Hitachi High-Tech Corporation Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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3.840 gesamt| Patent | |||
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15.12.2011
Stamper for microstructure transfer and microstructure transfer device
Kunststoff- & Polymertechnik
Akustik, Musik & Datenspeicherung
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Status
Angemeldet am 10.06.2011
Anhängig
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14.12.2011
Ladungsträgerstrahlgerät und Methode zur Messung von Musterdimensionen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 04.10.2005
Erteilt am 14.12.2011
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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08.12.2011
Pattern measurement device, pattern measurement method, and program
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 28.03.2011
Anhängig
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08.12.2011
Charged particle beam device provided with automatic aberration correction method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 27.05.2011
Anhängig
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08.12.2011
Defect inspection method and device therefor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 25.05.2011
Anhängig
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01.12.2011
Image processing device, charged particle beam device, charged particle beam device adjustment sample, and manufacturing method thereof
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 25.05.2011
Anhängig
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01.12.2011
Inspection system
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 25.05.2011
Anhängig
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30.11.2011
Verfahren und Geräte zur Analyse von Nukleinsäuren-Amplifikation.
Pharma & Biotechnologie
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Status
Angemeldet am 26.09.2005
Erteilt am 30.11.2011
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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24.11.2011
Pattern dimension measurement method, pattern dimension measurement device, program for causing computer to execute pattern dimension measurement method, and recording medium having same recorded thereon
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 18.05.2011
Anhängig
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17.11.2011
Nucleic acid analysis reaction cell and nucleic acid analyzer
Pharma & Biotechnologie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 20.04.2011
Anhängig
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17.11.2011
Defect inspection method, and device thereof
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 05.04.2011
Anhängig
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17.11.2011
Nucleic acid analysis device, method for producing same, and nucleic acid analyzer
Pharma & Biotechnologie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 09.05.2011
Anhängig
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10.11.2011
Template matching processing device and template matching processing program
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 17.03.2011
Anhängig
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10.11.2011
Scanning electron microscope and sample observation method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 20.04.2011
Anhängig
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09.11.2011
Rasterelektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 10.08.2005
Erteilt am 09.11.2011
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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02.11.2011
Plasmaverarbeitungsanlage und Plasmaerzeugungsanlage
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
Elektronik & Schaltungstechnik
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27.10.2011
Gas field ionization source and ion beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 22.04.2011
Anhängig
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27.10.2011
Reviewing method and reviewing device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 22.04.2011
Anhängig
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26.10.2011
Ablenkvorrichtung, Herstellungsverfahren und Verwendung in einem geladenen Teilchen-Strahl-Beleuchtungsgerät
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 23.02.2004
Erteilt am 26.10.2011
Vertretung
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20.10.2011
Elementary analysis device and method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 25.03.2011
Anhängig
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13.10.2011
Inspection method and device therefor
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 01.04.2011
Anhängig
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12.10.2011
Transmissionselektronenmikroskop mit Elektronenspektroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 11.11.2009
Anhängig
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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06.10.2011
Testing device and testing method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 20.12.2010
Anhängig
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06.10.2011
Electron beam irradiation method and scanning electron microscope
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 09.02.2011
Anhängig
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06.10.2011
Substrate holding apparatus, substrate holding method, and inspecting apparatus and inspecting method using the substrate holding apparatus and the substrate holding method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 14.01.2011
Anhängig
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06.10.2011
Patterned media defect inspector device and inspection method for stamper for patterned media employing same
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Akustik, Musik & Datenspeicherung
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Status
Angemeldet am 01.02.2011
Anhängig
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06.10.2011
Surface inspection device and surface inspection method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 30.03.2011
Anhängig
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05.10.2011
Probentransportsystem
Verpackungs- & Fördertechnik
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29.09.2011
Inspection device and inspection method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 01.12.2010
Anhängig
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29.09.2011
Microchannel chip and microarray chip
Pharma & Biotechnologie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 25.02.2011
Anhängig
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29.09.2011
Stamp for micropattern transfer
Kunststoff- & Polymertechnik
Akustik, Musik & Datenspeicherung
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Status
Angemeldet am 16.02.2011
Anhängig
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29.09.2011
Composite charged-particle-beam apparatus
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 25.03.2011
Anhängig
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29.09.2011
Image processing apparatus, image processing method, and image processing program
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 25.03.2011
Anhängig
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22.09.2011
Sem type defect observation device and defect image acquiring method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 01.12.2010
Anhängig
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22.09.2011
Image generating method and device using scanning charged particle microscope, sample observation method, and observing device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 04.03.2011
Anhängig
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22.09.2011
Mass spectrometry device and method using ion-molecule reaction ionization
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 11.03.2011
Anhängig
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15.09.2011
Microstructure transfer method and device for same
Kunststoff- & Polymertechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 01.02.2011
Anhängig
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15.09.2011
Inspection method and device for same
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Akustik, Musik & Datenspeicherung
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Status
Angemeldet am 01.02.2011
Anhängig
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15.09.2011
Fine structure transfer apparatus and fine structure transfer method
Kunststoff- & Polymertechnik
Akustik, Musik & Datenspeicherung
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Status
Angemeldet am 10.03.2011
Anhängig
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09.09.2011
Circuit pattern inspection device and inspection method for same
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 10.11.2010
Anhängig
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Wer vertritt Hitachi High-Tech Corporation?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Hitachi High-Tech Corporation vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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