Advantest Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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1.227 gesamt| Patent | |||
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08.04.2021
Maintenance apparatus, maintenance method, and maintenance program
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 12.06.2020
Anhängig
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08.04.2021
Maintenance apparatus, maintenance method, and maintenance program
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.09.2020
Anhängig
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01.04.2021
Endoscope, fluorescence measurement device, and lens-holding cylindrical body
Medizintechnik & Gesundheit
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 10.06.2020
Anhängig
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25.03.2021
Phantom and fluorescence detection device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 09.06.2020
Anhängig
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25.03.2021
Identification information reading device, method, program, recording medium, and measurement system
Landwirtschaft & Nahrungsmitteltechnik
Pharma & Biotechnologie
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Status
Angemeldet am 10.06.2020
Anhängig
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04.03.2021
A test arrangement, an automated test equipment and a method for testing a device under test comprising a circuit and an antenna which is coupled to the circuit
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 28.08.2019
Anhängig
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04.03.2021
A test arrangement, an automated test equipment and a method for testing a device under test comprising an antenna
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 28.08.2019
Anhängig
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11.02.2021
Electrical Filter Structure
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 06.08.2019
Anhängig
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11.02.2021
An automated test equipment for testing a device under test which comprises a processing unit and a program and/or data memory, an automated test equipment which comprises a test controller, one or more interfaces to the device under test, a shared memory and a method for testing a device under test
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 06.08.2019
Anhängig
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04.02.2021
Inspection device, inspection method, inspection program, learning device, learning method, and learning program
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 11.05.2020
Anhängig
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14.01.2021
Optical Connector
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 13.03.2020
Anhängig
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17.09.2020
Power supply and method for supplying power to a load using an inner analog control loop
Steuerungs- & Regelungstechnik
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Status
Angemeldet am 13.03.2020
Anhängig
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17.09.2020
Power supply, automated test equipment, method for operating a power supply, method for operating an automated test equipment and computer program using a voltage variation compensation mechanism
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Akustik, Musik & Datenspeicherung
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Status
Angemeldet am 13.03.2020
Anhängig
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10.09.2020
Method for providing an electrical connection and printed circuit board
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 07.03.2019
Anhängig
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03.09.2020
A multiple output isolated power supply, a power supply arrangement, an automatic test equipment, and a method for providing multiple isolated output voltages for the usage in an automated test equipment
Elektrische Energietechnik
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 27.02.2019
Anhängig
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02.09.2020
Vorrichtung zum Dreidimensionalen Laminieren und Formen und Laminier- und Formverfahren
Kunststoff- & Polymertechnik
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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Status
Angemeldet am 03.09.2018
Erteilt am 02.09.2020
Vertretung
Zusammenfassung
Provided is a three-dimensional laminating and shaping apparatus 100 including a column unit 200 that is configured to output an electron beam EB and deflect the electron beam EB toward the front surface of a powder layer 32, an electron detector 72 that is configured to detect electrons that may be emitted in a predetermined direction from the front surface of the powder layer 32 when the powder layer 32 is irradiated with the electron beam EB, a melting judging unit 410 that is configured to generate a melting signal based on the strength of the detection signal from the electron detector 72, and a deflection controller 420 that is configured to receive the melting signal to determine the condition of the irradiation the electron beam. |
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05.08.2020
Vorrichtung zum Dreidimensionalen Laminieren und Formen und Laminier- und Formverfahren
Kunststoff- & Polymertechnik
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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Status
Angemeldet am 03.09.2018
Erteilt am 05.08.2020
Vertretung
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30.07.2020
Automated Text Equipment Using an On-Chip-System Test Controller
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 22.01.2020
Anhängig
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30.07.2020
Automated test equipment for testing one or more devices under test, method for automated testing of one or more devices under test, and computer program using a buffer memory
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 22.01.2020
Anhängig
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30.07.2020
Automated test equipment for testing one or more devices under test, method for automated testing of one or more devices under test, and computer program for handling command errors
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 22.01.2020
Anhängig
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22.07.2020
Vorrichtung, Verfahren, Programm und Aufzeichnungsmedium zur Messung Photoakustischer Wellen
Medizintechnik & Gesundheit
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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25.06.2020
Apparatus and method for testing a device-under-test
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 20.12.2018
Anhängig
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28.05.2020
Measurement result reception device, measurement device, and methods, programs, and recording mediums for measurement result reception device and measurement device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik
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Status
Angemeldet am 07.08.2019
Anhängig
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16.04.2020
Analysis device, analysis method, and analysis program
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 26.03.2019
Anhängig
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16.04.2020
Analysis device, analysis method, and analysis program
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 26.03.2019
Anhängig
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16.04.2020
Analysis device, analysis method, and analysis program
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 26.03.2019
Anhängig
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05.03.2020
Optical Element
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 30.08.2018
Anhängig
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05.12.2019
Front-end circuit, test board, test system, computer, and program
Elektronik & Schaltungstechnik
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 14.05.2019
Anhängig
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25.07.2019
Transformer arrangement, circuit arrangement and method for operating a transformer arrangement
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.01.2018
Anhängig
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13.06.2019
Light ultrasound measurement device, method, program, and storage medium
Medizintechnik & Gesundheit
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Status
Angemeldet am 24.10.2018
Anhängig
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13.06.2019
Temperature measuring device, reactor, and device and method for evaluating degree of activity of enzyme
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 17.10.2018
Anhängig
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01.05.2019
Vorrichtung zur Elektronenstrahlaufzeichnung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 05.02.2003
Erteilt am 01.05.2019
Vertretung
Calderbank, Thomas Roger · London
Mewburn Ellis LLP · München
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20.03.2019
Belichtungsvorrichtung und Belichtungsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.07.2016
Erteilt am 20.03.2019
Vertretung
Michalski Hüttermann & Partner Patentanwälte mbB · Düsseldorf
Zusammenfassung
Provided is an exposure apparatus that exposes a pattern on a sample, the exposure apparatus including a plurality of blanking electrodes that are provided corresponding to a plurality of charged particle beams and each switch whether the corresponding particle beam irradiates the sample according to an input voltage; an irradiation control section that outputs switching signals for switching blanking voltages supplied respectively to the blanking electrodes; and a measuring section that, for each blanking electrode, measures a delay amount that is from when the switching signal changes to when the blanking voltage changes. |
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29.11.2018
Dut testing with configurable cooling control using dut internal temperature data
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 25.05.2018
Anhängig
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01.11.2018
Calibration arrangement and method for deriving a resistance of a resistor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 27.04.2017
Anhängig
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01.11.2018
Amplifier, circuit for trimming a bias voltage, method for amplifying an input signal and method for trimming a bias voltage
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 28.04.2017
Anhängig
Zusammenfassung
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18.10.2018
Exposure device
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 11.04.2017
Anhängig
Zusammenfassung
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18.10.2018
Exposure device
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 11.04.2017
Anhängig
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18.10.2018
3d additive manufacturing device and additive manufacturing method
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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Status
Angemeldet am 11.04.2017
Anhängig
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04.10.2018
Apparatus and method for providing a supply voltage to a device under test using a capacitor
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Steuerungs- & Regelungstechnik
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Status
Angemeldet am 31.03.2017
Anhängig
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Wer vertritt Advantest?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Advantest vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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