FEI Company Patente
🇺🇸 USA
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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882 gesamt| Patent | |||
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09.08.2017
Probenblockhalter
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 25.10.2012
Erteilt am 09.08.2017
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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26.07.2017
Verfahren zum Autoschneiden und Ansichtshinterschnitt
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 08.09.2015
Erteilt am 26.07.2017
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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26.07.2017
Teilchenstrahlensäule mit integriertem Bremsfeldanalysiergerät
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 24.10.2013
Erteilt am 26.07.2017
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Zusammenfassung
A retarding field analyzer uses the existing components of a charged particle beam system eliminating the need for inserting a separate retarding field analyzer device. In a method of analyzing the energy of a charged particle beam, a retarding field through which the beam (114) passes is provided by applying a voltage to the element (116B) of the electrostatic focusing lens (116) retarding the beam, and the retarding field is incrementally increased by incrementally changing this voltage to alter the number of charged particles that pass through the electrostatic lens. Using components of the existing column reduces the time required to analyze the beam. Using the imaging capabilities of the existing column facilitates alignment of the beam with the analyzer. |
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19.07.2017
Verfahren und Raster-Transmissionsmikroskop zur Tomografischen Bildgebung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 15.04.2015
Erteilt am 19.07.2017
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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12.07.2017
Mehrfachprobennahmebefestigung an Nanomanipulator zur Probenvorbereitung mit hohem Durchsatz
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 13.03.2014
Erteilt am 12.07.2017
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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05.07.2017
Herstellung einer Lamelle zur korrelativen tomografischen Analyse mit atomarer Auflösung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 04.03.2015
Erteilt am 05.07.2017
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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14.06.2017
Stabile, Kalte Feldemissionselektronenquelle
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 16.02.2012
Erteilt am 14.06.2017
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Zusammenfassung
A cold field emission (CFE) electron source for a focused electron beam system such as a transmission electron microscope (TEM), scanning transmission electron microscope (STEM), or scanning electron microscope (SEM) is disclosed which substantially improves both source emission stability and frequency noise characteristics. The source employs an emitter enclosure electrode (552) behind the CFE tip (503) which, in conjunction with the extractor electrode (508), defines a closed volume that can be thoroughly cleaned by electron impact desorption (EID) and radiative heating from a heated filament (530) located between the emitter enclosure electrode and extractor electrode. |
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31.05.2017
Filteranordnung zur Trennung von Sekundär- und Rückstreuelektronen in einem Nicht-Transmissiven Ladungsträgerteilchenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 30.11.2015
Anhängig
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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31.05.2017
Verfahren zur übereinstimmenden Ausrichtung eines Laserstrahls und eines Ladungsträgerstrahls
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 06.09.2013
Erteilt am 31.05.2017
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Zusammenfassung
A method and apparatus for aligning a laser beam (216) coincident with a charged particle beam (350). The invention described provides a method for aligning the laser beam through the center of an objective lens (214) and ultimately targeting the eucentric point of a multi-beam system (300). The apparatus takes advantage of components of the laser beam alignment system being positioned within and outside of the vacuum chamber (360) of the charged particle system. |
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31.05.2017
Verfahren zur Verwendung einer Phasenplatte in einem Transmissionselektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 23.04.2014
Erteilt am 31.05.2017
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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17.05.2017
Mit einem FIB- und/oder Elektronenmikroskop verwendetes Doppellaserstrahlensystem
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 14.11.2013
Erteilt am 17.05.2017
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
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17.05.2017
Systeme und Verfahren für Abbildungsvorrichtungsschnittstellen
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 10.11.2015
Anhängig
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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11.05.2017
Waveform mapping and gated laser voltage imaging
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 04.11.2016
Anhängig
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03.05.2017
Ladungsträgerteilchenmikroskop mit Schwingungserfassung/korrektur
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 02.11.2015
Anhängig
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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26.04.2017
Interferometrisches Stehwellenmikroskop
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 21.10.2015
Anhängig
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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26.04.2017
Adaptive Steuerung zur Verarbeitung eines Geladenen Teilchenstrahls
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Metallurgie & Oberflächentechnik
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Status
Angemeldet am 20.10.2015
Anhängig
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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26.04.2017
Verfahren zur Spektroskopiedurchführung in einem Ladungsträger-Transmissionsmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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19.04.2017
Untersuchung von Hochtemperaturproben im Ladungsträgerteilchenmikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 13.10.2015
Anhängig
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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05.04.2017
Adaptiver Strahlstrom zur Substratstrukturierung mit Hohem Durchsatz
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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05.04.2017
Formen einer schockgefrorenen Probe für ein Elektronenmikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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05.04.2017
Geladenes Teilchenstrahlsystem unter Hochdruck
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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29.03.2017
Ladungsträgerteilchenmikroskop mit Verbesserter Spektroskopischer Funktionalität
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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22.03.2017
Geladenes Teilchenmikroskop mit spezieller Aperturplatte
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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01.03.2017
Verfahren zur Herstellung dünner Proben zur TEM-Abbildung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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01.03.2017
Positionsfehlerkorrektur in einer Tomografieabbildungsvorrichtung
Software & Datenverarbeitung
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01.03.2017
Verfahren zur Herstellung von TEM-Proben mit rückseitigem Dünnen von Querschnittslamellen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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22.02.2017
Verfahren und Vorrichtung zur Probenextraktion und -Handhabung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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01.02.2017
Abtastmuster mit Ineinanderliegenden Umlaufenden Windungen in einem Ladungsträgerteilchenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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01.02.2017
Verfahren zur Herstellung einer Strahl-Definierenden Blende für einen Fokussierten Ionenstrahl und Strahldefinition eines Fokussierten Ionenstrahls mit einer Solchen Blende
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Zusammenfassung
An improved beam-defining aperture structure and method for fabrication is realized. An aperture opening (432) is made in a thin conductive film (420) positioned over a cavity (430) in a support substrate (410), where the aperture size and shape is determined by the opening in the conductive film and not determined by the cavity in the substrate. |
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01.02.2017
Verfahren und Struktur zur Steuerung von Magnetfeldverteilungen in einem ExB-Wien-Filter
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Zusammenfassung
An ExB Wien mass filter (700) providing a method and structure for mechanically adjusting the magnetic field distributions at the mass filter entrance and exit end caps (722 and 726, respectively). The reluctance of the flux return path may be modified by configuring pluralities of magnetic shims (790, 796) within slots (750, 756) at the outer diameters of the entrance and exit end caps, and also by configuring pluralities of magnetic plug shims (906) within circular flux dams (902) surrounding the entrance and exit apertures (724 and 728, respectively). Advantages of purely mechanical adjustment for the magnetic fields of the present invention, compared with prior art electromagnet adjustment methods include greater reliability, simplicity, lower cost, and lack of power dissipation. The invention may employ either permanent magnets or electromagnets for generation of the mass-separation magnetic field. |
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25.01.2017
Bezugsmarke für Tem/stem-Tomografie-Neigeserie-Erfassung und Ausrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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11.01.2017
Verfahren zur Entnahme einer Probe und Anzeigen der erhaltenen Informationen
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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04.01.2017
Adaptiver Strahlstrom zur Substratstrukturierung mit Hohem Durchsatz
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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04.01.2017
Integrierte Lichtoptik und Gaszufuhr in einer Ladungsteilchenlinse
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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04.01.2017
Verfahren zur Modifizierung einer Probenoberflächenschicht aus einer mikroskopischen Probe
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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04.01.2017
Verfahren zur Herstellung eines freistehenden Dünnfilms aus nanokristallinem Graphit
Metallurgie & Oberflächentechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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28.12.2016
Mehrfachgas-Einspritzsystem
Verfahrens- & Trenntechnik
Maschinenelemente & Fluidtechnik
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28.12.2016
Gasunterstützte Laserablation
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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21.12.2016
Detektor für Geladene Teilchen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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14.12.2016
GIS mit mehreren Quellen für eine teilchenoptische Vorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Wer vertritt FEI Company?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die FEI Company vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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