FEI Company Patente

🇺🇸 USA

US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.

882

Patente

2000–2026

Anmeldejahre

Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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882 gesamt

Anmeldejahr

Veröffentlicht	Patent	Land
30.06.2010	30.06.2010 Teilchenoptisches Gerät mit einer dauermagnetischen Linse und einer elektrostatischen Linse EP1471562 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.04.2004 Erteilt am 30.06.2010 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
23.06.2010	23.06.2010 Verfahren zur Bildung von mikroskopischen Strukturen auf einem Substrat EP2199434 Metallurgie & Oberflächentechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 19.12.2008 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
23.06.2010	23.06.2010 Verfahren zur Bildung von mikroskopischen Strukturen auf einem Substrat EP2199433 Metallurgie & Oberflächentechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 18.12.2009 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.06.2010	16.06.2010 Verfahren zur Bestimmung von Verzeichnungen in einer teilchenoptischen Vorrichtung EP2197018 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 12.12.2008 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.06.2010	16.06.2010 Hochauflösende Plasmaätzung EP2006249	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 20.06.2008 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
09.06.2010	09.06.2010 Dunkelfelddetektor zur Verwendung in einer teilchenoptischen Vorrichtung EP2194565 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 03.12.2008 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.06.2010	02.06.2010 Näherung-CVD-Beschichtungsverfahren EP1491654 Metallurgie & Oberflächentechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 21.06.2004 Erteilt am 02.06.2010 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
05.05.2010	05.05.2010 Teilchen Optisches System mit doppelter Proben-Einführmöglichkeit EP2182544 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 31.10.2008 Anhängig Vertretung DeltaPatents B.V · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
05.05.2010	05.05.2010 Optisches Ladungsträgersystem mit Doppelladungsoptionen EP2182545 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 30.10.2009 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
07.04.2010	07.04.2010 System zum Abbilden eines Probenquerschnitts EP1266392 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 14.02.2001 Erteilt am 07.04.2010 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
24.03.2010	24.03.2010 Verfahren zur Berichtigung von Verzerrungen in einer teilchenoptischen Vorrichtung EP2166557 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.09.2008 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
24.03.2010	24.03.2010 Verfahren zur Berichtigung von Verzerrungen in einer teilchenoptischen Vorrichtung EP2166556 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 21.09.2009 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
24.02.2010	24.02.2010 Methode zum Entfernen einer mikroskopischen Probe von einem Substrat EP1612836 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.06.2005 Erteilt am 24.02.2010 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
10.02.2010	10.02.2010 Verfahren zur Fertigung eines Werkstücks mit einem fokussierten Teilchenstrahl EP2151848 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.08.2008 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
10.02.2010	10.02.2010 Verfahren zur Fertigung eines Werkstücks mit einem fokussierten Teilchenstrahl EP2151847 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 06.08.2009 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
03.02.2010	03.02.2010 Verfahren zum Fräsen und zur Endpunktbestimmung einer Probe EP2149897 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 31.07.2008 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
06.01.2010	06.01.2010 Kammerinterner Elektronendetektor EP2006881 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 17.06.2008 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.12.2009	16.12.2009 Teilchenoptische Vorrichtung zum gleichzeitigen Beobachten einer Probe mit Teilchen und Photonen EP1956633 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 01.02.2008 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
09.12.2009	09.12.2009 Hybridphasenplatte EP2131385 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 05.06.2008 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
09.12.2009	09.12.2009 Probenträger zur Verwendung in einem Teilchenstrahlgerät, Verfahren zu dessen Verwendung, und dafür ausgestattetes Gerät EP1998206 Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 03.09.2007 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
09.12.2009	09.12.2009 Mit einem optischen Mikroskop ausgestattetes Teilchenstrahlgerät EP1998207 Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 30.05.2008 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.12.2009	02.12.2009 Quelle für geladene Teilchen mit integriertem Energiefilter EP2128885 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 26.05.2008 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
25.11.2009	25.11.2009 Ablenksignal-Kompensation für ein Strahl von geladenen Teilchen EP1722398 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 11.05.2006 Erteilt am 25.11.2009 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
07.10.2009	07.10.2009 Mehrstufiger Gaskaskadenverstärker EP2107591 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 31.03.2009 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.09.2009	30.09.2009 "Environmental Cell" für eine TeilchenoptischeVorrichtung EP2105944 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 28.03.2008 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.09.2009	02.09.2009 Herstellung von dreidimensionalen Strukturen EP1429368 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 19.11.2003 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.08.2009	26.08.2009 Durch die Linse Elektronenstrahlneutralisierung für Fokusierte Iononenstrahlvorrichtung EP1287543 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 16.05.2001 Erteilt am 26.08.2009 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.08.2009	26.08.2009 Verfahren zur Einstellung des Arbeitsgebietes eines Werkzeugs auf ein vorbestimmtes Element EP1764821 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 18.09.2006 Erteilt am 26.08.2009 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
19.08.2009	19.08.2009 TEM mit Aberrationskorrektor und Phasenplatte EP2091062 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.02.2008 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
12.08.2009	12.08.2009 Verfahren zum Befestigen einer Probe an einem Manipulator EP2009422 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.06.2008 Erteilt am 12.08.2009 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.07.2009	16.07.2009 Multibeam system WO2009089499 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 09.01.2009 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
01.07.2009	01.07.2009 Zweistrahlsystem EP1501115 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 01.07.2004 Erteilt am 01.07.2009 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
01.07.2009	01.07.2009 Verfahren zur Bestimmung der Aberrationskoeffizienten der Aberrationsfunktion einer teilchenoptischen Linse EP1804272 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 05.12.2006 Erteilt am 01.07.2009 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
10.06.2009	10.06.2009 Schottky-Emissionskathode mit Geringer Eingangsleistung EP1256123 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 17.10.2001 Erteilt am 10.06.2009 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Bakker, Hendrik · Eindhoven Deguelle, Wilhelmus Hendrikus Gerardus · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
27.05.2009	27.05.2009 Verfahren zum Erhalten eines Rastertransmissionsbildes einer Probe in einer teilchenoptischen Vorrichtung EP2063450 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 21.11.2007 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.05.2009	13.05.2009 Autofokussierverfahren EP2058835 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 12.11.2007 Anhängig Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
25.03.2009	25.03.2009 Verfahren zur Röntgenstrahl-Mikroanalyse mit hoher räumlicher Auflösung in einem teilchenoptischen Gerät EP1381851 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 09.04.2002 Erteilt am 25.03.2009 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
25.03.2009	25.03.2009 Manipulator zum Drehen und Verschieben eines Probenhalters EP1947675 Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 21.01.2008 Erteilt am 25.03.2009 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
18.03.2009	18.03.2009 Fokussierte Ionenstrahlen mit Vorgegebener Form und Geringer Dichte EP1210723 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 19.01.2001 Erteilt am 18.03.2009 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
14.01.2009	14.01.2009 Teilchenquelle mit wählbarem Strahlstrom und wählbarer Energiestreuung EP1566826 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 11.02.2005 Erteilt am 14.01.2009 Vertretung Bakker, Hendrik · Eindhoven Bakker, Hendrik · Eindhoven Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen