Hitachi High-Tech Corporation Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
4.287
Patente
2001–2026
Anmeldejahre
26
Aktive Jahre
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
Patente durchsuchen
4.287 gesamt| Patent | |||
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07.06.2012
Defect inspection method and defect inspection device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 21.10.2011
Anhängig
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07.06.2012
Inspection apparatus and inspection system
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 11.10.2011
Anhängig
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07.06.2012
Liquid chromatograph, sample introduction device for liquid chromatograph, and method for cleaning sample introduction device for liquid chromatograph
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 17.11.2011
Anhängig
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06.06.2012
Automatisches Analysegerät
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 28.07.2010
Anhängig
Vertretung
Tiesmeyer, Johannes · München
Weickmann & Weickmann PartmbB · München
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06.06.2012
Zentrifugalabscheider
Verfahrens- & Trenntechnik
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Status
Angemeldet am 28.07.2010
Anhängig
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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31.05.2012
Method for analyzing polychlorinated biphenyls in oil
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 26.11.2010
Anhängig
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31.05.2012
Ion milling device and ion milling processing method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 21.11.2011
Anhängig
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31.05.2012
Global alignment using multiple alignment pattern candidates
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 22.11.2011
Anhängig
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31.05.2012
Method and device of operation menu display control of analyzer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 01.11.2011
Anhängig
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24.05.2012
Double-side imprinting apparatus
Kunststoff- & Polymertechnik
Akustik, Musik & Datenspeicherung
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Status
Angemeldet am 05.10.2011
Anhängig
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24.05.2012
Spectrophotometer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 14.11.2011
Anhängig
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23.05.2012
Vorrichtung zur Materialuntersuchung mittels Elektronenstrahl
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.03.2004
Erteilt am 23.05.2012
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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18.05.2012
Charged particle beam apparatus
Akustik, Musik & Datenspeicherung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 14.10.2011
Anhängig
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18.05.2012
Method for cleaning fine pattern surface of mold, and imprinting device using same
Kunststoff- & Polymertechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 11.11.2011
Anhängig
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10.05.2012
Defect inspection method, low light detecting method, and low light detector
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 14.10.2011
Anhängig
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10.05.2012
Defect testing method and device for defect testing
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 01.11.2011
Anhängig
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10.05.2012
Ion milling device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 02.11.2011
Anhängig
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09.05.2012
Verfahren zur Synthese von Cdna
Pharma & Biotechnologie
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03.05.2012
Pattern measuring method, pattern measuring apparatus, and program using same
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 14.10.2011
Anhängig
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03.05.2012
Pattern determination device and computer program
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 14.10.2011
Anhängig
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03.05.2012
Image processing apparatus and computer program
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 26.10.2011
Anhängig
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03.05.2012
Defect inspection method and device therefor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 26.10.2011
Anhängig
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26.04.2012
Shape measurement method, and system therefor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 21.10.2011
Anhängig
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19.04.2012
Electron beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 05.10.2011
Anhängig
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12.04.2012
Method for examining specimen floating on surface of liquid with scanning electron microscope
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 16.09.2011
Anhängig
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12.04.2012
Defect classification system, defect classification device, and image capture device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 03.10.2011
Anhängig
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12.04.2012
Method of evaluating systematic defect, and apparatus therefor
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 30.09.2011
Anhängig
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12.04.2012
Sample device for charged particle beam
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 05.10.2011
Anhängig
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11.04.2012
Kapillarelektrophoresevorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 18.01.2002
Erteilt am 11.04.2012
Vertretung
Denison, Christopher Marcus · London
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11.04.2012
Flüssigchromatographmassenspektrometer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 17.02.2004
Erteilt am 11.04.2012
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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11.04.2012
Probenvorbehandlungssystem
Verfahrens- & Trenntechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 28.07.2008
Erteilt am 11.04.2012
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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05.04.2012
Inspection device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 19.07.2011
Anhängig
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05.04.2012
Scanning Electron Microscope
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 26.08.2011
Anhängig
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05.04.2012
Defect inspecting apparatus and defect inspecting method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 26.07.2011
Anhängig
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05.04.2012
Inspection device, inspection method, and program
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 01.08.2011
Anhängig
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05.04.2012
Photoelectric conversion element, defect inspecting apparatus, and defect inspecting method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 26.07.2011
Anhängig
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29.03.2012
Charged Particle Beam Microscope
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 08.08.2011
Anhängig
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28.03.2012
Massenspektrometer
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 20.06.2011
Anhängig
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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22.03.2012
Defect inspection method and device thereof
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 06.07.2011
Anhängig
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22.03.2012
Chromatography device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 21.07.2011
Anhängig
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Wer vertritt Hitachi High-Tech Corporation?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Hitachi High-Tech Corporation vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
Zum Anmelder-ProfilTechnologiefelder
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
2.536
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
1.718
Software & Datenverarbeitung
295
Pharma & Biotechnologie
266
Verfahrens- & Trenntechnik
183
Medizintechnik & Gesundheit
114
Optik & Fototechnik
107
Elektronik & Schaltungstechnik
97
Verpackungs- & Fördertechnik
78
Elektrische Energietechnik
78
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
49
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
33