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Hitachi High-Tech Corporation Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

3.840
Patente
2001–2025
Anmeldejahre
25
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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3.840 gesamt
Patent
03.10.2019
Charged-particle beam device
WO2019186938
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.10.2019
Scanning electron microscope and method for analyzing secondary electron spin polarization
WO2019186736
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.10.2019
High-voltage amplifier, high-voltage power supply, and mass spectrometer
WO2019187431
Halbleiter & Elektrische Bauelemente Elektronik & Schaltungstechnik
03.10.2019
Charged particle beam device
WO2019186936
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.10.2019
Charged-particle beam application device
WO2019187118
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
03.10.2019
Dispensing device and dispensing method
WO2019187996
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
02.10.2019
Vorrichtung zur Partikelbildanalyse
EP2461153
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
02.10.2019
Automatisches Analysegerät
EP2530471
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
02.10.2019
Vorrichtung für Automatische Analysen und Verfahren für Automatische Analysen
EP2562547
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
02.10.2019
Automatisches Analysegerät
EP2565629
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik
02.10.2019
Anomaliedetektionsverfahren und Vorrichtung dafür
EP2884363
Steuerungs- & Regelungstechnik
02.10.2019
Automatische Analysevorrichtung
EP3176585
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
26.09.2019
Pattern measurement device and non-transitory computer readable medium having stored therein program for executing measurement
WO2019180760
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
26.09.2019
Appearance inspection device
WO2019180899
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
26.09.2019
Electron Microscope
WO2019180904
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
26.09.2019
Scanning electron microscope and imaging method thereof
WO2019180903
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.09.2019
Charged-particle beam device and cross-sectional shape estimation program
WO2019176212
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
19.09.2019
Chromatography mass spectrometry method, and chromatograph mass spectrometry device
WO2019176658
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
19.09.2019
Biochemistry/coagulation composite-type analysis device
WO2019176297
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
18.09.2019
Automatisches Analysegerät mit Mitteln zur Hilfe der Beurteilung der Abnormalität von Reaktionsprozessdaten
EP2287620
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
18.09.2019
Automatische Analysevorrichtung
EP2647997
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
11.09.2019
Automatische Analysevorrichtung, die thermische Drift berücksichtigt
EP2667182
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
11.09.2019
Automatisiertes Probeninspektionssystem und Probenübertragungsverfahren
EP2894479
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.09.2019
Inspection device and inspection method for same
WO2019167151
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.09.2019
Defect detection device, defect detection method, and defect observation device
WO2019167129
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
06.09.2019
Ion milling device and method for adjusting ion source of ion milling device
WO2019167165
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
29.08.2019
X-ray inspection method
WO2019163136
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
28.08.2019
Automatischer Analysator und Analyseverfahren
EP2759828
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
28.08.2019
Automatische Analysevorrichtung und Deckelöffnungs-/-Schliessmechanismus
EP3264100
Verfahrens- & Trenntechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
28.08.2019
Lichtmengenerfassungsvorrichtung und Immunanalysevorrichtung und Geladene Teilchenstrahlvorrichtung damit
EP3279624
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
22.08.2019
Defect inspection device
WO2019159334
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
22.08.2019
Automated analysis device, automated analysis system, and analysis method
WO2019159626
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
21.08.2019
Automatische Analysevorrichtung, Informationsanzeigeverfahren dafür und Informationsanzeigesystem
EP2485054
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
21.08.2019
Hybride Ionenquelle, Massenspektrometer und Ionenmobilitätsvorrichtung
EP2927930
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.08.2019
Apparatus for assessing semiconductor device
WO2019155518
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.08.2019
Probe module and probe
WO2019155520
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.08.2019
Semiconductor device manufacturing method
WO2019155519
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.08.2019
Cleaning device
WO2019155540
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
14.08.2019
Reaktionsscheibenanordnung, Reaktionsscheibe und Nukleinsäureanalysevorrichtung
EP2639587
Verfahrens- & Trenntechnik Pharma & Biotechnologie
14.08.2019
Automatische Analysevorrichtung
EP2857845
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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58
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41
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29

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