Hitachi High-Tech Corporation Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
Patente durchsuchen
3.840 gesamt| Patent | |||
|---|---|---|---|
|
07.07.2021
Automatische Analytische Vorrichtung
Verfahrens- & Trenntechnik
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 19.01.2015
Erteilt am 07.07.2021
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
01.07.2021
Analysis system, method for inspecting lamella, and charged particle beam device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 26.12.2019
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
01.07.2021
Charged particle beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 23.12.2019
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
01.07.2021
Ion milling device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 24.12.2019
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
01.07.2021
Ion milling device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 24.12.2019
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
01.07.2021
Plasma treatment method and wavelength selecting method used for plasma treatment
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
Elektronik & Schaltungstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 23.12.2019
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
01.07.2021
Defect inspecting system and defect inspecting method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
|
|||
|
Status
Angemeldet am 24.12.2019
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
01.07.2021
Plasma processing apparatus
Elektronik & Schaltungstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 23.12.2019
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
01.07.2021
Far-infrared spectroscopy device and far-infrared spectroscopy method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 27.12.2019
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
01.07.2021
Manufacturing method for component of plasma treatment device and inspection method for component
Metallurgie & Oberflächentechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 23.12.2019
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
01.07.2021
Electron source, electron beam device, and method for manufacturing electron source
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 24.12.2019
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
01.07.2021
Substrate inspection device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 24.12.2019
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
01.07.2021
Automatic analysis device
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 19.10.2020
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
30.06.2021
Verfahren für Genotypische Analysen
Pharma & Biotechnologie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 04.12.2013
Erteilt am 30.06.2021
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
30.06.2021
Automatischer Analysator
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 22.10.2014
Erteilt am 30.06.2021
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
24.06.2021
Plasma processing apparatus and method for operating plasma processing apparatus
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 17.12.2019
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
24.06.2021
Vacuum treatment device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 17.12.2019
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
24.06.2021
Molecular weight marker for electrophoresis, nucleic acid fractionation method and nucleic acid size analysis method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 20.12.2019
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
24.06.2021
Charged particle beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 16.12.2019
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
24.06.2021
Plasma treatment device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
Elektronik & Schaltungstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 18.12.2019
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
24.06.2021
Plasma processing device and wafer processing method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 20.12.2019
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
24.06.2021
Molecular complex and biopolymer analysis method
Pharma & Biotechnologie
|
|||
|
Status
Angemeldet am 18.12.2019
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
23.06.2021
Automatisierter Analysator
Verfahrens- & Trenntechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 18.01.2018
Erteilt am 23.06.2021
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
23.06.2021
Verfahren zur Herstellung eines Gekrümmten Beugungsgitters
Kunststoff- & Polymertechnik
Optik & Fototechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 30.01.2014
Erteilt am 23.06.2021
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
17.06.2021
Fluorescence detection device and fluorescence detection method
Optik & Fototechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 11.12.2019
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
17.06.2021
Incidence angle adjustment mechanism for charged particle beam diaphragm, and charged particle beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 12.12.2019
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
17.06.2021
Charged particle gun and charged particle beam device
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 13.12.2019
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
10.06.2021
Search device, search program, and plasma processing device
Software & Datenverarbeitung
|
|||
|
Status
Angemeldet am 03.12.2019
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
09.06.2021
Automatisierte Analysevorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 23.01.2017
Erteilt am 09.06.2021
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
03.06.2021
Defect inspection device and method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 28.11.2019
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
02.06.2021
Genauigkeits-Managementsystem
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 30.06.2011
Erteilt am 02.06.2021
Vertretung
Calderbank, Thomas Roger · London
Mewburn Ellis LLP · München
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
02.06.2021
Automatischer Analysator
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 25.07.2014
Erteilt am 02.06.2021
Vertretung
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
Strehl & Partner mbB · München
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
02.06.2021
Automatische Analysevorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 28.11.2011
Erteilt am 02.06.2021
Vertretung
Strehl & Partner mbB · München
Strehl Schübel-Hopf & Partner · München
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
27.05.2021
Charged particle ray system, and method to be implemented by control system of charged particle ray apparatus
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 22.11.2019
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
27.05.2021
Scanning Electron Microscrope
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 21.11.2019
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
27.05.2021
Capacity recovering method and manufacturing method for secondary battery
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 22.07.2020
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
27.05.2021
Lamellar grid and analysis system
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 20.11.2019
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
27.05.2021
Lamella fabrication method, analysis system, and sample analysis method
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 20.11.2019
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
27.05.2021
Pcr vessel, pcr vessel support device, thermal cycler, and genetic testing device
Pharma & Biotechnologie
|
|||
|
Status
Angemeldet am 22.11.2019
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
27.05.2021
Charged particle beam device and aberration correction method
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 21.11.2019
Anhängig
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
Wer vertritt Hitachi High-Tech Corporation?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Hitachi High-Tech Corporation vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
Zum Anmelder-Profil