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Advantest Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

610
Patente
2000–2018
Anmeldejahre
19
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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610 gesamt
Patent
05.03.2009
Electronic device and diagnosing apparatus
WO2009028034
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.03.2009
Tester and manufacturing method
WO2009028040
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.03.2009
System, relay device, tester, and manufacturing method for device
WO2009028037
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
05.03.2009
Sequence control device, and testing device
WO2009028138
Steuerungs- & Regelungstechnik
26.02.2009
Tester, test method, and manufacturing method
WO2009025020
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
26.02.2009
Test device, test method, and manufacturing method
WO2009025227
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
19.02.2009
Multipole coaxial connector, performance board, and testing device
WO2009022398
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.02.2009
Acquisition device, test device, and manufacturing method
WO2009022427
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
19.02.2009
Measuring apparatus, testing apparatus and measuring method
WO2009022697
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
19.02.2009
Test device
WO2009022691
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
12.02.2009
System, issuing end device, receiving end device, and tester
WO2009019777
Software & Datenverarbeitung
12.02.2009
Measuring device and program
WO2009019943
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
05.02.2009
Testing apparatus, testing method, and manufacturing method of device
WO2009016715
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
05.02.2009
Thermal controller for electronic devices
WO2009017495
Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik
29.01.2009
Backup line assignment device, memory saving device, backup line assignment method, memory manufacturing method, and program
WO2009013832
Akustik, Musik & Datenspeicherung
29.01.2009
Contactor, probe card and method of mounting contactor
WO2009013809
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
29.01.2009
Error factor measuring device, method and program, recording medium, and output measuring apparatus having that device, and input measuring device
WO2009014073
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
29.01.2009
Error factor measuring device, method and program, recording medium, and output correcting apparatus having that device, and reflection coefficient measuring device
WO2009014072
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
22.01.2009
Electronic device, host device, communication system, and program
WO2009011028
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
22.01.2009
Testing apparatus, circuit apparatus and program
WO2009011033
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
22.01.2009
Testing apparatus and transmitting apparatus
WO2009011252
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
15.01.2009
Correction circuit and test device
WO2009008458
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
08.01.2009
Probe and probe card
WO2009004722
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
08.01.2009
Probe, probe card and process for manufacturing probe
WO2009004721
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
31.12.2008
Detector and tester
WO2009001451
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
24.12.2008
Noise measurement device and tester
WO2008155843
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
18.12.2008
Tester
WO2008152694
Akustik, Musik & Datenspeicherung
18.12.2008
Measuring device and program
WO2008152930
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
11.12.2008
Charged particle beam inspection apparatus and method for inspecting charged particle beam
WO2008149461
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektrische Energietechnik
11.12.2008
Tcp testing method and tcp testing apparatus
WO2008149729
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
11.12.2008
Test device and calibration device
WO2008149973
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
11.12.2008
Phase measuring device, skew measuring device, phase measuring method, and skew measuring method
WO2008149990
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
04.12.2008
Device socket, mother board and test device
WO2008146407
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
04.12.2008
Semiconductor testing device and testing method
WO2008146451
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
04.12.2008
Fixing device of probe card
WO2008146705
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.12.2008
Measuring apparatus and program
WO2008146790
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
27.11.2008
Testing device
WO2008142743
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
27.11.2008
Component carrier device, electronic component testing device, and method for recognizing optimal distance in component carrier device
WO2008142744
Verpackungs- & Fördertechnik Elektronik & Schaltungstechnik
27.11.2008
Means for storing trays, electronic part tester and tray-storing method
WO2008142753
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
27.11.2008
Electronic component testing device and electronic component testing method
WO2008142754
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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12
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8
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5
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