Tokyo Seimitsu Patente
🇯🇵 Japan
Tokyo Seimitsu ist ein japanischer Hersteller von Mess- und Fertigungsgeräten für die Halbleiterindustrie. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Halbleiterbauelemente sowie Mess- und Prüftechnik, ergänzt durch Werkzeug- und Fertigungstechnik. Die Titel betreffen vor allem Bearbeitungsverfahren und -vorrichtungen für die Wafer- und Chipherstellung.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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290 gesamt| Patent | |||
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25.09.2025
Laser processing device and laser processing method
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 21.02.2025
Anhängig
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25.09.2025
Prober
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 24.01.2025
Anhängig
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25.09.2025
Diagnostic device, diagnostic method, and needle mark inspection device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 14.03.2025
Anhängig
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24.09.2025
Bearbeitungsvorrichtung
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 27.10.2023
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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18.09.2025
Measurement device and method for controlling mobile body
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 12.03.2025
Anhängig
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18.09.2025
Method for surface treatment of chuck for wafer testing device and chuck for wafer testing device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 29.01.2025
Anhängig
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12.09.2025
Prober
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.02.2025
Anhängig
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04.09.2025
Prober and probe inspection method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 12.02.2025
Anhängig
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28.08.2025
Stylus attitude determination method and stylus attitude determination device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 12.02.2025
Anhängig
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14.08.2025
Inspection device and inspection method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 29.01.2025
Anhängig
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13.08.2025
Ladungs-/entladungstestsystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 27.09.2023
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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13.08.2025
Lade-/entladetestsystem und Verfahren zur Steuerung des Lade-/entladetestsystems
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 27.09.2023
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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30.07.2025
Messkopf und Darin Verwendetes Schwingdrehpunktelement
Maschinenelemente & Fluidtechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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24.07.2025
Non-contact temperature measuring device and non-contact temperature measuring method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 24.12.2024
Anhängig
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17.07.2025
Calibration method and calibration device for camera
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 10.01.2025
Anhängig
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25.06.2025
Einzugsmechanismus und Dimensionsmessvorrichtung damit
Maschinenelemente & Fluidtechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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19.06.2025
Wafer processing system and wafer processing method
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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Status
Angemeldet am 06.12.2024
Anhängig
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19.06.2025
Shape measurement device, shape measurement method, and wafer processing system
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 06.12.2024
Anhängig
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22.05.2025
Non-contact shape measuring apparatus and position adjusting method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 01.11.2024
Anhängig
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15.01.2025
Wafer-Spannfutter, Temperatursteuerungssystem und Temperatursteuerungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 31.05.2023
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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25.12.2024
Kalibrierungsverfahren für eine Optische Rotationssonde
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 16.03.2022
Erteilt am 25.12.2024
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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27.11.2024
Wafertestsystem, Verfahren zum Ersetzen einer Sondenkarte und Sondenvorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 12.12.2022
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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30.10.2024
Verfahren zur Erkennung des Befestigungszustands eines Werkzeughalters, Vorrichtung zur Erkennung des Befestigungszustands eines Werkzeughalters, Verschiebungserkennungsverfahren, Verschiebungserkennungsvorrichtung und Werkzeugmaschine
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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30.10.2024
Automatische Auswuchtvorrichtung
Maschinenelemente & Fluidtechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 12.12.2022
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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03.10.2024
Grinding device and grinding method
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 21.03.2024
Anhängig
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03.10.2024
Prober
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 21.02.2024
Anhängig
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26.09.2024
Machining device and image processing method
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 21.03.2024
Anhängig
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26.09.2024
Workpiece visual inspection device and method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 21.03.2024
Anhängig
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26.09.2024
Measurement device and measurement method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 13.03.2024
Anhängig
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19.09.2024
Measurement device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 08.03.2024
Anhängig
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19.09.2024
Measurement device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 08.03.2024
Anhängig
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11.09.2024
Lade-/entladetestsystem und Verfahren zur Steuerung des Lade-/entladetestsystems
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 05.07.2022
Anhängig
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
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22.08.2024
Polishing end point detection device and method, and cmp device
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 05.12.2023
Anhängig
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25.07.2024
Prober
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 22.12.2023
Anhängig
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18.07.2024
Prober and probe inspection method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 19.12.2023
Anhängig
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04.07.2024
Workpiece machining method
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 05.12.2023
Anhängig
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04.07.2024
Workpiece processing method
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 05.12.2023
Anhängig
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20.06.2024
Inspection device and inspection method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 04.12.2023
Anhängig
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13.06.2024
Temperature control device, temperature control method, program, prober, and learning model generating method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 20.11.2023
Anhängig
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10.04.2024
Ladungs-/entladungsprüfsystem und Verfahren zum Steuern des Ladungs-/entladungsprüfsystems
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 05.07.2022
Erteilt am 10.04.2024
Vertretung
Grünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB · München
Zusammenfassung
A charge/discharge test system (10) includes: a two-way AC/DC converter (12); a charge/discharge test device (20) that includes a DC bus (14-2), a two-way DC/DC converter (30) having one end connected to the DC bus, and a converter control unit (40); a setting unit (18) that sets a charge/discharge pattern (P1, P2) corresponding to a test charging/discharging object (28-1) serving as a target of a charge/discharge test among charging/discharging objects (28, 28-1, 28-2); and a prediction unit (44) that generates a power prediction pattern (SP) indicating a temporal change in a total value of charge and discharge power of a testing converter (30a) corresponding to the test charging/discharging object in the two-way DC/DC converter, based on the charge/discharge pattern, and the converter control unit controls charging and discharging of the charging/discharging object performed by the two-way DC/DC converter, based on the charge/discharge pattern and on the power prediction pattern. |
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Wer vertritt Tokyo Seimitsu?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Tokyo Seimitsu vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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