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Advantest Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

610
Patente
2000–2018
Anmeldejahre
19
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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610 gesamt
Patent
23.06.2010
Tester
EP2081036
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.06.2010
Testing apparatus, testing method, and program
WO2010067475
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
17.06.2010
Testing device and test method
WO2010067473
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
17.06.2010
Test apparatus and test method
WO2010067558
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
17.06.2010
Testing device and testing method
WO2010067472
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.06.2010
Testing apparatus and test method
WO2010067469
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
17.06.2010
Testing device and testing method
WO2010067468
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.06.2010
Testing apparatus and test method
WO2010067470
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
17.06.2010
Testing apparatus and testing method
WO2010067482
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
17.06.2010
Testing apparatus, conversion circuit and testing method
WO2010067476
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik
17.06.2010
Testing apparatus and testing method
WO2010067474
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
17.06.2010
Test device and debugging method
WO2010067471
Software & Datenverarbeitung
03.06.2010
Testing apparatus, serial transmission system, program, and recording medium
WO2010061482
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
03.06.2010
Testing method and program product used therein
WO2010061523
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
27.05.2010
Test equipment, test method, and program
WO2010058441
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung
26.05.2010
Testsystem und Tochtereinheit
EP2189800
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
14.05.2010
Attaching/detaching device, contact arm, electronic-component handling device, and holding unit
WO2010052780
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
14.05.2010
Electronic component handling apparatus and electronic component transfer method
WO2010052771
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
14.05.2010
Attaching/detaching device, contact arm, electronic-component handling device, and method of detaching electronic-component holding section
WO2010052781
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
14.05.2010
Connector attaching/detaching device and test head
WO2010052761
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.05.2010
Thermal controller for electronic devices
WO2010050933
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.05.2010
Testing device and circuit module
WO2010050132
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.05.2010
Device, testing apparatus, and testing method
WO2010050100
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.05.2010
Test device, circuit module, and manufacturing method
WO2010050133
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
29.04.2010
Electronic device and method for manufacturing the same
WO2010046997
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
29.04.2010
Definite component model identifying apparatus, definite component model identifying method, program, storage medium, test system, and electronic device
WO2010047128
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
29.04.2010
Definite component model determining apparatus, definite component model determining method, program, storage medium, test system, and electronic device
WO2010047134
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
29.04.2010
Orthogonal amplitude demodulator, demodulation method, semiconductor device using them, and test device
WO2010046957
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
22.04.2010
Test device
WO2010044251
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.04.2010
Fiber Laser
WO2010044486
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.04.2010
Test apparatus and manufacturing method
WO2010044143
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.04.2010
Coaxial connector and coaxial multi-pole connector
WO2010042579
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.04.2010
Interface member, test section unit, and electronic component testing device
WO2010041317
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
15.04.2010
Circuit board, circuit board assembly and misinsertion detecting device
WO2010041324
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.04.2010
Orthogonal amplitude modulator, modulation method, semiconductor device utilizing them, and testing device
WO2010041293
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
08.04.2010
Circuit design method, circuit design system, and recording medium
WO2010038387
Software & Datenverarbeitung
08.04.2010
Programmable device and data write-in method
WO2010038257
Halbleiter & Elektrische Bauelemente Elektronik & Schaltungstechnik
07.04.2010
Testvorrichtung
EP2172968
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
01.04.2010
Test module, test device, and test method
WO2010035450
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
01.04.2010
Delay circuit, timing generator using same, and test device
WO2010035309
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik

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Halbleiter & Elektrische Bauelemente
145
Elektronik & Schaltungstechnik
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34
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15
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12
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8
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5
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5

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