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Hitachi High-Tech Corporation Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

3.840
Patente
2001–2025
Anmeldejahre
25
Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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3.840 gesamt
Patent
11.03.2015
System zur Überwachung der Orientierung einer Reagenzflasche in einer chemischen Analysevorrichtung
EP1503214
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
11.03.2015
Übertragungselektronenmikroskop und Verfahren zur Beobachtung einer Probe
EP2273528
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.03.2015
Nucleic acid analysis device and device diagnosis method
WO2015029595
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
26.02.2015
Container for inspection and inspection device
WO2015025633
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
26.02.2015
Diaphragm mounting member and charged particle beam device
WO2015025545
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
26.02.2015
Analysis device and analysis method
WO2015025610
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
19.02.2015
Charged particle beam device having a function cancelling mode and a function expanding mode
WO2015022793
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
12.02.2015
Charged particle beam device comprising nanochip and gas supply mechanism
WO2015019665
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
11.02.2015
Automatische Analysevorrichtung
EP2835649
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.02.2015
Charged particle beam device, and charged particle beam device operation display method
WO2015015853
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.02.2015
Charged particle beam device and aberration measurement method in charged particle beam device
WO2015015985
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.02.2015
Mass Spectrometer
WO2015015965
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.02.2015
Ion milling device and processing method using the ion milling device
WO2015016039
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.02.2015
Charged particle beam apparatus
WO2015015957
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.02.2015
Measurement device and measurement method
WO2015015898
Pharma & Biotechnologie Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
05.02.2015
Scanning Electron Microscope
WO2015016040
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
05.02.2015
Flow cell for nucleic acid analysis and nucleic acid analyzer
WO2015015913
Pharma & Biotechnologie Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
29.01.2015
Charged particle beam apparatus
WO2015011967
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
29.01.2015
Charged particle beam device enabling facilitated ebsd detector analysis of desired position and control method thereof
WO2015011975
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
29.01.2015
Pattern dimension measurement method and device
WO2015011974
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
29.01.2015
Inspection device
WO2015011968
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.01.2015
Nucleic acid amplification/detection device and nucleic acid inspection device using same
WO2015005078
Pharma & Biotechnologie
15.01.2015
Electron gun and electron microscope
WO2015004981
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
15.01.2015
Capillary electrophoresis device
WO2015005048
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
08.01.2015
Interference measurement method and device
WO2015001918
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
08.01.2015
Mass spectrometric device and mass spectrometric device control method
WO2015001881
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
31.12.2014
Measurement device
WO2014208257
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
31.12.2014
Wafer appearance inspection device
WO2014208193
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung
31.12.2014
Analysis device
WO2014208184
Pharma & Biotechnologie Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
31.12.2014
Mass spectrometric method
WO2014208336
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
31.12.2014
Pattern shape evaluation device and method
WO2014208202
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
31.12.2014
Ion milling device
WO2014208307
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
31.12.2014
Template creation device for sample observation device, and sample observation device
WO2014208216
Software & Datenverarbeitung Halbleiter & Elektrische Bauelemente
31.12.2014
Method for determining cell state and autoanalyzer using said method
WO2014208391
Pharma & Biotechnologie
24.12.2014
Elektrolumineszenzverfahren zur Erkennung eines Analyts in einer Flüssigkeitsprobe und Analysesystem
EP2816345
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
24.12.2014
Mixing vessel and analysis device using same
WO2014203761
Verpackungs- & Fördertechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
18.12.2014
Method and device for line pattern shape evaluation
WO2014199820
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
18.12.2014
Infrared inspection device
WO2014199869
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
18.12.2014
Ion milling device
WO2014199737
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente
18.12.2014
Charged particle radiation device and adjustment method for charged particle radiation device
WO2014199709
Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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92
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58
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41
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