Hitachi High-Tech Corporation Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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3.840 gesamt| Patent | |||
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11.02.2010
Standard member for correction, scanning electron microscope using same, and scanning electron microscope correction method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 31.07.2009
Anhängig
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11.02.2010
Light source device, surface inspecting apparatus using the device, and method for calibrating surface inspecting apparatus using the device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 15.07.2009
Anhängig
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11.02.2010
Charged particle gun, and focused ion beam apparatus using the gun
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 23.07.2009
Anhängig
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11.02.2010
Inspection device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 29.07.2009
Anhängig
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11.02.2010
Sample Conveying Mechanism
Verpackungs- & Fördertechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 29.07.2009
Anhängig
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04.02.2010
Circuit pattern examining apparatus and circuit pattern examining method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 13.07.2009
Anhängig
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04.02.2010
Defect review device, defect review method, and defect review execution program
Anorganische Chemie & Werkstoffe
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 29.06.2009
Anhängig
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04.02.2010
Defect review device and method, and program
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 27.07.2009
Anhängig
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28.01.2010
Total reflection fluorescence observation device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 20.05.2009
Anhängig
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28.01.2010
Charged corpuscular ray apparatus
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 15.06.2009
Anhängig
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28.01.2010
Mass spectroscope and mass spectrometry
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.06.2009
Anhängig
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13.01.2010
Elektronenmikroskop mit Elektronenspektrometer
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 30.07.2008
Anhängig
Vertretung
Kirschner, Klaus Dieter · München
patcare Patentanwälte Partnerschaft mbB · Oberhaching
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13.01.2010
Zelle aus Polymeren zur Spektroskopischen Messung und Verfahren zu ihrer Herstellung
Verfahrens- & Trenntechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 03.06.2009
Anhängig
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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07.01.2010
Charged particle beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.06.2009
Anhängig
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07.01.2010
Electron source device, ion source device and charged particle source device
Elektrische Energietechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 02.07.2009
Anhängig
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30.12.2009
Vorrichtung und Verfahren zur On-line Diagnose
Steuerungs- & Regelungstechnik
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 23.05.2003
Anhängig
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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30.12.2009
Semiconductor inspecting apparatus
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 23.06.2009
Anhängig
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23.12.2009
Charged particle beam apparatus, and method of controlling the same
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 10.06.2009
Anhängig
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23.12.2009
Automatic Analyzer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 17.06.2009
Anhängig
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17.12.2009
Nucleic acid analyzing device and nucleic acid analyzer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 13.05.2009
Anhängig
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17.12.2009
Pattern inspection method, pattern inspection apparatus and pattern processing apparatus
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 05.06.2009
Anhängig
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10.12.2009
Ion beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 30.03.2009
Anhängig
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09.12.2009
Verwaltungssystem zur Herstellung von Halbleitern
Steuerungs- & Regelungstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 17.09.2003
Anhängig
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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26.11.2009
Method and apparatus for analysis of poly(biphenyl chloride) in electrical insulating oil
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 20.05.2009
Anhängig
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25.11.2009
Verfahren zum Nachweis von Nukleinsäure mittels Dna-Mikroarrays und Vorrichtung zum Nukleinsäurenachweis
Pharma & Biotechnologie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 12.08.2002
Erteilt am 25.11.2009
Vertretung
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
Strehl & Partner mbB · München
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25.11.2009
Verfahren zum Nachweis von hexavalentem Chrom
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 15.04.2009
Anhängig
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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19.11.2009
Defect inspection device and method for inspecting defect
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 13.05.2009
Anhängig
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19.11.2009
Electrode unit and charged particle beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 15.05.2009
Anhängig
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18.11.2009
Vorrichtung zur chemischen Analyse
Verfahrens- & Trenntechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 05.02.2004
Erteilt am 18.11.2009
Vertretung
Beetz & Partner mbB · München
Beetz & Partner Patentanwälte · München
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22.10.2009
Image inspection apparatus
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 16.04.2009
Anhängig
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15.10.2009
Method and device for dividing area of image of particle in urine
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 26.03.2009
Anhängig
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08.10.2009
Quantitative analysis method using mass spectrometer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 27.03.2009
Anhängig
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16.09.2009
Leuchtverbindungen und Markierungsreagentien für die Diese Verwendet Werden
Organische Chemie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 10.10.2002
Erteilt am 16.09.2009
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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02.09.2009
Nukleinsäurenanalysator
Verfahrens- & Trenntechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 09.02.2009
Anhängig
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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02.09.2009
Kaltkathoden Feldemissions-Elektronenkanone und deren Anwendung in Elektronenstrahlgeräten
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 23.02.2009
Anhängig
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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26.08.2009
Automatisches Analysegerät
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 15.02.2008
Anhängig
Vertretung
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
Strehl & Partner mbB · München
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05.08.2009
Verfahren zur Steuerung eines automatischen Analysegerätes
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 01.08.2007
Anhängig
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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29.07.2009
Elektronenmikroskop mit Energiefilter
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 23.03.2004
Anhängig
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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08.07.2009
Verfahren Zum genetischen Test für Blasenkrebs
Pharma & Biotechnologie
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Status
Angemeldet am 26.05.2004
Erteilt am 08.07.2009
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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17.06.2009
Sonde zum Nachweisen von Nukleinsäure
Pharma & Biotechnologie
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Status
Angemeldet am 10.12.2008
Anhängig
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
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Wer vertritt Hitachi High-Tech Corporation?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Hitachi High-Tech Corporation vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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