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Advantest Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

610
Patente
2000–2018
Anmeldejahre
19
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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610 gesamt
Patent
22.03.2012
Wireless energy transfer device and wireless energy transfer system
WO2012035745
Elektrische Energietechnik
22.03.2012
Electromagnetic radiation device
WO2012035924
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
08.03.2012
Wafer tray, semiconductor wafer testing apparatus, and semiconductor wafer testing method
WO2012029130
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
01.03.2012
Testing method for semiconductor wafer, semiconductor wafer transport device, and semiconductor wafer testing device
WO2012026036
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
29.02.2012
Gehäuse, Gehäuseplatzierungsverfahren und Messverfahren
EP2423670
Medizintechnik & Gesundheit Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
29.02.2012
Vorrichtung zur Messung Elektromagnetischer Wellen sowie Messverfahren, Programm und Aufzeichnungsmedium
EP2423669
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
23.02.2012
Connecting apparatus, semiconductor wafer testing apparatus provided with same, and connecting method
WO2012023180
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
02.02.2012
Contact sheet, probe, semiconductor wafer testing apparatus, method for producing contact sheet, and method for testing semiconductor wafer
WO2012014331
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.01.2012
Transmission unit, supplementary member used for transmission unit, and test equipment
WO2012007995
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
19.01.2012
Measurement circuit, and testing device
WO2012007986
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
12.01.2012
Testing device
WO2012004833
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
12.01.2012
Testing device and testing method
WO2012004834
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
12.01.2012
Failure capture module, testing device using same, and failure capture method
WO2012004832
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
08.12.2011
Measurement device and measurement method
WO2011151856
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
01.12.2011
Probe structure, probe device, method for producing probe structure, and testing device
WO2011148540
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
24.11.2011
Testing apparatus
WO2011145244
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
24.11.2011
Test head, test board, and test apparatus
WO2011145243
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
27.10.2011
Pin card and test device using same
WO2011132226
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
27.10.2011
Pin card and test device using same
WO2011132225
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
27.10.2011
Testing device and testing method
WO2011132352
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
20.10.2011
Apparatus for supplying voltage
WO2011129044
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
13.10.2011
Probe and manufacturing method for same
WO2011125191
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.10.2011
Wireless power receiving apparatus capable of providing a high q value
WO2011122048
Elektrische Energietechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
06.10.2011
Variable equalizer circuit and test device using same
WO2011121658
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
15.09.2011
Laser light pulse phase control device
WO2011111573
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
30.06.2011
Socket, socket board, and electronic component testing apparatus
WO2011077555
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.06.2011
Board mounting device, test head, and electronic component testing device
WO2011064847
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
26.05.2011
Receiving apparatus, testing apparatus, receiving method and testing method
WO2011061796
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
26.05.2011
Signal transmitter, signal source of multiple signals, and output device of plurality of laser light pulses
WO2011062114
Halbleiter & Elektrische Bauelemente Elektronik & Schaltungstechnik
19.05.2011
Fixture
WO2011059044
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.05.2011
Pattern measuring apparatus and pattern measuring method
WO2011052070
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
28.04.2011
Test Carrier
WO2011048834
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
21.04.2011
Multi-value driver circuit and single-end output driver circuit using this, differential output driver circuit and test device
WO2011045830
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
21.04.2011
Differential driver circuit and testing apparatus using same
WO2011045832
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
21.04.2011
Light receiving device, method for manufacturing light receiving device, and light receiving method
WO2011045890
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
07.04.2011
Electromagnetic wave measurement device
WO2011040350
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
31.03.2011
Probe apparatus and testing apparatus
WO2011036718
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
24.03.2011
Testing apparatus and testing method
WO2011033588
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
24.03.2011
Measurement circuit and electronic device
WO2011033691
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
24.03.2011
Testing apparatus and testing method
WO2011033589
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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5
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