Hitachi High-Tech Corporation Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

3.840

Patente

2001–2025

Anmeldejahre

Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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Anmeldejahr

Veröffentlicht	Patent	Land
18.12.2014	18.12.2014 Adsorbent and analysis method using same WO2014199746 Verfahrens- & Trenntechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.05.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
11.12.2014	11.12.2014 Ion source and ion milling apparatus WO2014196262 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.04.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
11.12.2014	11.12.2014 Specimen pre-processing device system building assistance tool and system information building tool WO2014196342 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 19.05.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
10.12.2014	10.12.2014 Teilchenstrahlgerät mit Dunkelfelddetektor EP2560185 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 29.01.2004 Erteilt am 10.12.2014 Vertretung Strehl & Partner mbB · München Strehl Schübel-Hopf & Partner · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.12.2014	04.12.2014 Charged particle beam device WO2014192379 Halbleiter & Elektrische Bauelemente Elektronik & Schaltungstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 19.03.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.12.2014	04.12.2014 Electron microscope and electron microscope control method WO2014192465 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.04.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.12.2014	04.12.2014 Charged-particle-beam device and specimen observation method WO2014192361 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 12.03.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
27.11.2014	27.11.2014 Nucleic acid analyzer and nucleic acid analysis method using same WO2014188887 Pharma & Biotechnologie	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 09.05.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
27.11.2014	27.11.2014 Charged particle beam application device WO2014188882 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 08.05.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
20.11.2014	20.11.2014 Signal pulse detection device, mass spectrometer, and signal pulse detection method WO2014185214 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 17.04.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.11.2014	13.11.2014 Superimposition measurement device, superimposition measurement method, and superimposition measurement system WO2014181577 Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 10.03.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.11.2014	13.11.2014 Charged particle beam device WO2014181685 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 23.04.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.11.2014	13.11.2014 Electrolyte concentration measuring apparatus and measuring method using same WO2014181632 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 10.04.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
05.11.2014	05.11.2014 Automatische Analysevorrichtung EP2799888 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.11.2012 Anhängig Vertretung Calderbank, Thomas Roger · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.10.2014	30.10.2014 Plasma treatment method WO2014174650 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 26.04.2013 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.10.2014	30.10.2014 Electron gun, charged particle gun, and charged particle beam apparatus using electron gun and charged particle gun WO2014175087 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 14.04.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.10.2014	30.10.2014 Automatic analysis device WO2014175018 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 01.04.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.10.2014	30.10.2014 Charged particle radiation device and specimen preparation method using said device WO2014175074 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 11.04.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.10.2014	30.10.2014 Sample observation device WO2014175150 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 17.04.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
23.10.2014	23.10.2014 Measuring method and measuring device WO2014171350 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 04.04.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
23.10.2014	23.10.2014 Analysis system WO2014171390 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 10.04.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
23.10.2014	23.10.2014 Charged-particle-beam device WO2014171287 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.03.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.10.2014	16.10.2014 Charged particle beam apparatus and filter member WO2014167919 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 05.03.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
09.10.2014	09.10.2014 Electronic microscope and sample observation method WO2014162901 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 20.03.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.10.2014	02.10.2014 Method for manufacturing and device for manufacturing lithium ion battery WO2014155808 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 06.11.2013 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.10.2014	02.10.2014 Heat-assisted magnetic head inspection device and heat-assisted magnetic head inspection method WO2014156247 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.01.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.10.2014	02.10.2014 Defect inspection method and defect inspection device WO2014156262 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.01.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.10.2014	02.10.2014 Displacement measurement device and displacement measurement system WO2014156436 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 25.02.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
01.10.2014	01.10.2014 Elektronenstrahlvorrichtung und Probenhalter für die Elektronenstrahlvorrichtung EP2398036 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 20.01.2010 Erteilt am 01.10.2014 Vertretung Strehl & Partner mbB · München Strehl Schübel-Hopf & Partner · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
25.09.2014	25.09.2014 Liquid feeder and chemical analyzer including same WO2014148117 Verfahrens- & Trenntechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 30.01.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
24.09.2014	24.09.2014 Bilderzeugungsverfahren und Elektronenmikroskop EP1970936 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 14.03.2008 Anhängig Vertretung Strehl & Partner mbB · München Strehl Schübel-Hopf & Partner · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
18.09.2014	18.09.2014 Charged particle radiation apparatus WO2014141775 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 05.02.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
18.09.2014	18.09.2014 Mass spectrometry system and method WO2014141756 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 24.01.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
18.09.2014	18.09.2014 Defect inspection method and device using same WO2014141739 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 20.01.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
10.09.2014	10.09.2014 Elektronenmikroskop EP2333809 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 10.07.2009 Erteilt am 10.09.2014 Vertretung Strehl & Partner mbB · München Strehl Schübel-Hopf & Partner · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.09.2014	04.09.2014 Interaction analysis device WO2014132717 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.01.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.09.2014	04.09.2014 Charged particle beam device WO2014132757 Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 05.02.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.09.2014	04.09.2014 Radiation Image Sensor WO2014132728 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 29.01.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.09.2014	04.09.2014 Orbitron pump and electron beam device using orbitron pump WO2014132758 Energie- & Antriebstechnik (Kraftmaschinen) Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 05.02.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
28.08.2014	28.08.2014 Pattern-measuring apparatus and semiconductor-measuring system WO2014129307 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 05.02.2014 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen