FEI Company Patente
🇺🇸 USA
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
506
Patente
2000–2025
Anmeldejahre
26
Aktive Jahre
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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506 gesamt| Patent | |||
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09.12.2009
Hybridphasenplatte
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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07.10.2009
Mehrstufiger Gaskaskadenverstärker
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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30.09.2009
"Environmental Cell" für eine TeilchenoptischeVorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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02.09.2009
Herstellung von dreidimensionalen Strukturen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 19.11.2003
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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16.07.2009
Multibeam system
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 09.01.2009
Anhängig
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01.07.2009
Zweistrahlsystem
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 01.07.2004
Erteilt am 01.07.2009
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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10.12.2008
Verfahren zur Herstellung und Transmissionsbestrahlung einer Probe und geladene Teilchen-optisches System
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 10.01.2004
Erteilt am 10.12.2008
Vertretung
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03.09.2008
Verfahren zur Auffindung von Etiketten in einer Probe
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 22.12.2006
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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13.08.2008
Teilchenoptischer Apparat zur Bestrahlung eines Objekts
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 17.02.2004
Erteilt am 13.08.2008
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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23.07.2008
Verfahren zum automatischen Ausrichten einer Serie von relativ zueinander gekippten Bildern in einem Elektronmikroskop
Software & Datenverarbeitung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 13.12.2003
Erteilt am 23.07.2008
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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24.01.2007
Verfahren zur Erzeugung einer Abbildung einer Probe in einer teilchen-optischen Vorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 01.09.2003
Erteilt am 24.01.2007
Vertretung
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04.10.2006
Mems-Nanoindenter
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 26.01.2005
Anhängig
Vertretung
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13.09.2006
Betriebsverfahren eines Rastersondenmikroskops
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 10.01.2005
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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05.07.2006
Direktes Aufwachsen von Nanoröhrchen auf einem Katalysator
Anorganische Chemie & Werkstoffe
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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21.06.2006
Teilchenstrahlapparat mit variabel geformtem Stahlquerschnitt
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 13.10.2004
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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26.04.2006
Verfahren zur Verwendung einer Einrichtung mit fokussiertem Strahl zum Extrahieren von Proben aus Werkstücken
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 17.08.2004
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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05.04.2006
Dummy-Kupfer-Entschichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 11.03.2004
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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17.08.2005
Defektanalysierer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 12.11.2003
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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15.06.2005
Fotolithographiemaskenreparatur
Optik & Fototechnik
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 18.09.2003
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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15.06.2005
System für Geladene Teilchenstrahlen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.09.2003
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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01.06.2005
Reparatur von Defekten auf Fotomasken mit einem Geladenen Teilchenstrahl und Topographische Daten aus einem Raster Sondenmikroskop
Metallurgie & Oberflächentechnik
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Status
Angemeldet am 08.08.2003
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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22.12.2004
Probenhalter für elektronendurchstrahlten Proben
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 08.06.2004
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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20.10.2004
Elektrostatische Manipuliervorrichtung
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 10.09.2002
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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19.05.2004
Elektronenstrahlverarbeitung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 27.07.2002
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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20.11.2002
Verfahren zur Erhöhung der Messinformation eines Elektronenmikroskopes und Elektronenmikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 20.02.2001
Anhängig
Vertretung
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17.10.2001
Teilchenoptisches Gerät
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 04.10.2000
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Cohen, Julius Simon · Eindhoven
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Wer vertritt FEI Company?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die FEI Company vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
Zum Anmelder-ProfilTechnologiefelder
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
394
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
184
Software & Datenverarbeitung
50
Optik & Fototechnik
23
Metallurgie & Oberflächentechnik
13
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
11
Elektrische Energietechnik
10
Elektronik & Schaltungstechnik
6
Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik
4
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
4
Verfahrens- & Trenntechnik
3
Medizintechnik & Gesundheit
2