FEI Company Patente

🇺🇸 USA

US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.

506

Patente

2000–2025

Anmeldejahre

Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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506 gesamt

Anmeldejahr

Veröffentlicht	Patent	Land
24.04.2013	24.04.2013 Abtastverfahren zum Abtasten einer Probe mit einer Sonde EP2584362 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 18.10.2011 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
24.04.2013	24.04.2013 Verfahren zur Einstellung eines STEM mit Aberrationskorrektor EP2584584 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 19.10.2011 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
10.04.2013	10.04.2013 Verfahren zum Erfassen von Daten mit einem Bildsensor EP2579575 Nachrichtentechnik & Telekommunikation	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 06.10.2011 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
20.03.2013	20.03.2013 In-Column-Detektor für eine teilchenoptische Säule EP2518756 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 25.04.2012 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.02.2013	13.02.2013 Kombinationslaser und System mit Geladenen Partikelstrahlen EP2556526 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.04.2011 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
09.01.2013	09.01.2013 Siliziumdriftdetektor zur Verwendung in einer Vorrichtung für geladene Teilchen EP2544025 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.07.2011 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
28.11.2012	28.11.2012 Benutzerschnittstelle für ein Elektronenmikroskop EP2024732 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.06.2007 Erteilt am 28.11.2012 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
17.10.2012	17.10.2012 Simultane Elektronendetektion EP2387062 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 10.05.2011 Erteilt am 17.10.2012 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
10.10.2012	10.10.2012 Verfahren zum Schutz eines Strahlungsdetektors in einem Ladungsteilcheninstrument EP2509097 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.04.2011 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
03.10.2012	03.10.2012 Verfahren und Vorrichtung zur Scan-Instrumentenkalibration EP1428006 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektrische Energietechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 28.06.2002 Erteilt am 03.10.2012 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
12.09.2012	12.09.2012 Strahlinduzierte Abscheidung von Material mit niedrigem Widerstand EP2481829 Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.01.2012 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
08.08.2012	08.08.2012 Verfahren zum Zentrieren eines optischen Elements in einem TEM mit kontrastverstärkendem Element EP2485239 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.02.2011 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
08.08.2012	08.08.2012 Verfahren zum Messen der Temperatur einer Probe in einer optischen Vorrichtung mit geladenen Partikeln EP2458355 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 23.11.2011 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
01.08.2012	01.08.2012 Verfahren zum Aufbringen von Material EP2481828 Metallurgie & Oberflächentechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.01.2012 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
06.06.2012	06.06.2012 Detektorsystem zur Verwendung mit Transmissionselektronenmikroskop-Spektroskopie EP2461348 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 06.12.2010 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.05.2012	30.05.2012 Elektronenmikroskop mit unterstützender Lokalisationvorrichtung EP2458617 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 24.11.2010 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.05.2012	16.05.2012 Quelle für geladene Teilchen mit integriertem elektrostatischen Energiefilter EP2453461 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 10.11.2010 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
09.05.2012	09.05.2012 Teilchenstrahlsystem mit mehreren, durch den Benutzer wählbaren Betriebsmodi EP2312611 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.10.2010 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
25.04.2012	25.04.2012 REM-Abbildungsverfahren EP2444991 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 20.10.2010 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
11.04.2012	11.04.2012 Verfahren zur Fokussierung eines Ladungsträgerstrahlgerätes mit Hilfe des Ladungsträgerstrahlsastigmatismus EP1511065 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 16.08.2004 Erteilt am 11.04.2012 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
21.03.2012	21.03.2012 Elektronenmikroskop mit einem oder mehreren Integrierten Detektoren EP2430432 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 14.05.2010 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
08.02.2012	08.02.2012 Verfahren zur Bildung einer 3D-Rekonstruktion einer Probe mittels Rastersondenmikroskop EP2416165 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 04.08.2010 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
14.12.2011	14.12.2011 Magnetische Linse EP1498929 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 01.07.2004 Erteilt am 14.12.2011 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
23.11.2011	23.11.2011 Simultane Elektronendetektion EP2388796 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 21.05.2010 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
03.08.2011	03.08.2011 Messung und Endpunktbestimmung von Probendicken EP2351062 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 02.11.2009 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
20.07.2011	20.07.2011 Verfahren zur Herstellung eines Strahlungsdetektors EP2346094 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.01.2010 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
15.06.2011	15.06.2011 Hochpräzise Balkenplatzierung zur Navigation in Lokalen Bereichen EP2332162 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 11.10.2009 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
08.06.2011	08.06.2011 Gleitlager zur Verwendung mit einer eine Vakuumkammer Umfassenden Vorrichtung EP2033206 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 26.04.2007 Erteilt am 08.06.2011 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
27.04.2011	27.04.2011 Verfahren und Vorrichtung für Laserbearbeitung EP2313230 Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 08.07.2009 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
09.03.2011	09.03.2011 Hochvakuumabdichtung EP2292954 Maschinenelemente & Fluidtechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 06.09.2010 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.03.2011	02.03.2011 Bilddatenverarbeitung EP2289046 Bergbau & Bohrtechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.05.2009 Anhängig Vertretung McGowan, Cathrine · London Haines, Miles John L.S · München D Young & Co LLP · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.01.2011	26.01.2011 Verfahren zur Bestimmung von Verzeichnungen in einer teilchenoptischen Vorrichtung EP2197017 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 11.12.2009 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
19.01.2011	19.01.2011 Verfahren und Vorrichtung zum Manipulieren von mikroskopischen Proben EP1515360 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 03.06.2004 Erteilt am 19.01.2011 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
17.11.2010	17.11.2010 Verfahren und System zur Spektraldatenanalyse EP2250474 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 06.02.2009 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.10.2010	13.10.2010 Quelle für geladene Teilchen mit integriertem Energiefilter EP2128886 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 25.05.2009 Erteilt am 13.10.2010 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
29.09.2010	29.09.2010 Erzeugung eines Bildes während des Fräsens eines Werkstücks EP2233907 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.03.2009 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
07.07.2010	07.07.2010 In-Situ-STEM-Probenherstellung EP1998356 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 30.05.2008 Erteilt am 07.07.2010 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven DeltaPatents B.V · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.06.2010	30.06.2010 Teilchenoptisches Gerät mit einer dauermagnetischen Linse und einer elektrostatischen Linse EP1471562 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.04.2004 Erteilt am 30.06.2010 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.06.2010	16.06.2010 Verfahren zur Bestimmung von Verzeichnungen in einer teilchenoptischen Vorrichtung EP2197018 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 12.12.2008 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.06.2010	02.06.2010 Näherung-CVD-Beschichtungsverfahren EP1491654 Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 21.06.2004 Erteilt am 02.06.2010 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen