FEI Company Patente
🇺🇸 USA
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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506 gesamt| Patent | |||
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13.08.2014
Au-haltige Schicht erhältlich mittels eines geladenen Teilchenstrahls
Metallurgie & Oberflächentechnik
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23.07.2014
Quelle für geladene Teilchen mit integriertem elektrostatischen Energiefilter
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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23.07.2014
Glanzwinkelfräse
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 11.09.2012
Anhängig
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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11.06.2014
Grafische Automatisierte Maschinensteuerung und Metrologie
Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik
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Status
Angemeldet am 23.08.2002
Erteilt am 11.06.2014
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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04.06.2014
Herstellung von Strukturen mit Hohem Spezifischen Widerstand unter Verwendung Fokussierter Ionenstrahlen
Metallurgie & Oberflächentechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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01.05.2014
Mineralidentifizierung Mithilfe von Mineraldefinitionen mit Kompositorischen Bereichen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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01.05.2014
Mineralienidentifikation durch Sequentielle Zersetzung in Elemente aus Mineraliendefinitionen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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01.05.2014
Mineralidentifizierung anhand von Mineraldefinitionen Einschliesslich Variabilität
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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23.04.2014
Gasunterstützte Laserablation
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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Status
Angemeldet am 04.08.2010
Erteilt am 23.04.2014
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Pollard, Peter Julian · Veldhoven
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26.03.2014
Induktiv gekoppelte Plasmaionenquelle zur Verwendung mit einer fokussierten Ionenstrahlsäule mit auswählbaren Ionen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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12.03.2014
Messung der Probendicke und Endpunkbestimmung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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20.02.2014
Method of performing edx in a charged particle microscope
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 13.08.2013
Anhängig
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19.02.2014
Verfahren zur Durchführung von EDX in einem Ladungsträger-Mikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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29.01.2014
Röntgenstrahlspektroskopietechnik mit zusammengeführten Spektraldaten
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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22.01.2014
Automatische Scheibenmühle zur Ansicht eines Merkmals
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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15.01.2014
Mikrokalometrie für die Röntgenstrahlspektroskopie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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08.01.2014
Detektionsverfahren zur Verwendung in der Mikroskopie mit geladenen Teilchen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Zusammenfassung
A method of investigating a sample using a charged-particle microscope, comprising the steps of: - Providing a charged-particle microscope, having a particle-optical column; - Using the particle-optical column to direct an imaging beam of charged particles at the sample; - Irradiating the sample with the imaging beam, as a result of which a flux ("Photon Flux") of output radiation is caused to emanate from the sample; - Examining at least a portion of said output radiation using a detector, which method comprises the following additional steps: - Embodying said detector to comprise a Solid State Photo-Multiplier (1) that is connected to a power supply providing an adjustable electrical bias ("MPPC Bias"); - Adjusting said bias so as to adjust a gain value ("MPPC Gain") of the Solid State Photo-Multiplier; - Matching said gain value to the magnitude of said flux, so as to cause the Solid State Photo-Multiplier to operate below its saturation threshold. A Solid State Photo-Multiplier is also sometimes referred to as a Silicon Photo-Multiplier (SiPM), on-chip pixelated Avalanche Photodiode array (with shared/common detection circuitry), MPPC®, etc. |
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08.01.2014
Berarbeitung mit einem geladenen Teilchenstrahl
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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08.01.2014
Umgebungszelle für ein System mit geladenem Teilchenstrahl
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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08.01.2014
Verfahren und Strukturen zum schnellen Umschalten zwischen unterschiedlichen Prozessgasen in einer induktiv gekoppelten Plasmaionquelle (ICP)
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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18.12.2013
Mit verbessertem Cc-Korrektor vom Wien-Typ ausgestattete Ladungsteilchenvorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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11.12.2013
Mustermodifikationsschemata für Verbesserte Fib-Musterung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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11.12.2013
Blockierelement zur Verwendung in einer TEM-Beugungsebene
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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27.11.2013
Verbesserte Phasenplatte für ein TEM
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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06.11.2013
Teilchenoptische Einrichtung und Detektionsmittel
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.09.2003
Erteilt am 06.11.2013
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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06.11.2013
Mikroskopie mit geladenen Teilchen mit Bildaneinanderreihung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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30.10.2013
Rekonstruktion von Mehrdimensionalen Dynamischen Bilddaten
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 21.12.2011
Anhängig
Vertretung
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30.10.2013
Verfahren und System zur Spektraldatenanalyse
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 06.02.2009
Anhängig
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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23.10.2013
Plasmaquelle für ein Teilchenstrahlsystem
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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09.10.2013
Ladungsträger-Mikroskop mit Tiefenauflösungsdarstellung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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28.08.2013
Halteranordnung für die Kooperation mit einer Umgebungszelle und Elektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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21.08.2013
Bildverbessernder Anzeige-Modus auswählbarer Bildbereiche für digitale Mikroskopie
Optik & Fototechnik
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Zusammenfassung
An apparatus to permit a viewer of a digital microscopy original image to manipulate the display and/or the microscope to obtain an enhanced view of a region of interest within the original image. In one preferred embodiment a spotlight mode matches the gray shade scale for a spotlight region-of-interest to the pixel intensity variation present in the spotlight region. The gray shade scale used for the spotlight mode may then be generalized to the original image. In a preferred embodiment, spotlight mode provides an easy mechanism for permitting a user to command a re-imaging of a selected spotlight region from a displayed image. Such re-imaging may permit the use of imaging parameter selections that better fit the spotlight region. |
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14.08.2013
Formen einer Probe aus glasartigem Eis für ein Elektronenmikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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31.07.2013
Verfahren zur Vorbereitung einer Biologischen Probe zur Inspektion mittels Elektronenmikroskopie und Fluoreszenzmikroskopie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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17.07.2013
REM-Abbildungsverfahren
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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19.06.2013
Clustern von multimodalen Daten
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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12.06.2013
Einstellhilfe für Teilchenstrahlmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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05.06.2013
Koaxiale FIB-SEM-Säule
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 05.08.2003
Erteilt am 05.06.2013
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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08.05.2013
Mikroskopie mit geladenen Teilchen
Software & Datenverarbeitung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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24.04.2013
Verfahren zur Bestimmung eines rekonstruierten Bildes mit Hilfe einer partikel-optischen Vorrichtung
Software & Datenverarbeitung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Zusammenfassung
A method for determining a reconstructed image using a particle-optical apparatus is described. The method comprises receiving (60) the plurality of pixel signals, determining (70) a reconstructed image from using Viterbi Detection on the plurality of pixel signals, the Viterbi Detection using a plurality of different states corresponding to a plurality of configurations of particles incident on the detector, and at least two states of the plurality of different states corresponding to a same, non-zero multiplicity of incident particles on a single pixel of the plurality of pixel signals. |
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Wer vertritt FEI Company?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die FEI Company vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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