Hitachi High-Tech Corporation Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

3.840

Patente

2001–2025

Anmeldejahre

Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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Anmeldejahr

Veröffentlicht	Patent	Land
07.05.2015	07.05.2015 Charged particle beam device WO2015064691 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 30.10.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
07.05.2015	07.05.2015 Charged-particle-beam device and program recording medium WO2015064399 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 20.10.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
06.05.2015	06.05.2015 Automatisiertes Analysegerät EP2068154 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 25.11.2008 Anhängig Vertretung Strehl & Partner mbB · München Strehl Schübel-Hopf & Partner · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.04.2015	30.04.2015 Electron Microscope WO2015060049 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 19.09.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.04.2015	30.04.2015 Abnormality detection device, abnormality detection method, and computer-readable storage medium WO2015060273 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 21.10.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.04.2015	30.04.2015 Automatic analysis device WO2015060316 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 21.10.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
29.04.2015	29.04.2015 Vorrichtung für Geladene Teilchenstrahlen und Darin Angewendetes Verfahren zur Messung Geometrischer Abweichungen EP2328168 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 05.08.2009 Erteilt am 29.04.2015 Vertretung Strehl & Partner mbB · München Strehl Schübel-Hopf & Partner · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
23.04.2015	23.04.2015 System for automating specimen inspection, capacity checking module, and method for checking biological sample WO2015056649 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 10.10.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.04.2015	16.04.2015 Electron Microscope WO2015053300 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 08.10.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.04.2015	16.04.2015 Charged particle beam device and sample holder for charged particle beam device WO2015053020 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 05.09.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.04.2015	16.04.2015 Ion beam device and emitter tip adjustment method WO2015053301 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 08.10.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.04.2015	16.04.2015 Nucleic-acid-sequence determination device and nucleic-acid-sequence determination method WO2015053144 Pharma & Biotechnologie Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 01.10.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.04.2015	16.04.2015 Charged particle device WO2015053209 Maschinenelemente & Fluidtechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 06.10.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.04.2015	16.04.2015 Charged particle beam device and charged particle beam device control method WO2015053262 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.10.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
09.04.2015	09.04.2015 Charged particle beam inclination correction method and charged particle beam device WO2015050201 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 02.10.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
09.04.2015	09.04.2015 Biomolecule measuring device WO2015050225 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 02.10.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
09.04.2015	09.04.2015 Charged particle beam device and method for setting correction filter thereof WO2015050157 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 01.10.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
08.04.2015	08.04.2015 Transmissions-Rasterelektronenmikroskop und Achseneinstellungsverfahren dafür EP2600379 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 11.07.2011 Erteilt am 08.04.2015 Vertretung Moore, Graeme Patrick · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.04.2015	02.04.2015 Charged particle beam device WO2015045498 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 11.06.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.04.2015	02.04.2015 Sample holder and charged particle device WO2015045477 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 19.05.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.04.2015	02.04.2015 Automatic analysis device WO2015045461 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 21.04.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.04.2015	02.04.2015 Electron Microscope WO2015045443 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 14.03.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.04.2015	02.04.2015 Infrared inspection device and infrared inspection method WO2015045751 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 02.09.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.04.2015	02.04.2015 Electron Microscope WO2015045476 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 16.05.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.04.2015	02.04.2015 Fluorescence detection device and fluorescence detection method WO2015045586 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 18.07.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.04.2015	02.04.2015 Charged particle beam device WO2015045468 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 02.05.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.04.2015	02.04.2015 Lithium-ion secondary battery manufacturing method, lithium-ion secondary battery manufacturing device, and lithium-ion secondary battery WO2015045533 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 26.06.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
01.04.2015	01.04.2015 Verfahren für die Kapillarelektrophorese EP1367388 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 28.05.2003 Erteilt am 01.04.2015 Vertretung Strehl & Partner mbB · München Strehl Schübel-Hopf & Partner · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.03.2015	26.03.2015 Charged-particle-beam device WO2015040906 Steuerungs- & Regelungstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 18.06.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.03.2015	26.03.2015 Biomolecule measuring device WO2015040930 Pharma & Biotechnologie Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 02.07.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.03.2015	26.03.2015 Defect viewing device and defect viewing method WO2015040894 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 30.05.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.03.2015	26.03.2015 Anti-contamination trap, and vacuum application device WO2015041267 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 18.09.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
19.03.2015	19.03.2015 Charged particle beam device, sample observation method for charged particle beam device, and display control program for charged particle beam device WO2015037157 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.09.2013 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
19.03.2015	19.03.2015 Charged particle beam device and charged particle beam measurement method WO2015037285 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 30.05.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
19.03.2015	19.03.2015 Electrophoresis medium receptacle, and electrophoresis apparatus WO2015037308 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 30.06.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
19.03.2015	19.03.2015 Electron-microscope configuration system WO2015037358 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 31.07.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
19.03.2015	19.03.2015 Charged particle beam device WO2015037277 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 19.05.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
19.03.2015	19.03.2015 Scanning transmission electron microscope and aberration measurement method therefor WO2015037313 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.07.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
12.03.2015	12.03.2015 Hybrid ion source and mass spectrometric device WO2015033663 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 09.07.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
12.03.2015	12.03.2015 Charged particle beam apparatus and sample image acquiring method WO2015033601 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 10.03.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen