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Advantest Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

610
Patente
2000–2018
Anmeldejahre
19
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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610 gesamt
Patent
01.04.2010
Test module, test device, and test method
WO2010035450
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
01.04.2010
Test module, test device, and test method
WO2010035447
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
01.04.2010
Frequency characteristic measurement device
WO2010035646
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
25.03.2010
Testing section unit attaching/detaching apparatus, and test head moving apparatus
WO2010032299
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
25.03.2010
Testing device and interdomain synchronization method
WO2010032440
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
24.03.2010
Testgerät und Testverfahren
EP2006698
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
18.03.2010
Tester and circuit system
WO2010029597
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
18.03.2010
Memory device, method for manufacturing memory device, and method for writing data
WO2010029618
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
18.03.2010
Test module and test method
WO2010029746
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
18.03.2010
Testing device, testing method, circuit system, power supply device, power supply evaluation device, and method for emulating power supply environment
WO2010029709
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
18.03.2010
Test device and test method
WO2010029772
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
11.03.2010
Waveform generator and testing apparatus using the same
WO2010026616
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
11.03.2010
Test device, transmission device, reception device, test method, transmission method, and reception method
WO2010026642
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
11.03.2010
Test apparatus and test method
WO2010026641
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
11.03.2010
Testing apparatus and test method
WO2010026765
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
04.03.2010
Interconnect circuit board, skew measuring method and testing device
WO2010023924
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
25.02.2010
Electron detection device and scanning electron microscope
WO2010021012
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
25.02.2010
Electronic component handling apparatus and electronic component test system
WO2010021038
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
25.02.2010
Test device and testing method
WO2010021131
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
18.02.2010
Testing device and testing method
WO2010018691
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
18.02.2010
Test module and test method
WO2010018689
Akustik, Musik & Datenspeicherung
11.02.2010
Electronic component handling device
WO2010016119
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
04.02.2010
Semiconductor device and manufacturing method
WO2010013286
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
04.02.2010
Testing device, and testing method
WO2010013306
Akustik, Musik & Datenspeicherung
04.02.2010
Time measurement circuit, time measurement method, time digital converter and test device using the same
WO2010013385
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
04.02.2010
Testing device
WO2010013464
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
28.01.2010
Clock transfer circuit and tester using the same
WO2010010603
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
28.01.2010
Ad conversion device
WO2010010661
Elektronik & Schaltungstechnik
28.01.2010
Ad Converter
WO2010010660
Elektronik & Schaltungstechnik
21.01.2010
Test head moving device and electronic part testing device
WO2010007652
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
21.01.2010
Signal output circuit, timing generation circuit, testing device, and receiving circuit
WO2010007654
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
21.01.2010
Socket guide, socket, pusher and electronic part testing device
WO2010007653
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
21.01.2010
Testing device
WO2010007770
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
14.01.2010
Electronic component holding device and electronic component testing device with the same
WO2010004623
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
14.01.2010
Test equipment and semiconductor device using built-in instruments standard interface
WO2010004751
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
14.01.2010
Testing device, testing method, and phase shifter
WO2010004754
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
14.01.2010
Testing device and testing method
WO2010004755
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
14.01.2010
Electronic component testing method, insert, tray, and electronic component testing apparatus
WO2010004844
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
07.01.2010
Test device and socket board
WO2010001440
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
07.01.2010
Test equipment, program, and recording medium
WO2010001468
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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15
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12
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8
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5
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5

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