FEI Company Patente
🇺🇸 USA
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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882 gesamt| Patent | |||
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14.12.2016
Verfahren zur Analyse von Oberflächenmodifikationen einer Probe in eines Ladungsträger-Mikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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14.12.2016
GIS mit mehreren Quellen für eine teilchenoptische Vorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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30.11.2016
Adaptive Abtastung zur Messung der Partikelgrösse unter Verwendung von Ausgerichteter Strahlsignalanalyse
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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09.11.2016
Elektronenstrahlsystem, dessen Elektronquelle mit auswählbaren mehrfachen Elektronenelemittern vorgesehen ist
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Zusammenfassung
A charged particle source (202) for a focused particle beam system (200) such as a transmission electron microscope (TEM), scanning transmission electron microscope (STEM), scanning electron microscope (SEM), or focused ion beam (FIB) system is disclosed. The source employs a multiplicity of independently-addressable emitters within a small region which can be centered on the axis of the charged particle system. All of the emitters may be individually controlled to enable emission from one or more tips simultaneously. A mode with only one emitter activated corresponds to high brightness, while modes with multiple emitters simultaneously activated provides high angular intensities with lower brightness. Source lifetimes can be extended through sequential use of single emitters. A combined mechanical and electrical alignment procedure for all emitters is described. |
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02.11.2016
Verfahren zur Untersuchung einer Probe in einem Ladungsträger-Mikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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19.10.2016
Verfahren zur Manipulation einer Probe in einer Evakuierten Kammer einer Geladenen Teilchenvorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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12.10.2016
Verfahren zur Kalibrierung eines Transmissions-Rasterelektronenmikroskops
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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05.10.2016
Ladungsträgerteilchenstrahlbearbeitungsverfahren mit Prozessgas und Gekühlter Oberfläche
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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28.09.2016
Hochspannungsisolation einer Induktiv Gekoppelten Plasmaionenquelle mit einer nicht Aktiv Gepumpten Flüssigkeit
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
Elektronik & Schaltungstechnik
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28.09.2016
Ausrichtung einer strukturlosen Dünnschicht in einem TEM
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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28.09.2016
Probenspezifische Referenzspektrenbibliothek
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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21.09.2016
In-situ-Reaktivierung von Fluoreszenzmarkern
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Zusammenfassung
Vapor is provided locally at a sample surface to allow fluorescence of the fluorescent markers in a vacuum chamber. For example, a nanocapillary can dispense a liquid near a region of interest, the liquid evaporating to increase the vapor pressure near the fluorescent markers. The increase in vapor pressure at the fluorescent marker is preferably sufficiently great to prevent deactivation or to reactivate the fluorescent marker, while the overall pressure in the vacuum chamber is preferably sufficiently low to permit charged particle beam operation with little or no additional evacuation pumping. |
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21.09.2016
Tem-Probenvorbereitung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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21.09.2016
Korrelatives optisches und Teilchenstrahlmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Zusammenfassung
The invention relates to a Correlative Light and Electron Microscope (CLEM), equipped with a TEM column and a light microscope (10), the light microscope fitting between the pole shoes (8A, 8B) of the objective lens of the TEM. To enlarge the acceptance solid angle for enhanced sensitivity a truncated lens is used. It is noted that this does not imply that the lens shows astigmatism (it is not a cylindrical lens). The invention further teaches to make, using the light microscope, a first image with the sample (1) in a first direction. This image will show in one direction a higher (diffraction limited) resolution than in the direction perpendicular thereto, due to the different NA of the lens in the two directions (312 x , 312 y ). By rotating the sample and make a second image, a combined image can be formed showing a better resolution than either of the images in the direction where they show a low NA. |
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21.09.2016
Verfahren zur Untersuchung der Wellenfront eines geladenen Teilchenstrahls
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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21.09.2016
Mustererkennung Mittles einer Lamelle mit Bekannter Form zur Automatisierten S/tem-Bilderfassung und Metrologie
Software & Datenverarbeitung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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21.09.2016
Vorrichtung und Verfahren zur Spektroskopiedurchführung in einem Transmissionmikroskop mit Geladenen Teilchen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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14.09.2016
Automatisierte Kalibrierung von Eds-Standards
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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07.09.2016
Verfahren zum Schweißen einer gefrorenen wässrigen Probe an eine Mikrosonde
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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Zusammenfassung
The invention relates to a method of welding a vitreous biological sample at a temperature below the glass transition temperature of approximately -137°C to a micromanipulator, also kept at a temperature below the glass transition temperature. Where prior art methods used IBID with, for example, propane, or a heated needle (heated resistively or by e/g/ laser), the invention uses a vibrating needle to locally melt the sample. By stopping the vibration, the sample freezes to the micromanipulator. The heat capacity of the heated parts is small, and the amount of material that stays in a vitreous condition thus large. |
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31.08.2016
Impulsverarbeitung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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31.08.2016
Schottabscheidung für Kippmühlenschutz
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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31.08.2016
Impulsverarbeitung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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31.08.2016
Verfahren und Systeme zur Verwaltung mehrerer Versionen von Verfahren in einer Verfahrenskette
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 17.03.2015
Anhängig
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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24.08.2016
Verfahren zur Durchführung von Tomographiebildgebung einer Probe in einem Mikroskop mit geladenen Teilchen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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24.08.2016
Strukturanalyse mit Hohem Aspektverhältnis
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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24.08.2016
Aufbringen von Material in Strukturen mit Hohem Aspektverhältnis
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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24.08.2016
Phasenplatte für ein Transmissionselektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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10.08.2016
Verfahren zur Elektronentomographie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Zusammenfassung
The invention relates to an improved method of electron tomography. Electron tomography is a time consuming process, as a large number of images, typically between 50 - 100 images, must be acquired to form one tomogram. The invention teaches a method to shorten the time needed to acquire this amount images much more quickly by tilting the sample continuously, instead of step-by-step. Hereby the time needed to reduce vibrations between steps is eliminated. |
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03.08.2016
Metrologie basierend auf mehreren Bildern
Software & Datenverarbeitung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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20.07.2016
Mehrpolige magnetische Linse zur Manipulation eines Ladungsträgerstrahls
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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13.07.2016
Probenvorbereitungshalter
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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13.07.2016
Multispezies-Ionenquelle
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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06.07.2016
Ladungsträgerteilchenmikroskop mit verbesserter spektroskopischer Funktionalität
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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29.06.2016
Verbesserter Probenhalter für Ladungsträgerteilchenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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29.06.2016
Referenzbasierte Korrelative Mikroskopie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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29.06.2016
Vorrichtung und Verfahren zum Schutz lichtoptischer Komponenten bei Laserablation
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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Zusammenfassung
A method of and an apparatus (300) to perform laser ablation in the vicinity of a charged particle beam (308) while simultaneously protecting the light optical components (316) of the apparatus (300) utilized to perform the ablation from being coated with debris resulting from the ablation process. A protective transparent screen (400) is used to shield the laser optical components(316). A preferred screen 400) could be replaced or repositioned without breaking vacuum in the sample chamber (340) and would not be particularly susceptible to undesirable charging effects. |
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29.06.2016
Probenträger für Elektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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22.06.2016
Röngtenspektroskopietechnik mit zusammengeführten Spektraldaten
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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15.06.2016
Verbesserter kryogener Probenhalter für Ladungsträgerteilchenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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08.06.2016
Verfahren zur Analyse eines EDS-Signals
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Wer vertritt FEI Company?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die FEI Company vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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