Hitachi High-Tech Corporation Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

3.840

Patente

2001–2025

Anmeldejahre

Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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Anmeldejahr

Veröffentlicht	Patent	Land
18.12.2019	18.12.2019 Automatisches Analysegerät EP2333556 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 28.08.2009 Erteilt am 18.12.2019 Vertretung Strehl & Partner mbB · München Strehl Schübel-Hopf & Partner · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
18.12.2019	18.12.2019 Inspektionsvorrichtung EP3273251 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 01.02.2016 Erteilt am 18.12.2019 Vertretung Strehl & Partner mbB · München Strehl Schübel-Hopf & Partner · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
12.12.2019	12.12.2019 Spectrometer and spectrometry method WO2019234842 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 06.06.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
12.12.2019	12.12.2019 Electron beam device WO2019234787 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 04.06.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
12.12.2019	12.12.2019 Analyzer WO2019235015 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 12.03.2019 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
11.12.2019	11.12.2019 Adapter für Probenbehälter-Rack EP2327989 Verfahrens- & Trenntechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 03.09.2009 Erteilt am 11.12.2019 Vertretung Strehl Schübel-Hopf & Partner · München Strehl & Partner mbB · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
11.12.2019	11.12.2019 Automatikanalysevorrichtung EP2634586 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 25.10.2011 Erteilt am 11.12.2019 Vertretung Calderbank, Thomas Roger · London Mewburn Ellis LLP · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
11.12.2019	11.12.2019 Autoanalysegerät EP2720045 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 04.06.2012 Erteilt am 11.12.2019 Vertretung Moore, Graeme Patrick · London Mewburn Ellis LLP · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
11.12.2019	11.12.2019 Automatisierungssystem für Probenuntersuchung EP2759838 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 06.09.2012 Erteilt am 11.12.2019 Vertretung Calderbank, Thomas Roger · London Mewburn Ellis LLP · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
05.12.2019	05.12.2019 Height measurement device WO2019229826 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 29.05.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
05.12.2019	05.12.2019 Wafer inspection device and wafer inspection method WO2019229871 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 30.05.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.12.2019	04.12.2019 Automatisiertes Analysesystem EP2775307 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 23.10.2012 Erteilt am 04.12.2019 Vertretung Calderbank, Thomas Roger · London Mewburn Ellis LLP · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
28.11.2019	28.11.2019 Electron beam application device WO2019224872 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 21.05.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
28.11.2019	28.11.2019 Charged particle beam device and detector position adjustment method for charged particle beam device WO2019224896 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.05.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
28.11.2019	28.11.2019 Charged particle beam device and axis adjustment method therefor WO2019224895 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.05.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
28.11.2019	28.11.2019 Spin analysis device WO2019224919 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.05.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
27.11.2019	27.11.2019 Autoanalysegerät und Ausgabevorrichtung EP2418493 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 08.04.2010 Erteilt am 27.11.2019 Vertretung Strehl & Partner mbB · München Strehl Schübel-Hopf & Partner · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
21.11.2019	21.11.2019 Charged particle beam device, sample processing method, and observation method WO2019220543 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 15.05.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
14.11.2019	14.11.2019 Imaging device WO2019215861 Halbleiter & Elektrische Bauelemente Nachrichtentechnik & Telekommunikation	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 10.05.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
14.11.2019	14.11.2019 Multipole lens, and aberration corrector and charged particle beam device using same WO2019215893 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 10.05.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.11.2019	13.11.2019 Automatische Analysevorrichtung und Probeninspektionsautomationssystem EP3343230 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 15.06.2016 Erteilt am 13.11.2019 Vertretung Strehl & Partner mbB · München Strehl Schübel-Hopf & Partner · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
06.11.2019	06.11.2019 Massenspektrometer EP2450942 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 08.11.2011 Erteilt am 06.11.2019 Vertretung Strehl Schübel-Hopf & Partner · München Strehl & Partner mbB · München Zusammenfassung A mass spectrometer (100) of reduced size and weight is provided which is capable to conduct highly accurate mass spectroscopy. The mass spectrometer (100) includes an ion source (101) adapted to ionize gas (23) flowing in from outside in order to ionize a measurement sample (4) and a mass spectroscopy section (102) for separating the ionized measurement sample (4). The ion source (101) has its interior reduced in pressure by differential pumping from the mass spectroscopy section (102) and ionizes the gas (23) when the interior pressure rises as it inhales the gas (23), and the mass spectroscopy section (102) separates the ionized measurement sample (4) when its interior pressure falls after inhale of the gas (23). The mass spectrometer (100) may further include a restriction device (9) for suppressing a flow rate of the gas (23) the ion source (101) inhales and an open/close device (8), e.g. a pulse valve, for opening and closing a flow of the gas (23) the ion source (101) inhales. Alle Patent-Informationen
06.11.2019	06.11.2019 Probenbearbeitungssystem EP2626707 Verpackungs- & Fördertechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 30.09.2011 Erteilt am 06.11.2019 Vertretung Beetz & Partner mbB · München Beetz & Partner · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
31.10.2019	31.10.2019 Method for determining impingement conditions for charged particle beam device and charged particle beam device WO2019207668 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 25.04.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
31.10.2019	31.10.2019 Charged particle beam device WO2019207707 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 26.04.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
31.10.2019	31.10.2019 Substrate for nucleic acid analysis and flow cell for nucleic acid analysis WO2019207669 Pharma & Biotechnologie	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 25.04.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.10.2019	30.10.2019 Probenverarbeitungsvorrichtung EP2515121 Verfahrens- & Trenntechnik Pharma & Biotechnologie	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 08.12.2010 Erteilt am 30.10.2019 Vertretung Buchetmann, Dominik · München Strehl & Partner mbB · München Strehl Schübel-Hopf & Partner · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.10.2019	30.10.2019 Massenspektrometer und Massenspektrometrieverfahren EP2642509 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 17.11.2011 Erteilt am 30.10.2019 Vertretung Strehl & Partner mbB · München Strehl Schübel-Hopf & Partner · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.10.2019	30.10.2019 Probenverarbeitungssystem und Verarbeitungverfahren für ein Zentrifugensystem EP2857822 Verfahrens- & Trenntechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 24.05.2013 Erteilt am 30.10.2019 Vertretung Calderbank, Thomas Roger · London Mewburn Ellis LLP · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
24.10.2019	24.10.2019 Microscope slide, method for manufacturing microscope slide, observation method, and analysis method WO2019202650 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 17.04.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
23.10.2019	23.10.2019 Vorrichtung für Automatisierte Analysen und Verfahren für Automatisierte Analysen EP2587251 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 15.06.2011 Erteilt am 23.10.2019 Vertretung Calderbank, Thomas Roger · London Mewburn Ellis LLP · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
23.10.2019	23.10.2019 Vorrichtung zur Empfindlichkeitsmessung und Inspektionsvorrichtung EP3287515 Pharma & Biotechnologie Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 28.03.2016 Erteilt am 23.10.2019 Vertretung Strehl & Partner mbB · München Strehl Schübel-Hopf & Partner · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
23.10.2019	23.10.2019 Automatisierter Analysator EP3557264 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.11.2017 Anhängig Vertretung MERH-IP Matias Erny Reichl Hoffmann Patentanwälte PartG mbB · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
17.10.2019	17.10.2019 Examination device WO2019198201 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 12.04.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
17.10.2019	17.10.2019 Automatic analysis device WO2019198345 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 20.02.2019 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
10.10.2019	10.10.2019 Electron Microscope WO2019193624 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 02.04.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
10.10.2019	10.10.2019 Electron microscope device, inspection system using electron microscope device, and inspection method using electron microscope device WO2019194304 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 05.04.2019 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
10.10.2019	10.10.2019 Temperature control device and genetic testing device WO2019193806 Pharma & Biotechnologie Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 15.01.2019 Anhängig Vertretung Habermann, Hruschka & Schnabel · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
10.10.2019	10.10.2019 Scanning electron microscope system and depth measurement method for pattern WO2019194305 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 05.04.2019 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
03.10.2019	03.10.2019 Charged-particle beam device WO2019186937 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 29.03.2018 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen