam device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 14.06.2013
Anhängig
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19.12.2013
Charged particle beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 12.04.2013
Anhängig
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19.12.2013
Overlay error measuring device and computer program
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 10.06.2013
Anhängig
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19.12.2013
Charged particle beam generating apparatus, charged particle beam apparatus, high voltage generating apparatus, and high potential apparatus
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 08.05.2013
Anhängig
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19.12.2013
Sample isolation particle, sample isolation device and sample isolation method
Verfahrens- & Trenntechnik
Pharma & Biotechnologie
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Status
Angemeldet am 10.06.2013
Anhängig
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18.12.2013
Vorrichtung zum Flüssigkeitstransport und Analysesystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 04.05.2006
Anhängig
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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18.12.2013
Verfahren zum Nachweis von Analyten in einer Probenflüssigkeit sowie Vorrichtung zu dessen Durchführung
Verfahrens- & Trenntechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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12.12.2013
Sample holder and method for fixing observation sample
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 30.05.2013
Anhängig
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12.12.2013
Charged-particle radiation device
Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 03.06.2013
Anhängig
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11.12.2013
Automatikanalysevorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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05.12.2013
Measurement method, image processing device, and charged particle beam device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 27.05.2013
Anhängig
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05.12.2013
Pattern inspection device and pattern inspection method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 22.05.2013
Anhängig
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05.12.2013
Pattern evaluation device and pattern evaluation method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 24.04.2013
Anhängig
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05.12.2013
Charged particle device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 22.04.2013
Anhängig
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04.12.2013
Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung von Strukturen
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Optik & Fototechnik
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28.11.2013
Electron microscope and electron detector
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 09.05.2013
Anhängig
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27.11.2013
Automatikanalysevorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 19.01.2012
Anhängig
Vertretung
Beetz & Partner mbB · München
Beetz & Partner · München
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21.11.2013
Inspection device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 01.04.2013
Anhängig
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21.11.2013
Electron beam application device and electron beam adjustment method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 15.05.2013
Anhängig
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14.11.2013
Charged Particle Beam Microscope
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 01.04.2013
Anhängig
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14.11.2013
Defect inspection method and defect inspection device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 23.04.2013
Anhängig
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14.11.2013
Defect analysis assistance device, program executed by defect analysis assistance device, and defect analysis system
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 01.04.2013
Anhängig
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06.11.2013
Ladungsträgerstrahlvorrichtung und Verfahren zur Herstellung einer Probe
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 08.12.2011
Anhängig
Vertretung
Beetz & Partner mbB · München
Beetz & Partner · München
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06.11.2013
Mikroskop mit Geladenen Teilchenstrahlen und einem Darauf Angebrachten Diffraktionsaberrationskorrektor
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 26.12.2011
Anhängig
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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31.10.2013
Light shielding tool for head blood flow measurement, and checking method and checking device for mounting thereof
Medizintechnik & Gesundheit
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Status
Angemeldet am 27.04.2012
Anhängig
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31.10.2013
Charged Particle Microscope
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 24.04.2013
Anhängig
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31.10.2013
Mass analyzer and mass analysis method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 22.04.2013
Anhängig
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31.10.2013
Defect inspection device and defect inspection method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 24.04.2013
Anhängig
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31.10.2013
Semiconductor defect categorization device and program for semiconductor defect categorization device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 11.04.2013
Anhängig
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31.10.2013
Charged particle beam adjustment assistance device and method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 04.04.2013
Anhängig
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31.10.2013
Charged particle beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.04.2013
Anhängig
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31.10.2013
Scanning Electron Microscope
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 25.03.2013
Anhängig
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Wer vertritt Hitachi High-Tech Corporation?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Hitachi High-Tech Corporation vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
Zum Anmelder-ProfilTechnologiefelder
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
2.536
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
1.718
Software & Datenverarbeitung
295
Pharma & Biotechnologie
266
Verfahrens- & Trenntechnik
183
Medizintechnik & Gesundheit
114
Optik & Fototechnik
107
Elektronik & Schaltungstechnik
97
Verpackungs- & Fördertechnik
78
Elektrische Energietechnik
78
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
49
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
33