Advantest Patente
🇯🇵 Japan
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
Patente durchsuchen
610 gesamt| Patent | |||
|---|---|---|---|
|
19.05.2004
Messungssteuervorrichtung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
16.07.2003
Anzeigevorrichtung zur Anzeige physikalischen Grösse von mehreren Signalen, Verfahren und Aufzeichnungsmedium
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
|
|||
|
Status
Angemeldet am 07.08.2001
Anhängig
Vertretung
Hess, Peter K. G · München
Hess, Peter K., Dipl.-Phys · München
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
14.05.2003
Vorrichtung und Verfahren zur Messung Optischer Kenngrössen, Aufzeichnungsmedium
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 01.06.2001
Anhängig
Vertretung
Hess, Peter K. G · München
Hess, Peter K., Dipl.-Phys · München
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
22.01.2003
Vorrichtung, Verfahren und Programm zum Kommunikationstest und Speichermedium, auf dem das Programm Gespeichert Wurde
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
|
|||
|
Status
Angemeldet am 26.03.2001
Anhängig
Vertretung
Lorenz, Werner · Heidenheim
Lorenz, Werner · Heidenheim
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
20.11.2002
Geräteauthentifizierungsvorrichtung und Verfahren und Aufzeichnungsmedium, auf dem das Geräteauthentifizierungsprogramm Aufgezeichnet Wird
Software & Datenverarbeitung
Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 24.01.2001
Anhängig
Vertretung
Lorenz, Werner · Heidenheim
Lorenz, Werner · Heidenheim
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
26.06.2002
Gerät und Verfahren zur Messung von Bitfehlern
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
|
|||
|
Status
Angemeldet am 06.10.2000
Anhängig
Vertretung
Hoffmann, Eckart, Dipl.-Ing · Gräfelfing
MERH-IP Matias Erny Reichl Hoffmann · München
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
08.05.2002
Beobachtungsvorrichtung und Verfahren für Radiohologramme
Optik & Fototechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 19.04.2000
Anhängig
Vertretung
Hoffmann, Eckart, Dipl.-Ing · Gräfelfing
MERH-IP Matias Erny Reichl Hoffmann · München
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
27.03.2002
Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Verteilung eines Feldes.
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
|
|||
|
Status
Angemeldet am 19.04.2001
Anhängig
Vertretung
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
06.03.2002
Herstellungsmethode einer Halbleiter-Integrierten Schaltung mit Mehrlagen-Verdrahtungsstruktur
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
|
|||
|
Status
Angemeldet am 22.02.2001
Anhängig
Vertretung
Hoffmann, Eckart, Dipl.-Ing · Gräfelfing
MERH-IP Matias Erny Reichl Hoffmann · München
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
|
05.09.2001
Verfahren und Apparat zur Messung einer optischen Transfercharakteristik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
|
|||
|
Status
Angemeldet am 06.01.2000
Anhängig
Vertretung
Hoffmann, Eckart, Dipl.-Ing · Gräfelfing
MERH-IP Matias Erny Reichl Hoffmann · München
Zusammenfassung
Zusammenfassung wird geladen … |
|||
Wer vertritt Advantest?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Advantest vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
Zum Anmelder-Profil