FEI Company Patente
🇺🇸 USA
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
882
Patente
2000–2026
Anmeldejahre
27
Aktive Jahre
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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882 gesamt| Patent | |||
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07.01.2009
Vorrichtung zum Kippen eines Strahlgerätes
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 30.05.2003
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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31.12.2008
Verfahren zum Befestigen einer Probe an einem Manipulator
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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31.12.2008
Verfahren zum Abtrennen einer Lamelle aus einer Bohrprobe zur TEM-Prüfung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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17.12.2008
Teilchenoptisches Gerät ausgerüstet mit Linsen mit permanentmagnetisches Material
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 15.04.2005
Erteilt am 17.12.2008
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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17.12.2008
Verfahren zur Bestimmung von Linsenfehlern in einem teilchenoptischen Apparat
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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10.12.2008
Verfahren zur Herstellung und Transmissionsbestrahlung einer Probe und geladene Teilchen-optisches System
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 10.01.2004
Erteilt am 10.12.2008
Vertretung
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03.12.2008
Elektronenquelle mit geringer Energiebreite
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 19.09.2005
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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08.10.2008
Mehrfachsäulen für Fokussierte Ionenstrahlen (fib) zur Anwendung in der Herstellung von Nanostrukturen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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03.09.2008
Verfahren zur Auffindung von Etiketten in einer Probe
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 22.12.2006
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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13.08.2008
Teilchenoptischer Apparat zur Bestrahlung eines Objekts
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 17.02.2004
Erteilt am 13.08.2008
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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13.08.2008
Teilchenoptische Vorrichtung zum gleichzeitigen Beobachten einer Probe mit Teilchen und Photonen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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06.08.2008
Verfahren zum Abdünnen einer Probe und Probenträger zu Ausführung dieses Verfahrens
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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06.08.2008
Vorrichtung zum Betrachten einer Probe mit einem Teilchenstrahl und einem optischen Mikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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06.08.2008
Verfahren zum Abdünnen einer Probe und Probenträger zur Ausführung dieses Verfahrens
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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30.07.2008
Hermetisch Abgeriegeltes Gehäuse mit Elektrischer Einspeisung
Elektronik & Schaltungstechnik
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23.07.2008
Verfahren zum automatischen Ausrichten einer Serie von relativ zueinander gekippten Bildern in einem Elektronmikroskop
Software & Datenverarbeitung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 13.12.2003
Erteilt am 23.07.2008
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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05.03.2008
Korrektor zur Korrektur von chromatischen Aberrationen in einem korpuskularoptischen Apparat
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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27.02.2008
Korrektor zur Korrektion von chromatischen Aberrationen in einem korpuskularoptiachen Apparat
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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20.02.2008
Verfahren zum Erhalt von Bilderen für Abschnitte einer Probe
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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30.01.2008
Transfermechanismus zum Transferieren einer Probe
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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30.01.2008
Übertragungsmechanismus zur Übertragung einer Probe
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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16.01.2008
Verfahren zur Lokalisierung von Fluoreszenzmarkers
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 03.11.2005
Erteilt am 16.01.2008
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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19.12.2007
Mit einer Gasionenquelle ausgestattete teilchenoptische Vorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 16.02.2007
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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19.12.2007
Probenträger und Probenhalter
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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05.12.2007
Mehrmaliges Rundfräsen zur Probenherstellung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 22.02.2006
Erteilt am 05.12.2007
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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05.12.2007
Probenträger und Probenhalter
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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05.12.2007
Teilchenoptische Vorrichtung mit Temperaturschalter
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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28.11.2007
Musterherstellung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 24.05.2007
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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07.11.2007
Teilchenoptischer Apparat mit Temperaturschalter
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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12.09.2007
Verfahren und Vorrichtung zur Sekundärionenausbeuteerhöhung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 05.07.2000
Erteilt am 12.09.2007
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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29.08.2007
Partikel-Optisches Gerät ausgestattet mit einer Gasionenquelle
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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22.08.2007
Abscheidung einer Schutzschicht durch Sputtern mittels eines Strahls geladener Teilchen und Bearbeitung der Schicht mittels eines Strahls geladener Teilchen
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Metallurgie & Oberflächentechnik
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Status
Angemeldet am 14.02.2007
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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08.08.2007
Gehäuse für die akustische Isolierung eines Geräts in besagtem Gehäuse
Hochbau & Gebäudetechnik
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08.08.2007
Teilchenstrahlgerät mit vrobestimmtem Arbeitsdruck
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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01.08.2007
Verfahren zur dreidimensionalen Vermessung der Oberflächenrauhigkeit einer Struktur
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Optik & Fototechnik
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27.06.2007
Abbildungsmethode von biologischen Proben unter Verwendung von inorganischen Nanopartikeln als Markierungsagentien
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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13.06.2007
Verfahren zur Bestimmung der Koeffizienten der Aberrationsfunktion einer Teilchenstrahllinse
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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30.05.2007
Verfahren zur Reparatur von Lithographischen Masken unter Verwendung eines Strahls Geladener Teilchen
Metallurgie & Oberflächentechnik
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 09.03.2001
Erteilt am 30.05.2007
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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02.05.2007
Bühnenanordnung, teilchenoptische Vorrichtung mit einer derartigen Anordnung und Verfahren zur Behandlung einer Probe in einer derartigen Vorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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25.04.2007
Vielstrahl-Elektronenstrahl-Lithographievorrichtung mit Unterschiedlichen Strahlblenden
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 13.12.2000
Erteilt am 25.04.2007
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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Wer vertritt FEI Company?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die FEI Company vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
Zum Anmelder-ProfilTechnologiefelder
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
679
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
299
Software & Datenverarbeitung
73
Optik & Fototechnik
50
Metallurgie & Oberflächentechnik
30
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
22
Elektrische Energietechnik
10
Elektronik & Schaltungstechnik
9
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
7
Verfahrens- & Trenntechnik
7
Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik
6
Maschinenelemente & Fluidtechnik
4