Applied Materials Patente
🇺🇸 USA
US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.
Patente nach Anmeldejahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung.
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6.825 gesamt| Patent | |||
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17.04.2002
Apparat für die Bearbeitung von Halbleiteranordungen
Metallurgie & Oberflächentechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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11.04.2002
Verfahren und Vorrichtung zur Verbesserten Inspektion von Eingebetteten Substraten mittels Erfassung der Prozessdaten und Techniken zur Substratabbildung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 05.10.2001
Anhängig
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11.04.2002
Liquid level sensor and liquid storage container
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 03.10.2001
Anhängig
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11.04.2002
Prozess-Endpunkt-Erfassung mittels Beobachtung der Ausgangsdatenfluktuation
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 01.10.2001
Anhängig
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11.04.2002
Vorrichtung und Verfahren zum Reinigen der Ränder von einem Halbleitersubstrat
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 01.10.2001
Anhängig
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11.04.2002
Systemarchitektur für eine Vorrichtung zum Herstellen von Halbleitern
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 27.09.2001
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11.04.2002
Optische Signalleitungsmethode und Apparat mit Vielen Inspektionssammelpunkten in Halbleiterfertigungssystem
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 04.10.2001
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11.04.2002
Methode und Apparat zur Substrat-Oberflächeninspektion mittels Spektralprofiltechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 05.10.2001
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11.04.2002
Verfahren und Vorrichtung zur Prozessüberwachung von Eingebetteten Substraten durch Gemeinsame Anwendung von mehreren Prozessüberwachungsverfahren
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 05.10.2001
Anhängig
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11.04.2002
Verfahren und Vorrichtung zur Automatisierten Prozessüberwachung und Hierarchische Substratsprüfung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 05.10.2001
Anhängig
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11.04.2002
Verfahren und Vorrichtung zur Überwachung eines Eingebetteten Substrates und des Zustandes eines Systems
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 04.10.2001
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10.04.2002
Bearbeitungsvorrichtung und Bearbeitungskammer mit Verbessertem Fluss von Prozessfluiden
Verfahrens- & Trenntechnik
Metallurgie & Oberflächentechnik
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Status
Angemeldet am 13.04.2000
Anhängig
Vertretung
Stainthorpe, Vanessa Juliet · Sheffield
Hirsch, Peter · München
Zimmermann & Partner Patentanwälte mbB · München
Zimmermann & Partner · München
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10.04.2002
Auf Fluor Basierende Plasmaätzmethode für das Anisotrope Ätzen von Siliziumsubstraten mit Grosser Offener Oberfläche
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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10.04.2002
Duschkopf zur Verteilung von Prozessgasen für Halbleiterbehandlungskammer
Metallurgie & Oberflächentechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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10.04.2002
Deckelanordnung für eine Halbleiterbehandlungskammer
Metallurgie & Oberflächentechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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04.04.2002
Prozesskammerdeckel
Verfahrens- & Trenntechnik
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Status
Angemeldet am 25.09.2001
Anhängig
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04.04.2002
Servicesystem für Prozesskammerdeckel
Metallurgie & Oberflächentechnik
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Status
Angemeldet am 26.09.2001
Anhängig
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03.04.2002
Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung des Profils der Aktiven Dotierung in Eienm Halbleiterwafer
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Status
Angemeldet am 20.03.2000
Anhängig
Vertretung
Kirschner, Klaus Dieter · München
Kirschner, Klaus Dieter · München
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28.03.2002
Ionenquelle mit Magnetischer Vorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.08.2001
Anhängig
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28.03.2002
Verfahren und Vorrichtung zur Ausrichtung von Trägern und Halbleiterbearbeitungsvorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 20.09.2001
Anhängig
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28.03.2002
Verfahren zum Trockenätzen des Oberfläche eines Halbleitersubstrats
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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27.03.2002
Verfahren und Vorrichtung zur Überprüfung von Artikeln durch Vergleich mit einem Master
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 16.05.2000
Anhängig
Vertretung
Zimmermann & Partner Patentanwälte mbB · München
Zimmermann & Partner · München
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27.03.2002
Zwei-Dimensionale Streungsdiagrammtechniek für Defektinspektion
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 02.08.2000
Anhängig
Vertretung
Zimmermann & Partner Patentanwälte mbB · München
Zimmermann & Partner · München
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21.03.2002
Mikrofabrizierte Öffnungen in Siliziumblöcken zum Transfer Elektronischer Signale zur Halbleiterscheiben-Rückseite
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 23.08.2001
Anhängig
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21.03.2002
Processing chamber with multi-layer brazed lid
Elektronik & Schaltungstechnik
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Status
Angemeldet am 12.09.2001
Anhängig
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21.03.2002
Modulare Plattierungszelle für Elektrochemische Plattierung
Metallurgie & Oberflächentechnik
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Status
Angemeldet am 13.09.2001
Anhängig
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21.03.2002
Lamp array for thermal processing chamber
Heiz-, Kühl- & Beleuchtungstechnik
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Status
Angemeldet am 11.09.2001
Anhängig
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21.03.2002
Bi-directional processing chamber and method for bi-directional processing of semiconductor substrates
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 11.09.2001
Anhängig
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21.03.2002
Wolframkammer mit Stationärer Heizungsvorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 12.09.2001
Anhängig
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14.03.2002
Vorrichtung und Verfahren zum Aufbringen von Werkstoffen Hoher Dielektrizitätskonstante und von Hieran Angepassten Leitenden Werkstoffen
Metallurgie & Oberflächentechnik
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Status
Angemeldet am 15.06.2001
Anhängig
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14.03.2002
Verfahren zur Initialisierung eines Kupfer Cmp-Prozesses
Farben, Klebstoffe & Brennstoffe
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Status
Angemeldet am 24.08.2001
Anhängig
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14.03.2002
Verfahren zur Herstellung von Titannitridschichten (tin) mittels Metallorganischer Chemischer Dampfphasenabscheidung (mocvd)
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 05.09.2001
Anhängig
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14.03.2002
System, Verfahren und Vorrichtung zur Palettenbestimmung, um eine Applikationsprogrammschnittstelle für einen Dienst Umzuwandeln
Software & Datenverarbeitung
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Status
Angemeldet am 05.09.2001
Anhängig
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14.03.2002
Wafer Carrier
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 07.09.2001
Anhängig
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14.03.2002
Segmentierung von einem Verarbeitungssystem in Nassen und Trockenen Gebieten
Metallurgie & Oberflächentechnik
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Status
Angemeldet am 10.09.2001
Anhängig
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14.03.2002
Chemical vapor deposition of tantalum oxide using oxygen-free liquid precursors
Metallurgie & Oberflächentechnik
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Status
Angemeldet am 07.09.2001
Anhängig
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13.03.2002
Mehrzone Widerstandsheizung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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13.03.2002
Verwendung von Monosilan als Spül- und Reinigungsmittel bei Abscheidungsverfahren
Metallurgie & Oberflächentechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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13.03.2002
Verfahren und Vorrichtung zur Optischen Inspektion unter Verwendung einer Struktur mit Variabelem Winkel
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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07.03.2002
Formschlüssig Kodierte Waferhebevorrichtung
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Angemeldet am 30.08.2001
Anhängig
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Wer vertritt Applied Materials?
Die Kanzleien und Patentanwälte, die Applied Materials vertreten, sowie alle Technologiefelder im vollständigen Anmelder-Profil.
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