Advantest Logo

Advantest Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

1.227
Patente
2000–2026
Anmeldejahre
27
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

Patente durchsuchen

1.227 gesamt
Patent
29.10.2015
Electromagnetic-wave measurement device, measurement method, program and recording medium
WO2015163299
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
29.10.2015
Electromagnetic-wave measurement device, measurement method, program and recording medium
WO2015163298
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
14.10.2015
Zerstörungsfreie Prüfung industrieller Produkte mit Schichtaufbau (z.B. beschichteter Tabletten) unter Verwendung vom Produkt reflektierter elektromagnetischer Strahlung (z.B. im Terahertzbereich)
EP2522985
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
30.09.2015
Bühnenreinigungsverfahren
EP2249378
Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.08.2015
Test apparatus and method for testing a device under test
WO2015113607
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
25.06.2015
Multi-port measurement technique for determining s-parameters
WO2015090478
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
25.06.2015
A power supply device, a test equipment comprising a power supply device and a method for operating a power supply device
WO2015090425
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
24.06.2015
Fotoakustischer Wellenmesser
EP2887059
Medizintechnik & Gesundheit Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
17.06.2015
Elektronenkanone, Elektronenstrahl-Belichtungssystem und Belichtungsverfahren
EP1947674
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
11.06.2015
Instruction provider and method for providing a sequence of instructions, test processor and method for providing a device under test
WO2015081980
Software & Datenverarbeitung Elektronik & Schaltungstechnik
21.05.2015
Tester
WO2015070924
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
21.05.2015
Tester
WO2015070923
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
14.05.2015
A method and apparatus for improving differential direct current ("dc") measurement accuracy
WO2015069263
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.05.2015
Wellenlängenumwandlungsvorrichtung, Lichtquellenvorrichtung und Wellenlängenumwandlungsverfahren
EP2626742
Optik & Fototechnik
08.04.2015
Optoakustische Diagnosevorrichtung, Verfahren, Programm und Aufzeichnungsmedium
EP2856945
Medizintechnik & Gesundheit
05.03.2015
Automated test equipment for testing a device under test and method for testing a device under test
WO2015028077
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
06.11.2014
Automated Generation Of A Test Class Pre-Header From an Interactive Graphical User Interface
WO2014178930
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
23.10.2014
Testing Stacked Devices
WO2014172282
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
23.10.2014
Implementing edit and update functionality within a development environment used to compile test plans for automated semiconductor device testing
WO2014172001
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
16.10.2014
Scan speed optimization of input and output paths
WO2014166549
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
18.09.2014
Ate digital channel for rf frequency/power measurement
WO2014139048
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
12.09.2014
Switchable Signal Routing Circuit
WO2014135194
Software & Datenverarbeitung Elektronik & Schaltungstechnik
04.09.2014
A tester with acceleration for packet building within a fpga block
WO2014133653
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
28.08.2014
Cloud based infrastructure for supporting protocol reconfigurations in protocol independent device testing systems
WO2014130058
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
28.08.2014
A Tester With Mixed Protocol Engine in A Fpga Block
WO2014130055
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
28.08.2014
A test architecture having multiple fpga based hardware accelerator blocks for testing multiple duts independently
WO2014130056
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
28.08.2014
A tester with acceleration on memory and acceleration for automatic pattern generation within a fpga block
WO2014130057
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
28.08.2014
Gui implementations on central controller computer system for supporting protocol independent device testing
WO2014130074
Software & Datenverarbeitung
28.08.2014
Using Shared Pins in A Concurrent Test Execution Environment
WO2014130059
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
26.06.2014
Rf Probe
WO2014094819
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
24.04.2014
Wireless power-receiving device, impedance control circuit usable for same, and impedance control method
WO2014061217
Elektrische Energietechnik
24.04.2014
Pseudo tester-per-site functionality on natively tester-per-pin automatic test equipment for semiconductor test
WO2014062770
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
27.03.2014
Optical measuring device, method, program, and recording medium
WO2014045820
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
13.03.2014
Method and apparatus for massively parallel multi-wafer test
WO2014040071
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
06.03.2014
System and method of protecting probes by using an intelligent current sensing switch
WO2014036030
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.03.2014
Test program, and testing system
WO2014034011
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
13.02.2014
Method of controlling in stable fashion pulse light source and phase difference of pulse laser light
WO2014024699
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
12.12.2013
Test Carrier
WO2013183479
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
12.12.2013
Test Program
WO2013183210
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
12.12.2013
Test Program
WO2013183209
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Wer vertritt Advantest?

Die Kanzleien und Patentanwälte, die Advantest vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.

Zum Anmelder-Profil

Technologiefelder

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
870
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
259
Elektronik & Schaltungstechnik
151
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
105
Software & Datenverarbeitung
71
Akustik, Musik & Datenspeicherung
58
Optik & Fototechnik
52
Medizintechnik & Gesundheit
23
Elektrische Energietechnik
22
Steuerungs- & Regelungstechnik
14
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
8
Verpackungs- & Fördertechnik
8

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen