Advantest Patente

🇯🇵 Japan

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

1.227

Patente

2000–2026

Anmeldejahre

Aktive Jahre

Patente nach Anmeldejahr

Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.

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Anmeldejahr

Veröffentlicht	Patent	Land
08.10.2009	08.10.2009 Test module, test device, and test method WO2009122701 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.03.2009 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
01.10.2009	01.10.2009 Socket guide, socket unit, electronic component test apparatus, and method of controlling socket temperature WO2009118855 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 27.03.2008 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
01.10.2009	01.10.2009 Measuring apparatus, parallel measuring apparatus, testing apparatus, and electronic device WO2009119076 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 24.03.2009 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
01.10.2009	01.10.2009 Operation deviation reporting device and operation deviation reporting method WO2009119032 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.03.2009 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.09.2009	30.09.2009 Kalibriervorrichtung, Testvorrichtung und Kalibrierverfahren EP1990644 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 08.09.2004 Anhängig Vertretung Hoffmann, Eckart, Dipl.-Ing · Gräfelfing MERH-IP Matias Erny Reichl Hoffmann Patentanwälte PartG mbB · München MERH-IP Matias Erny Reichl Hoffmann · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
24.09.2009	24.09.2009 Tray conveying device and electronic part test device with the same WO2009116165 Verpackungs- & Fördertechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 21.03.2008 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
24.09.2009	24.09.2009 Test device, demodulation device, test method, demodulation method, and electronic device WO2009116238 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 04.03.2009 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
17.09.2009	17.09.2009 Device for measuring pattern length and method for measuring pattern length WO2009113149 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 10.03.2008 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
17.09.2009	17.09.2009 Multi-column electron beam photolithography system WO2009113169 Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 13.03.2008 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
03.09.2009	03.09.2009 Electronic component transfer apparatus, and electronic component test equipment equipped with the same WO2009107231 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 29.02.2008 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
27.08.2009	27.08.2009 Method for correcting traveling error of tray transfer device and program for correction WO2009104247 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 19.02.2008 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
27.08.2009	27.08.2009 Method for transferring electronic component and control program for executing the same WO2009104267 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 21.02.2008 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
27.08.2009	27.08.2009 Digital modulation signal test device, digital modulator, digital demodulator, and semiconductor device using the devices WO2009104420 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 20.02.2009 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
27.08.2009	27.08.2009 Ring Oscillator WO2009104358 Halbleiter & Elektrische Bauelemente Elektronik & Schaltungstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 30.01.2009 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
26.08.2009	26.08.2009 Testeinrichtung und Testmodul EP2093579 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 15.11.2007 Anhängig Vertretung Pfenning, Meinig & Partner mbB · Dresden Pfenning, Meinig & Partner GbR · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
20.08.2009	20.08.2009 Match plate base portion and body portion, electronic component handling device, and jig and method for exchanging match plate body portion and test portion unit WO2009101706 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 15.02.2008 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
19.08.2009	19.08.2009 Datalog-Support in einem Modularen Testsystem EP1756604 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 23.05.2005 Erteilt am 19.08.2009 Vertretung Nicholls, Michael John · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
13.08.2009	13.08.2009 Variety exchanging unit, and manufacturing method WO2009098770 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 07.02.2008 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
12.08.2009	12.08.2009 Unterstützung von Kalibration und Diagnose in einem Testsystem mit Offener Architektur EP1756606 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 23.05.2005 Erteilt am 12.08.2009 Vertretung Nicholls, Michael John · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
06.08.2009	06.08.2009 Electronic component handling apparatus and method for detecting position of electronic component WO2009096119 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.12.2008 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
05.08.2009	05.08.2009 Verfahren und System zur Steuerung Wechselbarer Komponenten in einem Modularen Testsystem EP1756603 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 23.05.2005 Erteilt am 05.08.2009 Vertretung Nicholls, Michael John · London Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.07.2009	30.07.2009 Memory testing device and testing method WO2009093281 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Akustik, Musik & Datenspeicherung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 22.01.2008 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.07.2009	30.07.2009 Electronic component testing method and electronic component testing device WO2009093323 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 24.01.2008 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
30.07.2009	30.07.2009 Testing apparatus WO2009093293 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 10.12.2008 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
29.07.2009	29.07.2009 Testeinrichtung und Testverfahren EP1884789 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 24.03.2004 Erteilt am 29.07.2009 Vertretung Pfenning, Meinig & Partner mbB · Dresden Pfenning, Meinig & Partner GbR · München Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
23.07.2009	23.07.2009 Power supply circuit and testing apparatus WO2009090826 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Steuerungs- & Regelungstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 17.12.2008 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
22.07.2009	22.07.2009 Zeilenbreiten-Messeinstellungsverfahren und Rasterelektronenmikroskop EP1840538 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 20.03.2007 Anhängig Vertretung Tetzner, Michael · München Tetzner & Partner mbB Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
16.07.2009	16.07.2009 Testing apparatus, probe card and testing method WO2009087874 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 17.12.2008 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
09.07.2009	09.07.2009 Semiconductor test apparatus WO2009084108 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 28.12.2007 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.07.2009	02.07.2009 Test apparatus and measurement device WO2009081522 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 28.11.2008 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
02.07.2009	02.07.2009 Frequency characteristics measuring device WO2009081780 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 15.12.2008 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
25.06.2009	25.06.2009 Connector holding device, interface device equipped with the same and electronic component testing device WO2009078085 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 14.12.2007 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
25.06.2009	25.06.2009 Test apparatus WO2009078135 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 04.12.2008 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
18.06.2009	18.06.2009 Jitter application circuit and test device WO2009075078 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 04.12.2008 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
18.06.2009	18.06.2009 Testing apparatus, testing method, measuring apparatus and measuring method WO2009075091 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 08.12.2008 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
11.06.2009	11.06.2009 Delay circuit, multi-stage delay circuit, time digital converter using them, semiconductor test device, ring oscillator, and delay lock loop circuit WO2009072268 Elektronik & Schaltungstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 02.12.2008 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
11.06.2009	11.06.2009 Testing apparatus, and calibration method WO2009072509 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 03.12.2008 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.06.2009	04.06.2009 Insert, tray and electronic component testing apparatus WO2009069190 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 26.11.2007 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.06.2009	04.06.2009 Insert, tray and electronic component testing apparatus WO2009069189 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 26.11.2007 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen
04.06.2009	04.06.2009 Short-circuit wiring fixture, method for measuring skew, and method for adjusting skew WO2009069209 Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik	🇪🇺 Europa
Status Angemeldet am 29.11.2007 Anhängig Zusammenfassung Zusammenfassung wird geladen … Alle Patent-Informationen