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Advantest Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

610
Patente
2000–2018
Anmeldejahre
19
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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610 gesamt
Patent
07.01.2010
Signal output device, signal output control method, program, and recording medium
WO2010001721
Elektronik & Schaltungstechnik
30.12.2009
Testing apparatus and driver circuit
WO2009157126
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
23.12.2009
Datenempfangsschaltung, Tester damit und Timing-Einstellschaltung für ein Strobe-Signal und Verfahren
EP2136218
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
23.12.2009
Testing apparatus and testing method
WO2009153996
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.12.2009
Test device
WO2009150695
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.12.2009
Semiconductor integrated circuit and test equipment
WO2009150694
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.12.2009
Multi-strobe circuit, method for calibration of the same, and test equipment using the same
WO2009150816
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.12.2009
Test module, test device, and test method
WO2009150819
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
16.12.2009
Taktdatenwiedergewinnungsschaltung, Verfahren und Prüfeinrichtung damit
EP2133995
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
10.12.2009
Tcp handling apparatus and tcp test apparatus
WO2009147712
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
10.12.2009
Probe wafer, probe apparatus, and test system
WO2009147717
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.12.2009
Method of manufacturing probe wafer
WO2009147718
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.12.2009
Testing wafer, testing system and semiconductor wafer
WO2009147722
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.12.2009
Test wafer unit and test system
WO2009147721
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.12.2009
Test system and substrate unit to be used for testing
WO2009147723
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.12.2009
Test wafer unit and test system
WO2009147724
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.12.2009
Semiconductor wafer, semiconductor circuit, testing board and testing system
WO2009147720
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.12.2009
Test system
WO2009147719
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.12.2009
Test system, electronic device, and testing apparatus
WO2009147810
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.12.2009
Testing device, transmission circuit, testing device control method and transmission circuit control method
WO2009147797
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
10.12.2009
Method for manufacturing probe device
WO2009147804
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
10.12.2009
Test apparatus and testing method
WO2009147786
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
10.12.2009
Probe, electronic component testing device, and probe manufacturing method
WO2009147929
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.12.2009
Wafer unit for testing and testing system
WO2009144828
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.12.2009
Electronic component handling apparatus, electronic component test apparatus and electronic component holding tray
WO2009144790
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
03.12.2009
Manufacturing equipment for substrate for testing, and method and program of manufacturing substrate for testing
WO2009144806
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.12.2009
Test system and write wafer
WO2009144791
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.12.2009
Testing equipment and transmitter
WO2009144834
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
03.12.2009
Tester and information processing system
WO2009144837
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
03.12.2009
Tester and information processing system
WO2009144839
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
03.12.2009
Tester, information processing system, and data transmission method
WO2009144838
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
03.12.2009
Test equipment, testing method and system
WO2009144842
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
03.12.2009
Communication system, test device, communication device, communication method, and test method
WO2009144843
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation
03.12.2009
Test device and test method
WO2009144844
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
03.12.2009
Unit for testing and test system
WO2009144948
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.12.2009
Excessive noise ratio deriving apparatus, noise factor deriving apparatus, method, program, and recording medium
WO2009145127
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
26.11.2009
Pallet
WO2009141904
Verpackungs- & Fördertechnik
26.11.2009
Testing wafer unit and testing system
WO2009141906
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
26.11.2009
Pallet and packing material having the same
WO2009141905
Verpackungs- & Fördertechnik
26.11.2009
Wafer unit for testing and testing system
WO2009141907
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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34
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31
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8
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5
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