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Advantest Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

1.227
Patente
2000–2026
Anmeldejahre
27
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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1.227 gesamt
Patent
28.07.2010
Temperaturregeleinrichtung und Temperaturregelverfahren
EP1666895
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
22.07.2010
Analog/digital conversion method and analog/digital converter
WO2010082268
Elektronik & Schaltungstechnik
22.07.2010
Method and program for detecting characteristics of device under test (dut) and storage medium containing the program
WO2010082330
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
15.07.2010
Circuit and method for digital-analog conversion
WO2010079530
Elektronik & Schaltungstechnik
15.07.2010
Testing apparatus
WO2010079746
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
01.07.2010
Switch device
WO2010073461
Elektronik & Schaltungstechnik
01.07.2010
Timing generator, test device, and test rate control method
WO2010073458
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
01.07.2010
Switch device and testing device
WO2010073489
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
01.07.2010
A/d conversion device, d/a conversion device, and method of adjustment
WO2010073505
Elektronik & Schaltungstechnik
01.07.2010
Pattern measuring apparatus and pattern measuring method
WO2010073360
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
24.06.2010
Testing device, serial transmission system, program, and recording medium
WO2010070859
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
24.06.2010
Semiconductor device, method for manufacturing semiconductor device, and switch circuit
WO2010070824
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
24.06.2010
Transmission system and test apparatus
WO2010070835
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
23.06.2010
Tester
EP2081036
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
23.06.2010
Testvorrichtung
EP2081037
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.06.2010
Testing apparatus and test method
WO2010067469
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
17.06.2010
Testing device and testing method
WO2010067468
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.06.2010
Testing apparatus and test method
WO2010067470
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
17.06.2010
Testing apparatus and testing method
WO2010067482
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
17.06.2010
Testing apparatus, conversion circuit and testing method
WO2010067476
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
17.06.2010
Testing apparatus and testing method
WO2010067474
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
17.06.2010
Test device and debugging method
WO2010067471
Software & Datenverarbeitung
17.06.2010
Testing device and testing method
WO2010067472
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.06.2010
Test apparatus and test method
WO2010067558
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
17.06.2010
Testing device and test method
WO2010067473
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
17.06.2010
Testing apparatus, testing method, and program
WO2010067475
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
03.06.2010
Testing apparatus, serial transmission system, program, and recording medium
WO2010061482
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
03.06.2010
Testing method and program product used therein
WO2010061523
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
27.05.2010
Test equipment, test method, and program
WO2010058441
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
26.05.2010
Testsystem und Tochtereinheit
EP2189800
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
14.05.2010
Electronic component handling apparatus and electronic component transfer method
WO2010052771
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
14.05.2010
Attaching/detaching device, contact arm, electronic-component handling device, and holding unit
WO2010052780
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
14.05.2010
Connector attaching/detaching device and test head
WO2010052761
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
14.05.2010
Attaching/detaching device, contact arm, electronic-component handling device, and method of detaching electronic-component holding section
WO2010052781
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.05.2010
Device, testing apparatus, and testing method
WO2010050100
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.05.2010
Test device, circuit module, and manufacturing method
WO2010050133
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.05.2010
Thermal controller for electronic devices
WO2010050933
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.05.2010
Testing device and circuit module
WO2010050132
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.05.2010
Kompakte Darstellung der Überarbeitungen von Anbieter-Hardware-Modulen
EP1853933
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
29.04.2010
Electronic device and method for manufacturing the same
WO2010046997
Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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14
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