FEI Company Patente
🇺🇸 USA
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
882
Patente
2000–2026
Anmeldejahre
27
Aktive Jahre
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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882 gesamt| Patent | |||
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07.03.2007
Korpuskularoptisches Gerät mit einer Teilchenquelle Umschaltbar zwischen Hoher Helligkeit und Grossem Strahlstrom
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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24.01.2007
Verfahren zur Erzeugung einer Abbildung einer Probe in einer teilchen-optischen Vorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 01.09.2003
Erteilt am 24.01.2007
Vertretung
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28.12.2006
Combined hardware and software instrument simulator for use as a teaching aid
Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik
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Status
Angemeldet am 17.06.2006
Anhängig
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20.12.2006
Methode zur Entnahme einer mikroskopischen Probe von einem Substrat
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 27.06.2005
Erteilt am 20.12.2006
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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29.11.2006
Magnetisch Verbesserte, Induktiv Gekoppelte Plasmaquelle für ein Fokussiertes Ionenstrahlsystem
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.02.2005
Anhängig
Vertretung
Janssen, Francis-Paul · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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22.11.2006
Teilchenoptisches Gerät zur Bestrahlung einer Probe
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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02.11.2006
Abbildung von Unteroberflächenformationen unter Verwendung eines Elektronenstrahls
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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04.10.2006
Mems-Nanoindenter
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 26.01.2005
Anhängig
Vertretung
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13.09.2006
Betriebsverfahren eines Rastersondenmikroskops
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 10.01.2005
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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13.09.2006
Kaltkathoden-Ionenmesseinrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 17.12.2004
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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02.08.2006
Verfahren und Vorrichtung zur Steuerung Topographischer Schwankungen auf einem Bearbeiteten Querschnitt einer Struktur
Akustik, Musik & Datenspeicherung
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Status
Angemeldet am 17.11.2004
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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05.07.2006
Direktes Aufwachsen von Nanoröhrchen auf einem Katalysator
Anorganische Chemie & Werkstoffe
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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21.06.2006
Teilchenstrahlapparat mit variabel geformtem Stahlquerschnitt
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 13.10.2004
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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31.05.2006
Methode zur Materialdeposition mit Hervorbringung einer spezifizierten Abschwächung und Phasenverschiebung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 03.11.2005
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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26.04.2006
Verfahren zur Verwendung einer Einrichtung mit fokussiertem Strahl zum Extrahieren von Proben aus Werkstücken
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 17.08.2004
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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05.04.2006
Dummy-Kupfer-Entschichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 11.03.2004
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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17.08.2005
Defektanalysierer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 12.11.2003
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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15.06.2005
Fotolithographiemaskenreparatur
Optik & Fototechnik
Elektrische Energietechnik
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Status
Angemeldet am 18.09.2003
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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15.06.2005
System für Geladene Teilchenstrahlen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 18.09.2003
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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01.06.2005
Reparatur von Defekten auf Fotomasken mit einem Geladenen Teilchenstrahl und Topographische Daten aus einem Raster Sondenmikroskop
Metallurgie & Oberflächentechnik
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Status
Angemeldet am 08.08.2003
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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23.03.2005
Schichtdickenmessung mittels Inelastischer Elektronenstreuung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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22.12.2004
Probenhalter für elektronendurchstrahlten Proben
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 08.06.2004
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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20.10.2004
Elektrostatische Manipuliervorrichtung
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 10.09.2002
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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25.08.2004
Sem mit einem Sekundärelektronendetektor mit einer Zentralelektrode
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 10.12.2001
Erteilt am 25.08.2004
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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19.05.2004
Elektronenstrahlverarbeitung
Optik & Fototechnik
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Status
Angemeldet am 27.07.2002
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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21.01.2004
Schottky-Emissionskathode mit Verlängerter Lebensdauer
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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22.10.2003
Rasterelektronenmikroskop mit Einstellbarer Spannung der Letzten Elektrode im Elektrostatischen Objektiv
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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17.09.2003
Partikel-Optisches Inspektionssystem, insbesondere für Halbleiterwafer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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20.08.2003
Integriertes Messgerät
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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06.08.2003
System mit einem Fokussierten Ionenstrahl
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 17.10.2001
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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03.07.2003
Rasterelektronenmikroskop-Anordnung und Methode zur Verwendung Derselben
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 16.12.2002
Anhängig
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27.11.2002
Erfassung der Sekundärteilchen durch der Objektivlinse für Fokussierter Ionenstrahlvorrichtung
Verfahrens- & Trenntechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 08.02.2001
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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20.11.2002
Verfahren zur Erhöhung der Messinformation eines Elektronenmikroskopes und Elektronenmikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 20.02.2001
Anhängig
Vertretung
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06.09.2002
Electron beam system using multiple electron beams
Medizintechnik & Gesundheit
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Status
Angemeldet am 23.02.2002
Anhängig
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06.09.2002
Step function determination of auger peak intensity
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 25.02.2002
Anhängig
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02.05.2002
Gefaltete Anodenelemente für Ionenpumpen
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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06.03.2002
Apparat und Methode zur Veringerung der Differentiellen Sputter-Raten
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 12.03.2001
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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09.01.2002
Objektträger für ein Teilchenoptisches Gerät
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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07.11.2001
Koaxial zu einem Fokussierten Ionenstrahl Angeordnetes Optisches Mikroskop und Verfahren zu dessen Nutzung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.09.2000
Anhängig
Vertretung
Bakker, Hendrik · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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17.10.2001
Teilchenoptisches Gerät
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 04.10.2000
Anhängig
Vertretung
Cohen, Julius Simon · Eindhoven
Bakker, Hendrik · Eindhoven
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Wer vertritt FEI Company?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die FEI Company vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
Zum Anmelder-ProfilTechnologiefelder
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
679
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
299
Software & Datenverarbeitung
73
Optik & Fototechnik
50
Metallurgie & Oberflächentechnik
30
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
22
Elektrische Energietechnik
10
Elektronik & Schaltungstechnik
9
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
7
Verfahrens- & Trenntechnik
7
Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik
6
Maschinenelemente & Fluidtechnik
4