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Hitachi High-Tech Corporation Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

4.287
Patente
2001–2026
Anmeldejahre
26
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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4.287 gesamt
Patent
22.09.2011
Sem type defect observation device and defect image acquiring method
WO2011114403
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.09.2011
Image generating method and device using scanning charged particle microscope, sample observation method, and observing device
WO2011114644
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
22.09.2011
Mass spectrometry device and method using ion-molecule reaction ionization
WO2011115015
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.09.2011
Microstructure transfer method and device for same
WO2011111441
Kunststoff- & Polymertechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.09.2011
Inspection method and device for same
WO2011111440
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
15.09.2011
Fine structure transfer apparatus and fine structure transfer method
WO2011111792
Kunststoff- & Polymertechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
09.09.2011
Circuit pattern inspection device and inspection method for same
WO2011108045
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
09.09.2011
Method for displaying superimposed electron microscope image and optical image
WO2011108042
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
09.09.2011
Hard disk media inspection device and inspection method
WO2011108293
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
09.09.2011
High-speed liquid chromatography device and method for supplying liquid to high-speed liquid chromatography device
WO2011108401
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
09.09.2011
Charged Particle Beam Microscope
WO2011108402
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
09.09.2011
Scanning electron microscope and inspection method using same
WO2011108368
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
01.09.2011
Etching device, control simulator, and semiconductor device manufacturing method
WO2011104970
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
01.09.2011
Defect inspection device and method of inspecting defect
WO2011105016
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
01.09.2011
Scanning electron microscope optical condition setting method and scanning electron microscope
WO2011105015
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
25.08.2011
Field-emission electron gun and method for controlling same
WO2011102077
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
25.08.2011
Spectrophotometer and method for measuring performance thereof
WO2011102377
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
25.08.2011
Circuit-pattern inspection device
WO2011102511
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
18.08.2011
Charged particle beam apparatus
WO2011099101
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
18.08.2011
Defect inspection method and device thereof
WO2011099537
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
18.08.2011
Pattern inspection method, pattern inspection program, and electronic device inspection system
WO2011099490
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
17.08.2011
Automatisches Analysegerät
EP2030690
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
11.08.2011
Charged particle microscope and ion microscope
WO2011096227
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
11.08.2011
Pattern inspection method and device for same
WO2011096328
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
11.08.2011
Spin coater and spin coat method
WO2011096329
Verfahrens- & Trenntechnik
11.08.2011
Defect inspection method and device thereof
WO2011096544
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.08.2011
Observation method and observation device
WO2011092771
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.08.2011
Nucleic acid analyzer, reaction device for nucleic acid analysis and substrate of reaction device for nucleic acid analysis
WO2011092780
Pharma & Biotechnologie Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
04.08.2011
Spectrophotofluorometer and fluorescence detector for liquid chromatograph
WO2011092766
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
04.08.2011
Charged particle radiation device
WO2011092770
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.08.2011
Charged particle radiation device
WO2011092757
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.08.2011
Defect inspection device and defect inspection method
WO2011093022
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.08.2011
Ion milling device, sample processing method, processing device, and sample drive mechanism
WO2011093316
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
04.08.2011
Apparatus for forming image for pattern matching
WO2011093436
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
28.07.2011
Defect inspecting device and defect inspecting method
WO2011089829
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
28.07.2011
Charged particle beam apparatus
WO2011089955
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
28.07.2011
Scanning Electron Microscope
WO2011089913
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
28.07.2011
Electrical characteristic measuring device and method
WO2011090060
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
28.07.2011
Method of extracting contour lines of image data obtained by means of charged particle beam device, and contour line extraction device
WO2011090111
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
28.07.2011
Liquid chromatograph and liquid feeder for liquid chromatograph
WO2011090188
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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